Способ контроля площади поверхности

 

п1 484390

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Ресеуолик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03.05.73 (21) 1926714/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.09.75. Бюллетень № 34

Дата опубликования описания 18,12.75 (51) M. Кл. G 01Ь 19/30

Государствеииый комитет

Совета Министров СССР ло делан изооретеиий и открытий (53) УДК 531.721(008.8) (72) Автор изобретения

Г. И. Захватов (71) Заявитель

Казанский инженерно-строительный институт (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПЛОЩАДИ ПОВЕРХНОСТИ

Предмет изобретения Изобретение относится к измерительной технике.

Известен способ контроля площади поверхности путем сопоставления площади контролируемой поверхности с площадью эталонной при их электрохимической поляризации в растворах электролитов, заключающийся в том, что измеряют отдельно ток электрической цели с эталонной поверхностью и ток электрической цепи с контролируемой поверхностью или общий ток этих цепей, а площадь контролируемой поверхности определяют как функцию от токов электрических цепей и площади эталонной поверхности. Известный способ обладает недостаточной чувствительностью, обусловленной неравномерным распределением силовых линий по контролируемой поверхности и диффузионными явлениями в электролите.

С целью повышения точности контроль по предлагаемому способу осуществляют при плотностях тока 0,1 — 0,01 а/дм для растворов высокой рассеивающей способностью, например для растворов нейтральных солей, и при плотностях тока 0,01 — 0,001 а/дм для растворо в с низкой рассеивающей способностью, например при иопользовании растворов, содержащих легковосстанавливающиеся или лепкоокисляющиеся ионы.

Способ контроля площади поверхности путем сопоставления площади контролируемой поверхности с эталонной поверхностью в гальванической ванне при использовании электролита с высокой рассеивающей способностью, в которой погружают определяемую поверхность вместе с эталонной, завешиваемых в "(2честве катодов и анодов. Измеряя прп плотностях така 0,1 — 0,01 а/дм ток определяемой поверхности или ток всей ванны, определяют

1О площадь поверхности из прямо пропорциональной зависимости между током и площадью с учетом площади эталонной поверхности.

В случае применения растворов с низкой

15 рассеивающей способностью измеряют ток при плотностях 0,01 — 0,001 а/дм - и из той же зависимости определяют интересующую площадь. Экспериментальные данные подтверждают достаточно .высокую точность описывае20 мото способа.

Способ контроля площади поверхности пу25 тем сопоставления площади контролируемой поверхности с площадью эталонной прп пх электрохимичеокой поляризации в растворах электролитов, заключающийся в том, что измеряют отдельно ток электрической цепи с

30 эталонной поверхностью и ток электрической

484390

Составитель В. Мартынов

Редактор Г. Мозжечкова Техред Т. Курилко Корректор Н. Аук

Заказ 3063/14 Изд. № 1794 Тираж 782 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4,5

Типография, пр. Сап нова, 2 цепи с контролируемой поверхностью или оощий ток этих целей, а .площадь контролируемой поверхности определяют как функцию от токов электрических цепей и площади эталонной поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, контроль осу ществляют при плотностях тока 0,1 — 0,01 а/дм для растворов с высокой рассеивающей способностью, например для растворов нейтральных солей, и при,плотностях тока 0,01—

0,001 а/дм для растворов с низкой рассеива1ощсй опосооностью например прН испо пни растворов, содержащих легковосстанавливающиеся или легкоокисляющиеся ионы.

Способ контроля площади поверхности Способ контроля площади поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к машиностроению, в частности к средствам измерения линейных перемещений

Изобретение относится к офтальмологии и предназначено для определения подвижности глазного протеза у пациентов с анофтальмом в различные сроки после операции

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований
Изобретение относится к области офтальмологии и предназначено для определения подвижности опорно-двигательной культи у пациентов с анофтальмом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для прецизионного измерения линейных и угловых перемещений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приборам для линейных измерений, и может быть использовано в станкостроении

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приборам для линейных измерений, и может быть использовано в станкостроении

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для получения цифровой информации о положении контролируемого объекта
Наверх