Способ бесконтактного измерения толщины прозрачного листового материала в процессе производства

 

О П И С А Н И Е («) 506756

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное. к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.11.72 (21) 1850773/25-28 с присоединением заявки № (51) М. Кл. б 01В 11/06

Государственный комитет (23) Приоритет

Совета Министров СССР по Лелем изобретений и открытий (53) УДК 531,715,2 (088,8) Опубликовано 15.03.76. Бюллетень № 10

Дат;, опубликования описания 21.05.76 (72) Авторы изобретения A. А. Бялик и С. И. Кадлец (71) Заявитель Киевский филиал Всесоюзного научно-исследовательского и проектноконструкторского института по автоматизации предприятий промышленности строительных материалов (54) СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

ПРОЗРАЧНОГО ЛИСТОВОГО МАТЕРИАЛА В ПРОЦЕССЕ

ПРОИЗВОДСТВА

Изобретение относится к области измерительной техники, предназначено для измерения толщины прозрачного листового материала и может найти применение в производстве, занятом изготовлением листового стекла.

Известен способ бесконтактного измерения толщины прозрачного листового материала в процессе производства, заключающийся в том, что световой пучок от источника света расщепляют на несколько пучков, каждый из которых направляют под заданным углом на контролируемый объект и воспринимают их после прохождения объекта фотоприемником.

Известный способ измерения практически не применим в условиях производства стекла в процессе его изготовления, так как имеющие посторонние засветки могут привести к появлению ложного сигнала с фотоприемника, вследствие отражения посторонних лучей от поверхностей стекла.

Предложенный способ отличается от известного тем, что каждый из пучков модулируют различными частотами, cooHpBIoT промодулированные пучки в один световой пучок, определяют с фотоприемника частоту светового сигнала и о толщине судят по зависимости

«частота светового сигнала — толщина».

Это отличие позволяет повысить помехоустойчивость по отношению к посторонним засветкам, так как влияние фоновых засветок приводит только к увеличению или уменьшению освещенности площадки фотоприемника, частота же сигнала, снимаемого с фотоприем5 ника прп наличии фоновых засветок, не изменяется.

На чертеже показана схема устройства, реализующего описываемый способ. Оно содержит светодиоды 1, волоконно-оптический

10 преобразователь 2 с волокнами 3, генератор 4 частот, соединенный с светодиодами, цилиндрическую линзу 5, плоское зеркало 6, установленное за контролируемым материалом 7, последовательно соединенные фотоприемник 8

15 с диафрагмой 9, частотный дискриминатор 10 и вторичный прибор 11.

Предлагаемый способ реализуется следующим образом.

Свет от малоинерционных источников, на20 пример, светодиодов 1 попадает в волоконнооптический преобразователь 2, каждый ряд волокон 3 которого выведен к отдельному светодиоду 1. Генератор 4 частот осуществляет питание светодиодов 1 напряжением, час25 тота которого различна для всех светодиодов и, таким образом, свет в каждом ряду волокон 3 модулпрован своей частотой. Частота модуляции света, выходящего из волоконно-оптического преобразователя 2 изменяется, 30 например, увеличивается по его длине диск506756

Составитель В. Горшков

Техред О. Кудинова

Редактор С. Байкова

Корректор Л. Орлова

Заказ 1076/4 Изд. № 1215 Тираж 864 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ретно от ряда к ряду. Цилиндрическая линза 5 проецирует световой поток на исследуемый материал 7, например, стекло. Преломленный в стекле световой луч попадает на фотоприемник 8, установленный неподвижно.

Ширина щели диафрагмы 9 такова, что на фотоприемник 8 попадает свет только от одного из рядов волокон и, следовательно, модулированный только одной из возможных частот, соответствующей определенной толщине стекла. Сигнал фотоприемника, частота которого равна частоте модуляции, падающего на него света, поступает в частотный дискриминатор 10, выходной сигнал которого, пропорциональный толщине стекла, поступает на вторичный прибор 11, осуществляющий индикацию результата измерения.

При изменении толщины листового стекла, например, при увеличении ее, изображение выходного торца волоконно-оптического преобразователя 2, получаемое в плоскости фотоприемника 8, смещается и на фотоприемник попадает свет от другого ряда волокон, модулированный большей частотой. Изменение частоты сигнала, пропорциональное изменению толщины, регистрируется вторичным прибором 11, отградуированным в единицах тол5 щины.

Формула изобретения

Способ бесконтактного измерения толщины прозрачного листового материала в процессе

10 производства, заключающийся в том, что световой пучок от источника света расщепляют на несколько пучков, направляют под заданным углом на контролируемый объект и воспринимают их после прохождения объекта фо15 топриемником, отличающийся тем, что, с целью повышения помехоустойчивости по отношению к посторонним засветкам, каждый из пучков модулируют различными частотами, собирают промодулированные пучки в один

20 световой пучок, определяют с фотоприемника частоту светового сигнала и о толщине судят по зависимости «частота светового сигнала — толщина».

Способ бесконтактного измерения толщины прозрачного листового материала в процессе производства Способ бесконтактного измерения толщины прозрачного листового материала в процессе производства 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх