Прибор для измерения фотометрических и спектрофотометрических характеристик

 

р;.Е:.-.Q3GЗ М

ТЕ..

ВД ба с MS

Союз Советских

Социалистических

Республик (ii) 48532 5

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДИ П!ЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, свид-ву (22) Заявлено0 .02.73 (21) 1877955/26-25 (51} М. Кл.QOI 3/02

J с присоединением заявки № тааулврстаенный камнтет аавта йнннатран СССР на далем нзоаретеннй в аткрытнй (23) Приоритет

Опубликовано 25.09.75Бюллетень № 35 (53) УДК 535.243(088.8)

Дата опубликования описания 15,01.76

Я

М. М. Гуревич, В. П. Лазарев, В. H. Зима, 3. И. Уханова и .:1. В. Демкина (T2) Авторы изобретения (7! } Заявитель

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФОТОМЕТРИЧЕСКИХ И (54)

СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК

Известные приборы для измерения фотометрических I и сйектрофотометричесьих характеристик различных материалов со) ! держат источник излучения, простой монохроматор, передвижную спектральную щель со спектральной маской и интегрирующую ,сферу с входным окном; с помощью допжнительной оптической детали излучения от источника направляется либо на исследуемый обьект, либо непосредственно на внутреннюю поверхность сферы.

Бепьто изобретения является уменьше;ние систематической погрешности измере ний путем уменьшения входного окна интегрирующей сферы.

Ддя этого в предложенном приборе между передвижной спектральной щелью *0

; спектральной маской и интегрирующей сферой установлен дополнительный монохроматор, работающий по схеме вычитания дис,персий с первым монохроматором. Выходная шаль дополнительного монохроматора является входным окном сфер ;, а внутри интегрирующей сферы за входным окном помещена поворотная оптическая деталь,, 2 йозволяюшая менять направление светового потока.

На чертеже изображена оптическая схема прибора. б

Излучение источника света 1, прошед шее через,конденсор, 2, фокусируется на ходной щели первого монохроматора 3 и атем проходит через элементы первого онохроматора: вспомогательное плоское еркало 4, вогнутое сферическое зеркало 5, испергируюшую призму 6 и плоское зеро 7. Выходная щель 8, снабженная пектральной маской 9, служит входной

5 тпелью второго,.мойохроматора со следуюшими элементами: вогнутым сферическим зеркалом 10, диспергирующей призмой 11, - плоским зеркалом 12, вспомогательным плоским зеркалом 13. Изг учение, прошед

О шее через выходную щель вт орого монох роматора 14, попадает на повторную опти

1 ческую деталь 15 внутри интегрирующей шоферы 16 и может быть далее направлено

j.ÿà исследуемый объект 17. Предлагаемый

25 mmtp 4е рием 18 и-. у и

405325

Предмет изобретения

Составитель Л. Гойхман

Редактор А. Бер

ТехРед Ао Демьинова Коррек„р И. Гоксич

Заказ 1045 i Тираж 740 Подписное

I 0НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Прибор для измерения фотометрических и спектрофотометрических характеристик,. содержащий осветитель, монохроматор, пе= редвижную спектральную щель со спектрвль- нрй. маской и интегрируюшую сферу, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с йелью повышения точности измерений путем уменьшения входного окна сферы, между передвижной спектральной келью со спектральной маской и интегрирующей сферой установлен дополнительный монохроматор, выходная щель которого является входным окном сферы, за которым внутри сферы, помещена поворотная оптическая деталь, позволяющая менять направление светового потока„

Прибор для измерения фотометрических и спектрофотометрических характеристик Прибор для измерения фотометрических и спектрофотометрических характеристик 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект
Наверх