Автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

324489

Союз Советсиих

Социалистических

Реслублии

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 27.(V.1970 (№ 1430930125-28) .Ч, 1 1, G 01Ь 11!24 с присоединением заявки ¹

Приоритет

Комитет ло делам изобретений н открытий

Опубликовано 23.Х11.1971. Бюллстень № 2 за 1972

Дата опублш<овл(шя описания 23.П.1972

У. К 531.715 (088.8) лри Совете Министров

СССР

Авторы изобретения В. А. Никитин, С. Д. Голод, И. В. Ахремчик и К. А. Обрадович

Заявитель

АВТОКОЛЛИМАЦИОННЫЙ СФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

РАДИУСОВ КРИВИЗНЫ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано, например, для измерения радиусов кривизны образцовых пробных стекол.

Известен автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей, содержащий автоколлнционную измерительную и отсчетную системы, самоцентрирующий патрон для крепления измеряемой сферы н станину с дециметровой шкалой.

К недостаткам известного сферометра можно отнести то, что наведение на измеряемую сферу и ее центр кривизш(, а также отсчет показаний производится оператором впзуальIIo, что приводит к увелнченшо ногрсшно TII измерения и неудобству в работе.

С целью повышения то шостн и производительности измерения предлагаемый сферометр снабжен фотоэлектрическим устройством регистрации наведения на центр кривизны и на поверхность измеряемой сферы, имеющим сканирующую щель, а отсчетная система выполнена цифровой с фотоэлектрической peruc1pal1,ией наведения на штрих дециметровой шкалы н с интернолнруюшнм устройством деI1èìåTðoâoãо интервала.

На фиг. 1 показан предло>кенный сфсрометр; на фнг. 2 — штор" à со щелью н поле зрения прибора (рлзрез по Л вЂ” А на фпг. 1).

Осветительное устройство 1 освещает сетку

->, к которо!! приклеены клинья 8, раздел я!Ощнс изображение штриха сетки. Далее изображе! ие штриха сетки проецирмется снсте5 мой, состоящей нз призмы-куба 4 н объектива 5 н 6 в предметную плоскость объектива, с которой совмещается поверхность нлн центр кривизны измеряемой сферы 7, закрепленной г самоцентрнрующем патроне 8.

1О Отражсl(III III 01 сфернчес(Ой поверхности световой поток 13озвращлется в объективы 6

lI 5 Ilpo. !О Ооъект!1вов 1!1 н 11 проецируются на фотоприемники

12 ii 1;>, которые нрсооразуют световую энергll(0 В il х(П3 львы э 1ектрнчсcкого то! .я, нос11 няющне в электронный блок W. Перед разделительной призмой устанавлпвастся шторка

2п 15 с поперечной щелью, совершающая постунлтсльное двнжсннс от электродвигателя 16.

Прн согмсщеi(1111 измеряемой сферы нлн ее центра кривизны с предметной плоскостью

Ооъектнвя > н 6 автоколлнмацнонныс взо2S бра>кепи!1 штрнхл сетки 2 ооразу оТ в плоскости ребра разделительной призмы 9 единый штрих. Прн смещении сферы нлн ес це Оа кривизны с предметной пло".êîñòè ооъ пзображсння концов штрихов ccткн рг

30 ся в разные стороны. Шторка 15 пг

324489

15

35 перемещении перекрывает штрих сетки, при этом в цепи фотоприемников 12 и 18 возникает электрический ток. В случае совпадения концов штрихов сетки в электронный блок И с фотоприемников поступают совпадающие по времени электрические импульсы, и индикаторное устройство 17 покажет поль. Если совпадение концов штрихов сетки отсутствует, то в электронный блок 14 поступят не совпадающие по времени электрические импульсы, и индикаторное устройство покахкет значение, отличное от нулевого. Для отсечения электрических импульсов, возникающих при обратном ходе шторки 15, перед ней устанавливают обтюратор 18, выполненный в виде полудиска, вращающегося от того же электродвигателя 16, что и шторка.

Отсчет перемещения измерительного устройства 19 на целые дециметры производится с помощью фотоэлектрического микроскопа

20, электронного блока 21 и индикаторного устройства 22 по дециметровой шкале 28, которая подсвечивается осветительным устройством 24. Дециметровый штрих шкалы проецируется системой, состоящей из призмы 25 и объективов 26 и 27 в плоскость сетки 28, на которую наведен фотоэлектрический микроскоп 20. Отсчет миллиметров, а также десятых, сотых и тысячных долей миллиметра производится с помощью интерполирующего отсчетного устройства 29 и 80 и миллиметровой шкалы 81, которая подсвечивается осветительным устройством 82.

Сферометр работает следующим образом.

Изменяемую сферу 7 закрепляют в самоцентрирующем патроне 8, затем устанавливают измерительное устройство 19 на размер, близкий к величине радиуса измеряемой сфе-. ры, включают осветительное устройство 1 и плавным перемещением измерительнОГО устройства и пиноли 88 с миллиметровой пгкалой добиваются положения, при котором индикаторное устройство 17 покажет ноль. Это положение измерительного устройства будет соответствовать совмещенгпо центр а кривизны измеряемой сферы с предметной плоскостьго объектива 5 и 6. После этого включают отсчетпые системы прибора и снимают показания с цифрового блока. Затем перемещением измерительного устройства 29 и пиноли 88 миллиметровой шкалой находят второе положение, при котором индикаторное устройство 1" покажет ноль. Это положение будет соответствовать совмещению поверхности измеряемой сферы с предметной плоскостью объектива 5 и 6. После этого включают отсчетные системы прибора и с цифрового блока снимают второй отсчет. Разность снятых отсчетов определит величину радиуса кривизны измеряемой сферы.

Предмет изобретения

Лвтоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей, содер кащий автоколлимационную измерительную и отсчетную системы, самоцентрирующий патрон для крепления измеряемой сферы и станину с дециметровой шкалой, от ги гаюгиийгся тем, что, с целью повышения точности и производительности измерения, оп снабжен фотоэлектрическим устройством регистрации наведения на центр кривизны и на поверхность измеряемой сферы, имеющим сканирующую щель, а отсчетпая система выполнена цифровой с фотоэлектрической регистрацией наведения на штрих дециметровой шкалы и с интерполирующим устройством дециметрового интервала.

324489 !

1

L т---- — С - -т

1

Фю. 1

Го0мещенное пояоже>!ие штриха

РаЫе/>енное псла>кение штриха!

Риг. 2

Составитель Л. Лобзова

Текред Е. Борисова

Редактор М. Макарова

Корректоры: О. Зайцева и Н. Шевченко

Типография, пр. Сапунова, 2!

1

1 !

L г —— !

1

I !

Заказ 306 9 Изд. № 17 Тираж 44S Подписное

Ц1-!ИИПИ 1(омитста по делам изобретений и открытий при Совете Министров CCCi

Москва, /К-35, Рауьиская наб., д. 4 5

/

/ (I

I !

I ! !

Автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей Автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей Автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиуса сферических полированных поверхностей, и может быть использовано при контроле оптических деталей

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерферометрии, и может быть использовано для контроля радиуса кривизны оптической поверхности

Изобретение относится к области нанотехнологий и наноэлектроники, а более конкретно к сканирующей зондовой микроскопии
Наверх