Способ определения коэффициента диффузии газов в диэлектрические материалы

 

с

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

3I5I09

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено ОЗ.VI.1970 (№ 1445449/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 21.IX.1971. Бюллетень ¹ 28

Дата опубликования описания 02.XI.1971

МПК. G 01п 27/46

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 543.547(088.8) Авторы изобретения

Заявитель

Е. И. Шульгин и Л. Н. Линник

Всесоюзный научно-исследовательский и экспериментальный институт по переработке химических волокон

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ДИФФУЗИИ

ГАЗОВ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЪ|

10 — =D —, dt дх2

Изобретение относится к области метрологии процессов диффузионного переноса.

Применяемые в электровакуумной и полупроводниковой промышленности, а также в других областях науки и техники диэлектрические материалы подвергаются воздействию газовых потоков и температурных полей и других внешних условий. В связи с этим определение наиболее важных диффузионных параметров, в частности коэффициента диффузии, имеет большое значение, особенно в случае нахождения в вакууме больших поверхностей исследуемых материалов, например при напылении тонких пленок на рулонные материалы.

Однако до сих пор не выработана достаточно удобная и экспрессная методика определения коэффициента диффузии. Наиболее широко применяемый с этой целью метод последовательного снятия тонких слоев технологически сложен, не обеспечивает высокой точности, кроме того, при этом разрушается образец в процессе измерений.

Известен также способ определения коэффициента диффузии газа в твердое тело по внутреннему трению. Этот способ применяется мало и характеризуется невысокой точностью.

Целью изобретения является повышение точности измерений.

Предложенный способ основывается на соотношении:

h д (а)

4г:.(e) dt где h — толщина исследуемого диэлектрического материала (h много меньше длины и ширины подготовленного в виде пластины или пленки образца исследуемого материала); где а,, — полярпзуемость атома диффундпрующего газа — величина, выпадающая

15 при расчете по формуле (1). е — диэлектрическая проницаемость, изменяющаяся в процессе диффизии; ео — диэлектрическая проницаемость чистого диэлектрика (без газа).

20 Соотношение (1) учитывает концентрацию растворенного в диэлектрике газа:

25 и диффузию газа в диэлектрическую Ilласп ну толщиной h:

50 где с(х, i) — концентрация газа в образце.

315109

Предмет изо бретения

Составитель Л. К. Жаркова

Редактор T. 3. Орловская Текред 3. Н. Тараненко Корректор Т. А. Миронова

Заказ 3154/5 Изд. М 1325 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Сущность предложенного способа состоит в том, что измеряют диэлектрическую постоянную диэлектрического образца до начала диффузионного поступления в него. Затем помещают образец в атмосферу газа и насыщают газом. После этого откачивают газ и вновь измеряют диэлектрическую постоянную. Далее выдерживают образец некоторое время для удаления из него 20 — 40 продиффундировавшего газа, вновь измеряют диэлектрическую постоянную и по полученным lIàííûì, используя соотношение (1), находят коэффициент диффузии газа в диэлектрические материалы.

Способ определения, коэффициента диффузии газов в диэлектрические материалы, от5 личающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, образец в виде .пластины или пленки помещают в атмосферу газа, измеряют кинетику изменения диэлектрической постоянной образца в процессе изменения концентрации продиффундировавшего в него газа и на основе полученных данных определяют коэффициент диффузии.

Способ определения коэффициента диффузии газов в диэлектрические материалы Способ определения коэффициента диффузии газов в диэлектрические материалы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам определения молекулярно-массового распределения как линейных полимеров, так и межузловых цепей сетчатых полимеров

Изобретение относится к технологии материалов электронной техники, в частности к способам определения полярных граней полупроводниковых соединений типа AIIIBV (InSb, GaSb, InAs, GaAs, InP и Gap) и может быть использовано для ориентации монокристаллических слитков и пластин

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей
Изобретение относится к области физики поверхностей

Изобретение относится к физике и химии поверхностных явлений и может быть использовано для определения параметров двойного электрического слоя на границе фаз

Изобретение относится к области исследования материалов, а именно к устройствам для испытания смазочных масел

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к пневматическим устройствам для измерения поверхностного натяжения жидкостей, и может найти применение в таких отраслях промышленности, как химическая, лакокрасочная и пищевая промышленность

Изобретение относится к области подготовки нефтей и разрушения водонефтяных эмульсий, стабилизированных природными эмульгаторами и различными видами механических примесей
Наверх