Патент ссср 368536

 

О П И СА Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

368536

Союз Советских

Социалистических

Республин

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. G 01п 21/44

Заявлено 28.VII I.1970 (№ 1469472/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26.1.1973. Бюллетень ¹ 9

Дата опубликования описания 22.1П.1973

Комитет по делам иаобретении и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 54 3.53i(088.8) Авторы изобретения

Заявитель

P. Я. Кеймах и В. И. Кудрявцев

Всесоюзный научно-исследовательский и экспериментальноконструкторский институт продовольственного машиностроения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ СВЕТОВОЙ ВОЛНЫ

Известно устройство для измерения длины световой волны, например при градуировке монохроматоров (спектрографов), содержащее набор спектральных ламп с блоками для их питания, фотоэлектронный преобразователь и прибор для измерения электрического сигнала (тока, напряжения).

Градуировка, осуществляемая при помощи такого устройства, трудоемка и не обеспечи.вает получения непрерывной градуировочной кривой. Разрывы в отдельных участках спектра восполняются апроксимацией, что вносит существенные погрешности.

Для повышения точности измерения в устройстве предложенной конструкции между поляризатором и анализатором жестко укреплен эталон из оптически активного вещества с известной дисперсией оптического вращения (дисперсией двулучепреломления), а отсчетное устройство, связанное с анализатором, проградуировано в единицах длин волн.

На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство для измерения длины световой волны. Оно состоит из входной диафрагмы 1, поляризатора 2, модулятора 8 света по колебаниям его плоскости поляризации, кристаллической плоскопараллельной эталонной пластины 4 (например, оптически активной), анализатора 5, жестко связанного с отсчетным устройством, проградуированным в длинах световых волн, фотоэлектронной системы б и реверсивного двигателя 7, кинематически связанного с анализатором 5.

s Исследуемый свет поступает через отверстие диафрагмы 1. Пройдя поляризатор 2, свет становится линейно (плоско) поляризованным. Затем с помощью модулятора 8 осуществляются симметричные колебания плос10 кости поляризации относительно среднего положения. Жестко установленный на пути света эталон изменяет параметры поляризованного света. В случае применения эталона,в виде оптически активной пластины изменяется

15 азимут поляризации. При применении эталона в виде двулучепреломляющей плоскопараллельной пластины свет приобретает эллиптическую поляризацию. После анализатора 5 свет оказывается модулированным по интенсивно20 сти, при этом переменная составляющая интенсивности состоит в общем случае из слагающих, изменяющихся с частотой, равной частоте модуляции и удвоенной. Модулированный по интенсивности свет после анализатора

25 5 с помощью фотоэлектронной системы б преобразуется в переменное напряжение (или ток), которое воздействует на оптический компенсатор, например анализатор, обеспечивая установку анализатора в такое положение, 30 при котором в переменной составляющей ин368536

Составитель В. Зверев

Техред Т. Ускова

Редактор Н. Белявская

Корректоры: И. Божко и С. Сатагулова

Заказ 6j8/7 Изд. Ке 174 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, К-35, Раушская аб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 тенсивности исчезнет слагающая, изменяюгцаяся с частотой модуляции.

Таким образом следящая система прибора с анализатором (или другим оптическим компенсатором) в цепи обратной связи будетследить за изменением параметров исследуемого света, вызванным эталоном.

Вследствие наличия однозначной зависимости между длиной волны проходящего через оптическую систему света и параметрами поляризации (азимутом поляризации в случае линейно поляризованного света, разностью фаз при эллиптической поляризации) для выбранного эталона каждому положению анализатора и связанного с ним отсчетного устройства в момент компенсации будет соответствовать определенная длина световой волны.

Устройство может быть выполнено в .виде приставки к монохроматору.

5 Предмет изобретения

Устройство для измерения длины световой волны, содержащее поляризатор, модулятор света, фотоэлектронную следящую систему

)0 с анализатором в цепи обратной связи, отсчетное устройство, отлича ощееся тем, что, с целью повышения точности измерения, устройство снабжено эталоном из оптически активного вещества, установленным между по15 ляризатором и анализатором, а отсчетное устройство проградуировано в единицах длин волн и связано с анализатором.

Патент ссср 368536 Патент ссср 368536 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх