Патент ссср 402869

 

t5

ОЛ АНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

402869

Союз Соаетских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 01.111.1971 (№ 1629769/18-24) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 19.Х.1973. Бюллетень № 42

Дата опубликования описания 2.I) .1974

М. Кл. G 061 11/.00

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изооретений и открытий

УДК 681.325.6 (088.8) Автор изобретения

П. Е. Чистяков

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИНИМАЛЬНЫХ ТЕСТОВ

КОНТРОЛЯ ИСПРАВНОСТИ РЕЛЕЙНЫХ СТРУКТУР

Изобретение относится к области вычислительной техники.

Известны устройства для вычисления булевых функций для 2 комбинаций состояний ее переменных при их общем числе, равным k.

Известные устройства не позволяют вычислить некоторое подмножество комбинаций состояний переменных, содержащееся в множестве 2", по значениям булевой функции, т. е. решить обратную задачу с определенными начальными условиями.

Целью изобретения является повышение быстродействия определения наборов теста по булевой функции, описывающей контролируемую релейную структуру.

Сущность изобретения заключается в том, что в устройстве счетный вход каждого триггера через замыкающий контакт соответствук>щего первого переключателя и замыкающий контакт общего переключателя соединен с положительной клеммой источника питания. Нулевой и единичный входы каждого триггера через замыкающие контакты соответствующего второго переключателя и размыкающий контакт общего переключателя соединены с положительной клеммой источника питания.

Схема устройства представлена на чертеже.

В ее состав входят триггеры 1 — 7, переключатели 8 — 22 и источник питания 23.

Набор триггеров служит для преобразования изменяемых состояние переменных в двоичный код, выражающий каждый отдельный набор теста T„„„.

Переменная с чертой а и b соответствует контакту, через который сигнал подается на единичный вход соответствующего триггера, а переменная без черты а и b — на нулевой вход этого же триггера. Для переключателей

15 — 21 те же переменные записываются в безразличном состоянии, например, а n b.

Алгоритм определения наборов составляющих тестов Т,„„„ и Т „„„ рассматривается ниже на конкретном примере.

Пусть требуется определить наборы теста

Т.„„„для структуры класса, описываемой булевой функцией в дизыонктивной нормальной форме (ДНФ).

20 F„-=abc+ad+eh, при условии, что каждой ее переменной заданы веса

Р/а/ = 1,Р/Ь/ = 2,Р)с/ = 4,Р/d/ = 8, (1)

Р/e/ = 16,Р/Ъ/ = 32.

Для определения отдельного набора теста

Т „„,„ над булевой функцией последовательно проводятся операции первого и второго рода.

Операция первого рода заключается в том, 3П что всем переменным без черты элементарной

402869

50 импликанты булевой функции, выражающей элементарную цепочку структуры, изменяют состояние на обратные. Таким образом, контролируемая цепочка структуры замыкается накоротко.

При выполнении операции второго рода всем остальным переменным булевой функции с чертой, не входящим в выделенную элементарную импликанту, изменяют состояние на обратные, т. е. размыкают в структуре соответствующие размыкающие контакты. При определении набора теста для контроля цепочки, описываемой элементарной импликантой abc на обрыв изменяют состояние переменные b, d, k.

F„= a b c + ad + ek. (2) Набор теста будет равен сумме весов указанных переменных, т. е. равен 42. Наборы теста для контроля цепочек ахи ek определяются аналогично и оказываются соответственно равными 36 и 29.

Для определения отдельного набора теста

Т „, над булевой функцией последовательно проводятся операции третьего и второго рода.

Операция третьего рода заключается в том, что переменная с чертой, соответствующая контролируемому контакту, изменяется на переменную без черты, т. е, контролируемый контакт структуры размыкается, а все переменные булевой функции без черты, соответствующие замыкающим контактам, объединяемым элементарными цепочками, проходящими через контролируемый контакт, изменяются на переменные с чертой. Наборы теста для контроля контактов а, К с, d, е, k имеют соответствующие им значения 35, 40, 46, 44, 13, 6 1. Применение вычисленных наборов теста Т„„, определяется спосооом логического контроля релейных структур.

Работа устройства для приведенного выше примера происходит следующим образом.

Переключатели 8 — 13 замыкаются в сторону тех обозначений состояний переменных, которые имеют место в исходной булевой функции, т. е. а, b, с, dÑ e k. Зта операция выражает установку исходных данных для определения наборов теста T„„„„„„при этом замыкание переключателей в сторону переменных с

30 чертой переводит соответствующие триггеры в единичное состояние, а замыкание переключателей в сторону переменных без черты переводит соответствующие триггеры в нулевое состояние. Пусть требуется вычислить набор теста Т,„„, для контроля цепочки abc на обрыв. Для этого замыкаются переключатели

15 — 17, осуществляется перевод переключателя 22 в другое положение по сравнению с положением изображенном на чертеже. В результате триггеры изменяют свои состояния и формируют двоичный код, соответствующий десятичному числу 42.

Перед каждым очередным определением набора теста переключатели 15 — 22 переводятся в исходное состояние. При вычислении теста

T0,,„„äëÿ контроля, например, контакта а на короткое замыкание, замыкаются переключатели 16 — 18 для переменных b, с, d. Указанные переменные булевой функции соответствуют контактам, которые объединяются элементарными цепочками, проходящими через контролируемый контакт а. Изменяется положение переключателя 22, триггеры формируют двоичный код, соответствующий десятичному числу 35. В данном случае также все переключатели 15 — 22 устанавливаются в исходное состояние перед каждым очередным определением набора теста T

Предмет изобретения

Устройство для определения минимальных тестов контроля исправности релейных структур, содержащее триггеры, переключатели и источник питания, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия определения наборов теста по булевой функции, описывающей контролируемую релейную структуру, в нем счетный вход каждого триггера через замыкающий контакт соответствующего первого переключателя и замыкающий контакт общего переключателя соединен с положительной клеммой источника питания, нулевой и единичной входы каждого триггера через замыкающие контакты соответствующего второго переключателя и размыкающий контакт общего переключателя соединены с положительной клеммой источника питания.

402869

Составитель A. геренов

Редактор Е. Семанова

Корректор Н. Аук

Техред А. Камышникова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 668:6 Изд М 2084 Тираж 647 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Мипистров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., л. 4,5

Патент ссср 402869 Патент ссср 402869 Патент ссср 402869 

 

Похожие патенты:

Ы1иотека // 388261

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике, в частности к средствам автоматизации контроля и поиска неисправностей в устройствах с дискретным характером функционирования, и может быть использовано в автоматизированных комплексах отладки и ремонта цифровых устройств

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации

Изобретение относится к системам управления телевидением и радиовещанием

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах для контроля ЭВМ

Изобретение относится к области электрорадиотехники и может быть использовано для проверки функционирования DVD плеера

Изобретение относится к способу и системе отладки многоядерной системы с возможностями синхронной остановки и синхронного возобновления

Изобретение относится к области автоматики и цифровой вычислительной техники

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники

Изобретение относится к средствам построения модели состояния технического объекта
Наверх