Спектрофотометрическая камера

 

Союз Советских

Соцкапмсткческкх

Респубпмк )642609 (6l) Дополнительное к авт. саид-ву(22) За явлено 09.02,7 7 !21) 245 1324/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет—

Опубликовано15,01.79. Бюллетень № 2

Дата опубликования описания18.01.79 (51) M. Кл.

G 01 У 3/02

Государственный нометет

СССР оо делам нзобретеннн

II открытнй (53) УДК 535.853..6(088.8) (72) Автор изобретения

Н. Г. Герасимова (71) Заявитель (54) СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКАЯ КАМЕРА

Изобретение относится к области технической физики и предназначено дпя использования в спектральных приборах дпя проведения спектрофотометрических анализов.

Известны спектрофотометрические камеры, содержащие отсчетные меха низмы и оптические ваементы f1), (2) .

Наиболее бпизким техническим решением к данному изобретению явпяется спектрофотометрическая камера, содержащая источник, изпученйя, фотоприемник, отсчетные механизмы и оптические элементы, образующие измерительную спектрофотометрическую систему (3).

Однако известное устройство имеет ограниченную точность измерения коэффициентов отражения за счет высоких светопотерь, неточностей кинематичес«ой схемы и oTcyToTam возможности перемещения фотоприемника относитепьно образца. цепь изобретения — повышение точности измерения.

Это достигается тем, что предпагаемая спектрофотометрическая камера снабжена дифференциальным механизмом, состояшим из водила, центрального копеса и двух сателлитов, на одном из которых установлен фотоприемник, причем указанный сателлит выполнен с чиспом зубьев, равным числу зубьев цене рапьного колеса.

На фиг. 1 представлена оптико-кинематическая схема I механизма описывае-. мой спектрофотометрической камеры; на фиг. 2 - спектрофотометрическая каФ мера, обший вид:.на фиг. 3 — то же, вид сверху.

Устройство содержит анапизируемые образцы 1, 2 и 3, крышку 4, маховичок 5 поворота водила, шестеренчатые колеса 6,7 и 8, маховичок 9,шестеренчатые колеса 10 и 11, центрапьное колесо

12, сатеппиты 13 и 14, фотоприемник

15, который переминается при помощи маховичка 9, спектрапьную щель 16, объектив 17, корпус 18, При этом *угол падения лучей на анализируемые образцы„ „ 9> 94 - углы поворота фотоприемника при измерении,мно» гократного отражения, а, б, e, r — различные положения фотоприемника и элементов оптико-киле матиче ской схемы. Сателлит 13 служит для получения требуемого направления вращения сателлита 14 относительно центрального колеса 12. Число зубьев сателлита 13 определяется из габаритных соображений. Число зубьев центрального колеса равно числу зубьев сателлита 14.

Оптико-кинематическая схема устройсгва рассчитана на три последовательных отражения параллельного пучка лучей от образцов 1, 2 и 3 и направления их в заданной пОследовательнОсти на Ок но фОтоприомника 15»

Измерение интенсивности излучения3о, падающего на образцы, осуществляется в положении фотоприемш ка 15а при выведенном из хода лучей, путем опускания вниз, образце 1. При измерении интенсивности, отраженного света Q, от

\ г образца 1 последний вводится в ход лучей, а фотоприемник при помощи маховичка 5 перемещается в положение 15б.

Абсолютное значение коэффициента отражения г находится из отношения величин Зг„ / 3,. Аналогичным образом измеряется интенсивность отраженного света от образцов 2 и 3.

Коэффициент процускания находится из отношения величин 3 Jgс, где 3 с4 о

1 интенсивность света, прошедшего через образец 1. В этом случае образец устанавливается под углом падения 90 к падающему пучку лучей

Относительный коэффициент отражения образца 1 находится из отношения интенсивности отраженного от него света 3,, в положении фотоприемника

15б к Ййтенсивности отраженного свеI

TB 3 р От зеркальной n JIBcTHBKH с известным абсолютным коэффициентом отражения, помещенной на место образца 1.

Для образцов 2 и 3 относительный

2609 ф коэффициент Отраженлж находится BHB логичным образом

В случае многократного отражения при введении в измерительный канал образца 2 интенсивность падающего излучения 3о измеряется в положении фотоприемника 15б при выведенном из пучка лучей образце 1. Интенсивность двукратного отражения и J> получен "4 2

t0 ного путем двух последовательных отражений от образцов 1 и 2, измеряется в положении фотоприемника 15в. фи введении в измерительный канал образца 3 интенсивность трехкратного отраt5 женияд, измеряетси путем установки

4,2,3 фотоприемника в положение 15г. Для положений фотоприемника 15б и 15г параллельный пучок лучей изменяет ход направления на 180 -2 о, поэтому маховичком 9 фотоприемник 15 также разворач вают на этот угол.

Таким Образом, при однократной ус тановке в камере нескольких образцов

25 можно последовательно во времени без нарушения вакуума производить несколь ко операций.

Фор мула изобретения

Спектрофотометрическая камера, со30 держащая источник излучения, фотоприемник, отсчетные механизмы, образующие измерительную спектрофотометричеокую систему, отличающаяся тем, что, с целью повышения точности и измере|лж, она снабжена дифференциаль ным механизмом, состоящим из водила, центрального колеса и двух сателлитов, один сателлит выполнен с числом зубьев, равным числу зубьев центрального ко40 леса и на нем установлен фотоприемник»

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1, "Симадзу Херон, СЙ1ФОб7цМВЧ1973, М. 2-З, . 95-104 Ипони.

2. Патент США Yb 3542482, кл, 356-244, 1970.

3. Авторское свидетельство .СССР

% 411356, кл. (3 01 М 21/48, 1974

Спектрофотометрическая камера Спектрофотометрическая камера Спектрофотометрическая камера 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект
Наверх