Устройство для определения ориентации полупроводниковых элементов

 

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

И АВТОРСКОМУ СВЙДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистимеских

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 13.Х.1971 (№ 1704668/26-9) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 22.Ч1,1973. Бюллетень № 28

Дата опубликования описания 17.Х.1973

М. Кл. Н 05 ; !3 08

Гасударственный комитет

Совета Министров СССР па делам изобретений н открытий

УДК 621.396.6.002.5 (088.8) Авторы изобретения

Ю. С. Бараник и В. С. Катин

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОРИЕНТАЦИИ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Изобретение относится к технологическому оборудованию производства радиодеталей, а именно к системам автоматического контроля и производства модульных полупроводниковых пр иборов.

Известны устройства для определения ориентации полупроводниковых элементов, содержащие последовательно соединенные генератор импульсов, формирователь команд и блок коммутации, контактный узел с размещен ными в нем полупроводниковыми элементами и блок контроля.

Цель изобретения — упрощение устройства и повышение надежности в работе.

Это достигается тем, что в предлагаемом устройстве формирователь команд выполнен в виде последовательно соединенных счетчика импульсов и дешифратора, каждый из выходов которого соединен с контактным узлом и схемой сравнения импульсов. Выходы последней соединены с блоком .контроля.

На фиг. 1 изображена бло|к-схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — последовательность нахождения куж ного положения полупроводникового элемента, например диодной матрицы.

Устройство состоит из генератора 1, счетчика 2 импульсов, дешифратора 8, контактного узла и,проверяемого элемента 4 и схем 5 совпадения.

Генератор 1 представляет собой симметричный мультивибратор. Счетчик 2 импульсов состоит,из трех триггеров, выходы которых соединены с входо м дешифратора 8. С дешиф5 ратора выдается необходимое число импульсов, соответствующее количеству опрашиваемых пар контактов ориентируемого полупроводникового элемента 4, которые проходят на од ну из схем 5 совпадения непосредственно и

10 через проверяемый прибор.

При совпадении импульсов, прошедших через, проводящий канал проверяемого полупроводни кового элемента на соответствующую схему «И» непосредственно от дешифратора, 15 выдается команда о положении полупроводникового элемента. Для пояснения работы устройства на фиг. 2 рассмотрена последовательность нахождения нужного положения взятой в качестве примера диодчой матрицы.

20 После того, как измерительная головка законтактирована со всеми рабочими контактами, на соответствующие электроды проверяемого элемента подается разделенное по времени импульсное напряжение в указан|ной на

25 фиг. 2 полярности и последовательности. По числу прошедших через проверяемую схему импульсов судят о требуемом угле поворота полупроводникового элемента. В рассматриваемом случае для нахождения требуемого

30 угла поворота необходимо с дешифратора по388377

Составитель Н. Блиикова

Техред T. Курилко

Корректоры: A. Дзесова и Г. Запорожец

Редактор E. Караулова

Заказ 2759/12 Изд. № 1697 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр, Сапунова, 2 дать два иипульса, что соответствует 90 поворота полупроводникового элемента.

Предмет изобретения

Устройство для определения ориентации полупроводниковых элементов, содержащее последовательно соединенные генератор исмпульсов, формирователь команд и блок коммутации, контактный узел с размещенным в нем полупроводниковым элементом и блок контроля, отличающееся тем, что, с целью упрощения устройства и повышения надежности его работы, формирователь команд выполнен

5 в виде последовательно соединенных счетчика и мпульсов и дешифратора, каждый из выходов которого соединен с контактным узлом и со схемой сравнения импульсов, выходы которой соединены с блоком контроля.

Устройство для определения ориентации полупроводниковых элементов Устройство для определения ориентации полупроводниковых элементов 

 

Похожие патенты:

•юяерш // 366593

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к электронным схемам общего назначения и в частности может использоваться при определении вида технического состояния цифровых устройств с обнаружением и локализацией различных дефектов

Изобретение относится к области к области электричества, в частности к оборудованию для контроля радиоэлементов, и может быть использовано для контроля энергетических параметров, например, СВЧ-транзисторов

Изобретение относится к непрерывной выбраковке дефектных схемных элементов (2) из общего числа схемных элементов (2)

Изобретение относится к технике контроля изделий радиоэлектроники и может быть использовано в производстве конструкцийблоков радиоэлектронных средств широкого назначения

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано для контроля печатных плат

 // 400920
Наверх