Способ определения интенсивности флуктуацииионов

 

О П И С А Н И Е 305399

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства;9

Заявлено 21 Vll.1969 (№ 1350598/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 04.VI.1971. Бюллетень № 18

Дата опубликования описания 15Л 11.1971

МПК 6 Оlп 27/ 14

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 543.257.5(088,8) Автор изобретения

11т „

Б1я"=

i- (—: г..г 1. -с..

В. К. Ткач

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕН ИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ФЛУКТУАЦИЙ

ИОНОВ

Изобретение предназначено для определения интенсивности флуктуаций ионов в жидких электропроводящих растворах, находящихся в состоянии термодинамического неравновесия, создаваемого путем нагрева и последующего охлаждения раствора до исходной температуры.

Изобретение может быть применено в физических, физико-химических, биологических и медицинских исследованиях в тех случаях, когда возникает необходимость в коли гсственном определении интенсивности флуктуаций ионов в определенном интервале температур, как средство изучения структурных и ряда других свойств электропроводящнх жидких растворов.

Выражение для среднеквадратичного отклонения частицы за интервал времени Лт и

ЛХ2= т1 —" Л-.

З-.,а где и — вязкость раствора;

҄— температура, соответствукгщая на алу процесса охлаждения;

lг — постоянная Больцмана; а — радиус иона; пг — скорость охлаждения раствора, сравнивают с выражением для электропроводности раствора

--, =- -,11 — 8(7, — т)1, |де P — температурный коэффициент элсктропроводности;

G- — конечное значение электропроводности; бо — начальное значение электропроводности.

В результате находят соотношение между электропроводностью раствора и среднеквад,ратнчшым отклонением ионов

11з последнего уравнения можно сделать вывод, что величина высокочастотной элект15 ропроводности раствора в процессе его охлаждения убывает пе строго по экспоненте, а будет отклоняться относительно некоторых средних значений. Интенсивность этих флуктуаций будет пропорциональна квадрату смещения ионов Лх - для каждого момента времени процесса охлаждения и соответствующей ему температуре.

Подлежащий исследовашпо электропрово25 дящий раствор помещается в измерительную ячейку емкостного типа, пзготonëånnó о из плавленного кварца. На ее внешней поверхности укрепляются электроды из листовой меди или латуни. Конструкция ячейки схемати30 чески изображе»а на чертеже.

3053й9

Зя югтроды

Составитель В. Гусева

Техред Л. Я. Левина

Корректор Л. Б. Бадылама

Редактор Ю. Полякова

Заказ 1961/2 Изд, № 841 Тираж 473 гИодписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прп Совете Министров CCCP

Москва, К-35, Раугпская наб., д. 4г5

Типография, пр, Сапунова, 2

Вся измерителыгал схема вместе с ячейкой помещается в термостат, поддерживающий температуру раствора на уровне 25 С, Затем раствор подвергается нагреву на 5"C по огношению к температуре в термосгате, и после отклюгения от него источника тепла раствор начинает самостоятелыго охлаждаться до своей исходной температуры (25 С). В течение всего времени состояния термодинамического неравновесия производится серия следующих друг за другом (с интервалом в одну минуту) измерений электропроводности. После выполнения 30 таких измерений производится сначала вычисление среднего значения электропроводности, а затем путем статического анализа полученных значений ее величины вычисляется величина дисперсии и среднсквадратичного отклонения от среднего значегщя электропроводности.

В качестве количественных показателей интенсивности флуктуации ионов в пределах существования термодинамического неравновесия используется величина дисперсии и Iп среднеквадратичного отклонения.

Предмет изобретения

1о Способ определения интенсивности флуктуаций ионов в растворах путем измерения электропроводпости, от.ггг гигоггггша.l тем, ггчг, с целью повышения точности анализа, исследуемый раствор нагревагот с последуюпгим

15 охлаждением до исходной темпера гуры и в процессе охлаждения измерягот изменеllllo электропроводности, по которому судят oF> интенсивности флуктуаций ионов.

Способ определения интенсивности флуктуацииионов Способ определения интенсивности флуктуацииионов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области микроэлектронных и микромеханических устройств и может быть использовано в качестве нагревателя интегрального полупроводникового газового датчика, инфракрасного излучателя адсорбционного оптического газоанализатора, активатора печатающей головки струйного принтера

Изобретение относится к аналитической химии, в частности определению общего водорода в таблетках из двуокиси урана

Изобретение относится к аналитической химии, в частности к определению общего водорода (свободного и связанного) в топливных таблетках из двуокиси урана

Изобретение относится к аналитической химии, в частности определению водорода в металлах

Изобретение относится к аналитической химии, в частности определению общего водорода в таблетках из двуокиси урана

Изобретение относится к области аналитической химии, в частности к области анализа газовых смесей, и может быть использовано для определения типов различных газов и их количественного содержания в воздухе

Изобретение относится к измерительным средствам для исследования и анализа газов при помощи электрических средств, в частности полупроводниковых сенсорных датчиков, и может быть использовано в системах пожарной сигнализации, сигнализаторах опасных газов и газоанализаторах

Изобретение относится к области измерения концентраций водорода и может быть использовано для контроля газовой атмосферы в помещениях промышленных предприятий с опасными условиями производства, в частности для обеспечения водородной взрывобезопасности под защитной оболочкой АЭС и взрывозащитных камер

Изобретение относится к области измерения электрических характеристик наноразмерных газочувствительных материалов, в частности к измерению комплексной проводимости газочувствительных материалов, и может быть использовано в производстве сенсоров газа, основанных на полупроводниковых неорганических материалах сложного состава, а также для синтеза структур пленки эквивалентной схемой

Изобретение относится к методам кондуктометрического контроля изделий и может быть использовано для определения теплофизических характеристик изделий радиоэлектронной и микроэлектронной аппаратуры, а также для разбраковки изделий по теплофизическим параметрам
Наверх