Устройство для контроля качества поверхности микропроволоки

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республии

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

М. Кл. G 01 b 7/34

Заявлено 25. I I1.1971 (№ 1636340/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 08.11.1973. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 16ХП1.1973

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.71(088,8) Авторы изобретения

Ш. А. Бахтаев, В. Н. Бавлаков и С. Р. Досбаев

Институт физики высоких энергий АН Казахской ССР

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ

МИ КРОПРОВОЛОКИ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля качества поверхности микропроволоки.

Известны устройства для контроля качества поверхности микропроволоки, содержащие датчик коронного .разряда, электрод которого выполненный в виде сплошного кольца, устанавливают в процессе контроля концентрично контролируемой проволоке, перемоточный узел и регистрирующий прибор. Известные устройства позволяют контролировать лишь наличие дефекта на поверхности проволоки.

Предложенное устройство отличается от известного тем, что электрод датчика выполнен составным,по окружности, а устройство снабжено двумя дополнительными электродами, установленными соосно с двух сторон основного электрода датчика.

Указанное отличие позволяет получать пространственную картину ориентации и расположения микронеровностей по сечению и длине микропроволоки.

На чертеже представлено описываемое устройство.

Устройство, содержит датчик 1 коронного разряда, перемоточный узел 2 для протягивания контролируемой проволоки 8, дополнительн ые электроды 4, измеритель 5 частоты импульсов:и переключатель б. Электроды датчика 1 соединены черз нагрузочные сопротивления R< и общее сопротивление R. с положительным полюсом источника вьгсокого напряжения 7, а электроды 4 соединены с тем же источником через сопротивление Яз.

Устройство работает следующим образом.

Контролируемая проволока 3 с,помощью перемоточного узла 2 протягивается через электроды 4 и датчик 1. В процессе контроля, изме10 ритель 5 частоты импульсов подключают поочередно с помощью переключателя б к плечам электродов датчика 1 (точки О,, О и т.д.), что дает возможность по частоте тока коронного разряда оценить качество поверхности в

15 различных сечениях, а суммирование импульсов тока по секторам дает общую оценку качества всех поверхностей проволоки.

Предмет изобретения

Устройство для контроля качества поверхности микропроволоки, содержащее датчик коронного .разряда, электрод которого в,процессе контроля устанавливают концентрично кон25 тролируемой проволоке, перемоточн|ый узел:и регистрирующий прибор, oTëè÷àþè/ååñÿ тем, что, с целью получения пространственной картины ориентации и расположения микронеров,ностей по сечению и длине микропроволоки, 30 электрод датчика выполнен составным по ок369384

Составитель И. Вогунова

Текред Л. Богданова Корректор С. Сатагулова

Редактор Л. Василькова

Заказ 2219/б Изд. № 1599 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ружности, а устройство снаояено двумя дополнительными электродами, установленными соосно с двух сторон основного электрода датчика.

Устройство для контроля качества поверхности микропроволоки Устройство для контроля качества поверхности микропроволоки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх