Устройство для измерения отклонения формы поверхности

 

О П И С А Н И Е (ц) 480905

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

C0l03 Соеетскит1

Социалистических

Реслублнк (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 13.02.73 (21) 1884120/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет

Опубликовано 15.08.75. Бюллетень Хе 30

Дата опубликования описания 16,10.75 (51) М. Кл. G 01Ь 11/24

Государстеенный комитет

Совета 1Иинистров СССР ла делам изобретений и открытий (53) УДК 531.715.27 (088.8) (72) Авторы изобретения

Б. М. Левин и А. Г. Флейшер (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ

ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения качества обработанных поверхностей.

Известно устройство для измерения отклонения формы поверхности, содержащее корпус с направляющими, перемещающуюся по ним каретку с измерительным штифтом, жестко связанную с ним головку, выполненную в виде микрообъектива и тубусного объектива, расположенный под ней стеклянный брус с эталонной поверхностью и измерительный блок.

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что головка выполнена в виде проектирующего и измерительного микрообъективов, размещенных под углом, например 90, друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному брусу.

Такое выполнение устройства позволяет повысить точность измерения.

На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 — то же, поперечный разрез.

Устройство для измерения отклонения формы поверхности содержит корпус 1 с направляющими, каретку 2 с измерительным штифтом 3, на котором закреплена головка, выполненная в виде проектирующего 4 и измерительного 5 микрообъектов, два тубусных объектива 6, 7, стеклянный брус 8 с эталонной поверхностью и измерительный блок

9, причем микрообъективы 4, 5 размещены под углом 90 один относительно другого и имеют возможность перемещаться перпендикулярно стеклянному брусу 8.

Устройство работает следующим образом.

При движении каретки 2 измерительный штиф 3 скользит по контролируемой поверхности, отклонения которой от заданной формы вызывают вертикальные перемещения.

Это приводит к сдвигу изображения диа15 фрагмы 10, стоящей в фокальной плоскости тубусного объектива 6. Отраженное от эталонной поверхности изображение диафрагмы 10 микрообъективом 5 переносится в фокальную плоскость тубусного объектива 7, с 0 которой совмещен фотодатчик измерительного блока 9, отслеживающего положение изображения диафрагмы. Результаты измерения передаются на самописец.

25 Предмет изобретения

Устройство для измерения отклонения формы поверхности, содержащее корпус с направляющими, перемещающуюся по ним каретку с измерительным штифтом, жестко свя30 занную с ним головку, выполненную в виде

480905 г. си

Рог 7

Prra,2

Составитель В. Мартынов

Редактор Л. Василькова Техред Т. Миронова Корректор Н, Учакина

Заказ 2557/17 Изд. № 1697 Тираж 782 Г!одписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 микрообъектива и тубусного объектива, расположенный под ней стеклянный брус с эталонной поверхностью и измерительный блок, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, головка выполнена в виде проектирующего и измерительного микрообъективов, размещенных под углом, например, 90 друг к другу с возможностью перемещения перпендикулярно стеклянному

5 брусу.