Устройство для флоуресцентного рентгенорадиометрического анализа

 

iii! 543289

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.05.75 (21) 2138080/25 (51) М. Кл. - G 01N 23/223 с присоединением заявки ¹

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.01.78. Бюллетень № 4 (45) Дата опубликования описания 08.02.78 (53) УДК 621.386(088.8) ФЙД И Ep$gg (72) Авторы изобретения

В. В. Бердиков, О. И. Григорьев и Б. С. Иохин (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФЛУОРЕСЦЕНТНОГО РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА крп30

Изобретение относится к рентгенорадиометрическому анализу.

Известен способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа, заключающийся в том, что возбуждают флуоресцентное излучение пробы и регистрируют его с помощью полупроводникового детектора с энергетическим разрешением (1).

Известно устройство для флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа, содержащее источник возбуждающего излучения, держатель пробы, полупроводниковый детектор с энергетическим разрешением (2).

Недостатком известных способа и устройства является то, что в детектор, кроме характеристического излучения анализируемых элементов, попадают кванты рассеянного на пробе излучения, что ухудшает соотношение сигнал/фон. Особенно указанный эффект проявляется при малых концентрациях анализируемых элементов.

Для улучшения соотношения сигнал/фон предлагаемое устройство содержит кристалл, обладающий низкой разрешающей способностью и высоким коэффициентом отражения, например пирографит, который установлен так, что он выделяет из спектра флуоресцентного излучения пробы требуемую область и направляет выделенное излучение на полупроводниковый детектор. Кроме того, плоскость, в которой расположены падающий на кристалл и отраженный от него пучки, перпендикулярна падающему на пробу пучку.

На чертеже изображено предлагаемое устройство, общий впд.

Устройство содержит трансмиссионную маломощную рентгеновскую трубку 1 с выходным окном 2, коллпматор 3, пробу 4, коллиматор Соллера 5, кристалл 6 пирографита, кри10 остат 7. Si (Li)-детектор 8 установлен в криостате и связан с электронным трактом. Пучок излучения из трубки 1 возбуждает характеристическое излучение элементов, содержащихся в пробе 4. Излучение от пробы через

15 коллиматор 5 падает под углом 0 на кристалл 6.

Коллиматор между пробой и детектором выбирают так, что раствор падающего на кристалл пучка приблизительно равен полу20 ширине кривой разорпентировкп нормали кристалла. При этом кристалл эффективно отражает в детектор лишь кванты с энергией в интервале Е,, 4-АЕ, где

hC hc cos О

2d sin 8 2d sin - 8 где h — постоянная Планка; с — скорость света;

d — межплоскостное расстояние сталла;

543289

Формула изобретения

Составитель К. Кононов

Техред Л. Гладкова

Редактор И. Шубина

Корректор А. Степанова

Заказ 3339/17 Изд. № 161 Тираж 1109

НПО Государственного комитста Совета Министров СССР по дслаа1 изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Рауьпская наб., д. 4/5

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2

ЛΠ— полуширина кривой разориентировки нормали.

Если при этом для энергии возбуждающего излучения Ео соблюдено условие

) Eo+ 2 E, Ео

1 -+ тс2 где т — масса покоя электрона, то рассеянные на пробе кванты не попадают в детектор и не создают пика, а главное — низкоэнергетичного «хвоста» в амплитудном спектре импульсов от детектора, что позволяет существенно улучшить соотношение сигнал/фон.

Компоненты устройства расположены так, что плоскость, в которой расположены падающий на кристалл и отраженный от него пучки, перпендикулярна падающему на пробу пучку от трубки.

Это дополнительно снижает фон под аналитическими пиками (возникающий из-за неидеальной монохроматичности пучка возбуждающего излучения) за счет поляризации рассеянных на пробе квантов.

Для увеличения светосилы устройства может быть установлен не один кристалл, а несколько (в разных плоскостях).

1. Устройство для флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа, содержащее

5 источник возбуждающего излучения, держатель пробы, полупроводниковый детектор, отличающееся тем, что, с целью улучшения соотношения спгнал/фон, îíî содерж1гг кристалл, обладающий низкой разрешающей

10 способностью и высоким коэффициентом отражения, например пирографит, который установлен так, что он выделяет из спектра флуоресцентного излучения пробы требуемую область и направляет выделенное излучение

15 на полупроводниковый детектор.

2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что плоскость, в которой расположены падающий иа кристалл и отрахкенный от него пучки, перпендикулярна падающему на

20 пробу пучку .

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Russ J. Quantitative Results with Х-ray

luorescence Ярес1гогпе1гу using Energy Disper25 sive Analysis of Х-Rays. «Х-гау Spectrom.», 1972, 1, ¹ 3, 119.

2 Pickles %. Advances in Х-гау Analysis, 1974, 17, 337.

Устройство для флоуресцентного рентгенорадиометрического анализа Устройство для флоуресцентного рентгенорадиометрического анализа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх