Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную мишень электроннолучевой трубки

 

00 5!4375

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Свез Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 31,08.73 (21) 1957252/25 с присоединением заявки № (51) М. Кл. - Н 01J 9/42

Государственный комитет (23) Приоритет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.385.832 (088.8) Опубликовано 15.05.76. Бюллетень ¹ 18

Дата опубликования описания 30.07.76 (72) Автор изобретения

Э. М, Рауш-Гернет (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ НЕОРТОГОНАЛЬНОСТИ ПАДЕНИЯ

ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА НА НАКОПИТЕЛЬНУЮ МИШЕНЬ

ЭЛЕКТРО H НО-ЛУЧ ЕВОЙ ТРУБКИ а — b а

4а М

Изобретение относится к области производства и испытания электронно-лучевых трубок.

Ортогональность падения электронного пучка на мишень является необходимым условием хорошего качества записи и точного воспроизведения информации, записываемой и сохраняемой на мишени. Очень важным является возможность быстро оценивать неортогональность падения электронного пучка на мишень по величине и направлению в любых точках мишени, Известен способ измерения наклона пучка к мишени в специально изготовленных макетах передающих трубок, использующих вторичноэлектронное усиление обратного пучка (суперортиконов), имеющих выравнивающую сетку перед мишенью, со стороны секции считывания, состоящий в определении взаимного смещения компонент изображения.

Применение этого способа ограничено классом приборов с обратным пучком и выравнивающей сеткой и требует изготовления специальных макетов, »е давая возможности контролировать ортогонализацию пучка в тру.бках непосредственно в эксплу.атационной аппаратуре.

Предлагаемый способ расширяет класс приборов практически на все трубки с накопительными мишенями.

Целью изобретения является обеспечение возможности проведения контроля в любой точке мишени действующей трубки.

Это достигается тем, что по предлагаемому способу считывают накопленные на мишени заряды от ионных следов падающего и отраженного электронного пучка и по полученному на контрольном устройстве взаимному расположению изображений следов судят о наклоне электронного пучка относительно мишени.

Для получения численных величин, характеризующих наклон пучка к мишени в трубках с выравнивающей сеткой, измеряют на экране контрольного устройства размеры и направление ориентровки полученного изображения, 15 причем направление наклона соответствует направлению большой осн изображения, а гол наклона пучка к нормали я определяют по формуле где а — длина изображения по его большой оси;

6 — ширина изображения;

25 d — расстояние сетка-мишень;

М вЂ” масштаб увеличения изображения на экране контрольного устройства.

На фиг. 1 приведена схема формирования

30 ионного отпечатка при наличии выравниваю514375 мишень электронно-лучевой трубки, состоящий в определении взаимного смещения компонент изображения, отл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью обеспечения возможности проведения б контроля в любой точке мишени действующей трубки, считывают накопленные на мишени заряды от ионных следов падающего и отра>кеш ого электронного пучка и по полученному на контрольном устройстве взаимному распо10 ложению изображений следов судят о наклоне электронного пучка относительно мишени.

2, Способ по п. 1, отличающийся тем, что, с целью полу.чения численных величин, характеризующих наклон пучка к мишени в

1б трубках с выравнивающей сеткой, измеряют на экране контрольного устройства размеры и направление ориентировки полученного изображения, причем направление наклона соответствует направлению большой оси изобра20 жепия, а угол наклона пучка к нормали определяют Но формуле а вЂ

25 где а — длина изображения по его большой оси;

Формула изобретения

1. Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную щей сетки и потенциала поверхности мишени, равного потенциалу катода электронной пушки; на фиг. 2 — типичная форма ионного отпечатка для этого случая прн наличии наклона пучка.

Отпечаток имеет вид характерной фигуры из двух симметричных крыльев, направление которой по большой оси соотгютствует направлсшпо наклона пучка.

Электронный пучок 1, приближаясь к мишени 2, пересекает сетку 3, приближается к мишени в точке 4, отражается от мишени в виде отраженного пучка 5. Ионы, образующиеся в объемах б (участок прямого пучка) и 7 (участок отраженного пучка), оседая на мишень, образуют соответственно крылья 8 и 9 ионного отпечатка.

Максимальная ширина крыльев b соответствует сечению пучка в плоскости сетки, длина фигуры а — расстоянию между точками пересечения сетки крайними электронами пучков. При воспроизведении видеосигнала на экране видеоконтрольного устройства измерения проводятся с учетом масштаба увеличения.

Применение описываемого способа к трубкам, не имеющим выравнивающей сетки, дает возможность определить неортогональность пучка и направление наклона без непосредственного измерения угла наклона.

b — ширина изображения;

d — расстояние сетка-мишень;

М вЂ” масштаб увеличения изображения на экране контрольного устройства.

51437

Составитель В. Белоконь

Техред E. Подурушина

Корректор О. Тюрина

Редактор И. Шубина

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1649. 1 Изд. М 1440 Тираж 963 Под.:исиос

Ц11ИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Л(-35, Раушския наб., д. 4, 5

Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную мишень электроннолучевой трубки Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную мишень электроннолучевой трубки Способ контроля неортогональности падения электронного пучка на накопительную мишень электроннолучевой трубки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх