Способ градуировки измерительной схемы

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВ 1 ОРСК ОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<Ц535527

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 30.11.73 (21) .1972645/07 с присоединением заявки— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 15.11.76. Бюллетень Хо 42 (45) Дата опубликования описания 23.11.76 (51) М Кл 2 G 01 К 31/12

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.315 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. М. Кириленко и H. Ф. Садков (71) Заявитель Украинский филиал Всесоюзного научно-исследовательского института стеклопластиков и стекловолокна (54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ

СХЕМЫ

CU, » стр — f (R)» стр — > а

Изобретение относится,к способм электрических измерений и сможет быть использовано при измерении интенсивности поверхностных частичных разрядов.

Известна схема измерения интенсивности частичных разрядов, градуировку которой производят путем подачи внешних импульсов с известными парамепрами на объект исследования (11.

Наиболее близким:к изобретению является способ, по которому градуировка схемы измерения сводится к получению зависимости чувствительности измерительного прибора от измеряемой величины (2).

Однако указанные способы не позволяют объективно и достаточно точно оценить интенсивность частичных разрядов, возникающих на поверхности увлажненных изоляторов, так как .величина сигнала, передаваемого во внешнюю цепь при поверхностных частичных разрядах, зависит от состояния поверхности объекта измерения, которое, в процессе испытания может, резко изменяться, вызывая соответствующие изменения градуированных соотношений. Известные способы градуировки схем измерения интенсивности частичных разрядов не позволяют учесть эти изменения.

Предлагаемый способ позволяет повысить точность при измерении интенсивности поверхностных частичных разрядов. Это достигается тем, что градупровку производят с уче том состояния поверхности изолятооа,прн

> измерении; последнее IKOHTðîëèðóþò по по. верхностному сопротивлению.

5 Градуировку по описываемому способу осуществляют следующим образом.

Параллельно объекту измерения подключают активные сопротивления, имитирующие сопротивление увлажнения поверхности изо10 лятора, и при переменном напряжении определяют зависимость поверхностного сопротивления от амплитуды импульса на экране осциллографа R = f (l), где / — амплитуда импульса на экране осциллографа. Затем при помощи генератора импульсов определяют зависимость чувствительности cëåìû с осциллографом от .поверхностного сопротивления

К осц = f (/ ) > где

С,.U, осп

С,. — емкость объекта измерения;

U. — амплитуда импульса генератора.

Для определения кажущейся интенсивности частичных разрядов AQ,. или зависимости чувствительности схемы со стрелочным прибором

535527

Формула изобретения

К„„=1 Я) или К„р — / (R).

Составитель Е. Рубцова

Техред А. Камышникова Корректор В. Гутман

Редактор А. Пейсоченко

Заказ 1018/1569 Изд. № 1783 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент» где n — отклонение стрелочного прибора для определения среднего тока, разрядов, Указанные за внсимости находят при раз личных значениях 1,р.

С помощью полученных градуировочных кривых измерение интенсивности поверхностных частичных разрядов проводят в следующей последовательности.

При напряжениях, недостаточных для образования подсушенного участка, находят величину поверхностного сопротивления по градуировочной,кривой R = f(I) и постоянную чувствительности регистрирующего прибора

После проведенной градуировки, сняв показания ;прибора при испытательном напряжении, определяют количественные характеристики поверхностных частичных разрядов

Способ градуиров ки измерительной схемы, регистрирующей частичные разряды, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью, повышения точности при измерении интенсивности поверхностных частичных разрядов, градуировку производят при включении параллельно объекту испытания активных сопротивлений, имитирующих поверхностное сопротивление последнего, определяемое непосредственно при измерении.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Д. Вайда «Исследование рловреждения изоляции», «Энергия», М., 19б8, стр. 323.

2. Д. М. Казарновский и Б. М. Тареез

«Испытания электроизоляционных материалов», «Энергия», М., 19б9, стр. 172 †1.