Автоматический классификатор транзисторов

 

557436 технологических операциях выводы большинства приборов деформируются, принимая

IipI1 sToM произвольную форму. Перед загрузкой приборов его выводы рихтуются специальным механизмом, но после рихтовки Ie всегда могут быть вставлены в отверстия Головки °

Эти недостатки значительно снижают производительность и надежность работы классификатора.

Целью изобретения является повышение произвоцительности и надежности работы классификатора.

Эта цель достигается тем, что устройство подключения содержит два разводящих ножа, один из которых неподвижно закрепz-ен вдоль пути перемещения транзисторов и имеет поперечный IIàç цля Bxoäà подвижного разводящего ножа, а парные контакты выполнены в виде неподвижных, расположен- 20 ных на продолжении неподвижного ножа, и пэдви>кных поцпружиненных контактных площадок.

На фиг. 1 схематическ показан предложенный автоматический классификатор тран- зисторэв; на фиг. 2 — сечение по А-А на фиг., на фиг. 3 — сечение по Б-B на. фиг. 2; на фиг. 4 — сечение по В-В нафиг. 1; на фиг. 5 — сечение по Г-Г на фиг. l.

Автоматический классификатор цранзис- >О торов состоит из загрузочного устройства, содержащего вибробункер (не показан) и питатель 1 трансllopTHO-подключающего чст> ройства, содержащего транспортирующий ротор 2 и устройство подключения 3- ме- З

) ханизма ориентации 4; измерителя параметров 5, логического устройства. На последней позиции для выгрузки неразбракованных транзисторов неподвижно закреплена пластина 6. 40

Транспортирующий ротор 2, выполненный в виде диска с гнездами по периферии для загрузки транзисторов, получает прерывистое вращение, например., от мальтийского механизма. Он окружен неподвижно закреп- Ы ленцой обоймой 7 для удержания транзистор О в в гчездах ротора 2 при его вращении.

Устройство подключения 3 транзисторов к измерителю параметров содержит разводящие ножи 8, 9 трапецэидального попереч- 50 ного сечения и прижимы 10,11, один из которых (10) закреплен на каретке 12, совершающей прямолинейное перемещение от кулачка 13 через рычаг 14. Другой прижим 11 установлен на оси 15, закреплен- 55 ной на стойке 16, и поворачивается вокруг осН упором 17, смонтированным на каретке 12.

Нож 8, располо>вечный liop ротором 2, неподвижно закреплен вдоль пути транс- 60 портируемого транзистора и имеет поперечный паз для входа второго ножа 9,. который закреплен на совершающем с помощью рычага 18 и пружииь; 19 возвратно-поступательные персмсщечия ползуне 20. В задней утонченной части ножа 8 на диэлектрических подкладках 21 закреплены неподвижные контактные площадки 22 контактных групп, подвижные кэнтактные площадки 23 которых закреплены на вкладышах 24 из ди электр ич еск ого матер нала.

Вкладыши 24 имеют выступы, заостренные со стороны соседних контактных площадок, что исключает возможность замыкания двух выводов между собой в момент подключения Вкладыши установлены в кэрпусах 25, закрепленных на прижимах 10, 11, и поцпружинены цилиндрическими пружинами 26, чем обеспечивается необходимое усилие прижима на каждом из выводов и компенсации неточности расположения вывода относительно контактных площадок.

Между вкладьпцами располагают пластины

27, являющиеся экранами.

Автоматический классификатор транзисторов работает следующим образом.

Из вибробункера транзисторы поступают в питатель 1, откуда под действием силы тяжести и напора струи сжатого воздуха загружаются в гнезда транспортирующего ротора 2, совершающего прерывистое вращение. Используя перемещение транспортирующего ротора на шаг, механизм эриенTaIIHH 4 производит ориентацию транзистора. При последующем движении транзисторов, находч|цегося в гнезде ротора, выводы его находят на неподвижный нож 8 устройства подключения 3 и разводятся за счет трапецеидальногэ поперечного сечения ножа. Как только транзистор приходит на следующую позицию, подвижный нож 9, получая перемещение посредствэм рычага 18, разводит выводы в перпендикулярной направлению движения ротора плоскости. На следующей позиции прижимы 10, 11, перемещаемые посредством рычага 14, зажимают каждый вывод между подвижными

23 и неподвижными 22 контактными площадками, подключая тем самым транзистор к измерителю параметров 5. При последующих поворотах ротора 2 транзистор последовательно проходит через все позиции выгрузки, на одной из которых сбрасывается в приемную емкость по команде от логического устройства, Неразбракованные транзисторы из-за отсутствия контакти эвания разгружаются пластинэй 6.

Формула изобретения

Автоматический классификатор транзисторов, содержащий загрузочное, логическое, сортирующее устройства, транспортно-подклю-к чающее устройство с контактами, измеритель параметров> отлич ающийся тем, что, с целью повышения производительности и надежности работы, устройство подключения содержит два разводящих ножа, щ один из которых неподвижно закреплен вдоль пути перемещения транзисторов и имеет поперечный паз для входа подвижного разводящего ножа, а парные контакты выполнены в виде неподвижных, расположенных íà про— должении неподвижного можа, и подвижных подпружиненных контактных площадок.

Источники информации, принятые во вняв мание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР

% 328651, кл. Н 01 Н il00, 1870 -.

2. К). il. Рогов и др. Некоторые особенности конструирования многоцозиционных механических систем контрольно-классификационных комплексов, "Электронная техника", серия 12, 1970, вып. 2, с. 94108 .

557436

A-A пюйр уы

b-Б

Л В, Ltbpphyл о 7иг. Ф - Г пойрнут

Тира к 976

Подписное

1НИИПИ Заказ 866/82

Филиал ППП "Патент», г. Ужгэрсд, ул. Преектна, 4

Автоматический классификатор транзисторов Автоматический классификатор транзисторов Автоматический классификатор транзисторов Автоматический классификатор транзисторов Автоматический классификатор транзисторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх