Скоростной спектометр

 

САМИ Е

ОП И

ИЗОБРЕТЕНИЯ,i)) 54487 0

Союз СоветскИХ

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.04.74 (21) 2012548/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.01.77. Бюллетень № 4

Дата опубликования описания 21.03.77 (51) М. Кл. G OIJ 3/42

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 535.853(088.8) (72) Авторы изобретения

О. Д. Дмитриевский и Ю. Д. Пушкин (71) Заявитель (54) СКОРОСТНОЙ СПЕКТРОМЕТР

Йзобретение относится к оптическому спектральному приборостроению и может использоваться при регистрации оптических спектров с высокой точностью определения длин волн.

Известны скоростные спектрометры с электронными осциллографами, в которых градуировка по длинам волн производится посредством одновременной регистрации на одну спектрограмму известного и неизвестного спектров.

Такая градуировка неудобна, а иногда даже невозможна, так как трудно подобрать градуировочный спектр, удовлетворяющий противоречивым требованиям: спектр должен иметь много полос для градуировки и в то же время иметь достаточно свободных от полос зон для того, чтобы можно было наблюдать на экране осциллографа исследуемый спектр.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является скоростной спектрометр, содержащий оптическую систему с входной щелью, систему сканирования спектра, фотоэлектрический приемник, установленный на выходе оптической системы, осциллограф, подключенный к выходу фотоэлектрического приемника, и устройство градуировки по длинам волн.

В спектрометре использован двухлучевой осциллограф: один луч записывает изучаемый спектр, а другой — серию импульсов с выхода устройства градуировки по длинам волн, которое выполнено в виде последовательно расположенных источника света, сетки, связанной с системой сканирования спектра, и фотоприемника.

Недостатком спектрометра является низкая точность градупровки по длинам волн вследствие того, что, во-первых, число прорезей на сетке не может быть сделано достаточно большим и, во-вторых, сказывается нестабильность

10 положений двух лучей осциллографа.

Целью изобретения является повышение точности градупровки скоростного спектрометра по длинам волн.

Это достигается тем, что в предлагаемом

15 спектрометре устройство градупровкп по длинам волн выполнено в виде расположенной параллельно входной щели в плоскости неподвижного изображения спектра непрозрачной нити, снабженной механизмом перемещения.

20 На фпг. 1 представлена схема предлагаемого спектрометра; на фиг. 2 — впд по стрелке

А на фпг. 1.

Спектрометр имеет входную щель 1, коллиматор 2, установленный за входной щелью, ди25 фракционную решетку 3, установленную за ним, камерный объектив 4, рамку 5 с размещенной в ней непрозрачной нитью 6, механизм

7 перемещения нити 6, сферические зеркала

8 н 9, сканирующее зеркало 10, выходную

30 щель 11, фотоэлектрический приемник 12 и

544870 подключенный к его выходу осциллограф 13.

Спектрометр работает следующим образом.

Оптическая система, состоящая из щели 1, сферических зеркал 8 и 9 и плоской дифракционной решетки 6, формирует неподвижное изображение спектра в плоскости аб, где установлена рамка 5 с нитью 6. Рамка 5 может перемещаться механизмом 7 перемещения по изображению спектра аб. Нить 6 устанавливается параллельно неподвижному изображению спектра в плоскости аб. При этом нить 5 закрывает узкий участок спектра (ширина участка определяется толщиной нити), который при сканировании спектра дает на спектрограмме провал интенсивности, аналогичный полосе поглощения с нулевым пропусканием.

Сканирование спектра осуществляется сканирующим зеркалом 10, на которое падает параллельный пучок, формируемый сферическим зеркалом 8. Зеркало 9 отображает спектр в плоскость выходной щели 11. Оптический сигнал фотоэлектрическим приемником 12 преобразуется в электрический и поступает на вход осциллографа 13. При перемещении нити по неподвижному изображению спектра с помощью механизма перемещения нити по спектрогра мме на экране осциллографа перемещается провал, который может быть совмещен с июбой полосой.

Отсчет длины волны, перекрываемой нитью

6, производится по заранее откалиброванному барабану механизма 7 перемещения нити. Точность отсчетов может быть весьма высокой, если использовать соответствующий механизм перемещения, например, с микрометрическим винтом.

Спектрометр с описанной градуировочной системой может быть использован при регистрации как спектров абсорбции, так и спектров эмиссии. В последнем случае нить 6 может полностью закрывать одну из спектральных линий.

15 Формула изобретения

Скоростной спектрометр, содержащий оптическую систему с входной щелью, систему сканирования спектра, фотоэлектрический приемник, установленный на выходе оптической си20 стемы, осциллограф, подключенный к выходу фотоэлектрического приемника, и устройство градуировки спектрометра по длинам волн, отличающийся тем, что, с целью повышения точности градуировки по длинам волн, 25 устройство градуировки по длинам волн выполнено в виде расположенной параллельно входной щели в плоскости неподвижного изображения спектра непрозрачной нити, снабженной механизмом перемещения.

544870

/| !

1!

1, I и уг. 7

Составитель А, Субочев

Техред Л. Гладкова

Корректор А. Степанова

Редактор Е. Караулова

Заказ 358/5 Изд. № 195 Тираж 829 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

)II

/ / 77 и

Изс ра.". :" ,г,-;:.ние спектра

Скоростной спектометр Скоростной спектометр Скоростной спектометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх