Патент ссср 389413
п,"Ат и: 1-.-;
5г,"
О П И С А Н И Е 3894l3
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
Заявлено 28М.1971 (№ 1673517/26-25) М Кч 6 01j 3/00 с присоединением заявки №вЂ”
Приоритет
Опубликовано 05.VII.1973. Бюллетень № 29
Дата опубликования описания 25.Х.1973
Гасударственный комитет
Совета Министров СССР па делам изобретений и OTKpblTHM
УДК 54 3.42(088.8) Авторы изобретения
М. И. Кудряшов, А. М. Искольдский и Р. Д. Баглай
Заявитель Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения АН СССР
СПОСОБ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОГО ПОЛУЧЕНИЯ ЧИСЛОВЫХ
ПАРАМЕТРОВ КОНТУРА СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИ л, 20
„..= Г(Л Л,)Ч(1,)ДЛ, л, Изобретение относится к способам экспериментального получения числовых параметров контура спектральной линии в физических экспериментах.
Известен способ нахождения параметров контура спектральной линии путем математическои обработки всей кривой контура.
Предлагаемый способ позволяет непосредственно измерять числовые параметры контура спектральной линии и вводить их в электронно-вычислительную машину. Достигается это тем, что световой поток с выхода спектрального прибора пропускают через систему масок, расположенных в плоскости изображения выходной щели спектрального прибора одна над другой в направлении равных интенсивностей.
B каждой маске имеется вырез для пропускания светового потока, выполненный согласно формуле (Х вЂ” l>), где: л, — значение длины волны на границе интервала исследуемого спектрального контура, Х вЂ” текущее значение длины волны, и — показатель степени, принимающий значения О, 1, 2, 3, ... для каждой маски в отдельности.
Световые потоки с выхода каждой маски проектируются оптической системой на отдельные фотоэлектрические приемники, а получаемые с них электрические сигналы запоминаются, например, на емкостных ячейках и затем вводятся в электронно-вычислительную машину.
Способ поясняется чертежом.
5 Световой поток от исследуемого объекта 1 ооъективом 2 проектируется на входную щель спектрального прибора 8, далее объективом 4 — на систему масок 5, расположенных в плоскости изображения входной щели
1о спектрального прибора одна над другой в направлении равной интенсивности, а затем широкоапертурной конденсорной линзой 6— на фотоэлектрические приемники 7.
15 Определение числовых параметров контура заключается в регистрации светового потока от каждой маски, представляющего и-й начальный момент контура спектральной линии, запоминании получаемых электрических сигналов, пропорциональных моментам на емко25 стпых ячейках, и вводе их затем в электронно-вычислительную машину. По начальным моментам можно определить среднюю длину волны, полуширину и другие характеристики контура, а также восстановить всю кривую
ЗО спектрального контура, 389413 (л — л )л, Предмет изобретения
Составитель В. Вошанкнн
Техред 3. Тараненко
Корректор О. Усова
Редактор T. Орловская
Заказ 2836/4 Изд. № 750 Тираж 755 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, К-35, Раушская паб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
1. Способ экспериментального получения числовых параметров контура спектральной линии, отличающийся тем, что световой поток с выхода спектрального прибора пропускают через систему масок,,расположенных в плоскости изобр ажения выходной щели спектрального прибора одна над другой в направлении равной интенсивности, световые потоки с выхода каждой маски проектируют оптической системой н а отдельные фотоэлектрические приемники, а получаемые с них электрические сигналы запоминаются, например, на емкостных датчиках и затем вводятся в электронно-вычислительную машину.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в каждой маске имеются вырезы согласно формуле где 4 — значение длины волны на границе интервала исследуемого контура, л — текущее значение длины волны, n — показатель степени, принимающий значения О, 1, 2, 3, ... для каждой маски в отдельности, и световые потоки на выходе каждой маски
10 пропорциональны числовым параметрам контура спектральной линии: л.
„„=1(Л вЂ” >,,) ЦЦ1Л, Л1
15 где Х1, 7.в — значения длины волны на границах интервала исследуемого спектрального контура, 1(Х) — интенсивность светового потока на входе масок.
