Патент ссср 413373

 

и

О П И C А И И Е 413373

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹ 349049

Заявлено 29Х.1972 (№ 1789673/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 30.1.1974. Бюллетень № 4

Дата опубликования описания 27Х.1974

М. Кл. G 01Ь 11/30 Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

УДК 531.715.2 (088.8) Авторы изобретения

А. В. Лукин, К. С. Мустафин и P. А. Рафиков

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ СЛОЖНОЙ ФОРМЫ

Изобретение касается устройств для контроля качества оптических поверхностей, преимущественно асферических, и может быть применено в оптическом приборостроении.

По авт. св. № 349049 известно устройство для контроля качества оптических поверхностей сложной формы, содержащее источник света, коллиматор, светоделитель и оптический компенсатор в виде искусственной голограммы.

Это устройство позволяет контролировать теневым или интерференционным методом асферические поверхности не только второго, но и более высокого порядка. Однако применение этого устройства затруднено в случае поверхностей, крутизна которых превышает 45 .

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что искусственная голограмма выполнена в виде чередующихся отражающих и неотражающих колец или полос па выпуклой поверхности, например сферической или цилиндрической.

Это позволяет контролировать оптические поверхности с крутизной более 45 .

На чертеже приведена схема устройства для контроля асферической поверхности.

Устройство содержит лазер 1, коллиматор

2, светоделитель 3, зеркало 4, линзу 5, искусственную компенсационную голограмму 6.

Свет от лазера 1 проходит через коллиматор 2, светоделитель 3, линзу 5, отражается от искусственной голограммы 6 и контролируемой детали 7, преобразуется голограммой

6 в сходящуюся сферическую или цилиндрическую волну, проходит через линзу 5, отражается от светоделителя 3 и в плоскости наблюдения 8 интерферирует с волной, отраженной от зеркала 4 и прошедшей через светоде10 литель 3. По интерференционной картине в плоскости наблюдения 8 производят оценку качества повер.;.ности контролируемой детали 7.

Радиус кривизны поверхности искусствен15 ной голограммы выбирают с учетом уравнения контролируемой поверхности и расстояния между ее вершиной и голограммой.

Таким образом, выполнение искусственной компенсационной голограммы на выпуклой по23 верхпости и использование ее как для Освещения контролируемой поверхности, так и для преобразования асферической волны в сходящуюся сферичес ую или цилиндрическую вол у, обеспечивает возможность контроля по25 верхностей с крутизной более 45 .

Предмет изобретения

Устройство для контроля качества оптических поверхностей сложной формы по авт. св.

30 ¹ 349049, отл ич а ющееся тем, что, с

413373

Составитель Л. Лобзова

Текред T. Курилко

Редактор О. Юркова

Корректор T. Гревцова

Заказ 1173/10 Изд. Ма !229 Тираж 760 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 целью обеспечения контроля поверхностей, крутизна которых более 45, искусственная голограмма выполнена в виде чередующихся отражающих и неотражающих колец или полос на выпуклой поверхности, например сферической или цилиндрической.

Патент ссср 413373 Патент ссср 413373 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх