Устройство для контроля профиля нагретых изделий

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (1) ЫЕХОЗ (6l) Дополнительное к авт. свил-ay¹ 318804 (22) Заявлено 15,07.75 (2Е) 2157827/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет(43) Опубликовано25.05.77.Бюллетень № 19 (51) М. Кл

Cr 01 В 7/06

Гасударственный каннтет

Соввтв Мнннстров СССР аа делам нзааретеннй н аткрытнй (53) УДК620.179.14 (088.8) (45).Дата опубликования описания25.07.77 (72) Авторы изобретения

В, В. Анташов, А. Л. Баранников, В. Г. Петров, Б. К. Феоктистов и А, А. Юрченко (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОФИЛЯ НАГРЕТЫХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к средствам, основанным на физических методах контроля качества материалов и изделий, и может быть использовано для контроля качества различных оболочек находящихся под воэдействием механических напряжений.

По основному авт. св. ¹ 318804 известно устройство для контроля профиля нагретых изделий, содержащее многопозиционный индикатор термоэлектронной эмис- Ео сии с поверхности контролируемого изделия.

Однако контроль оболочек при механических нагрузках этим устройством невозможен, так как отсутствуют средства для l5 одновременного нагрева оболочки и механического воздействия на нее, Е1ель изобретения — обеспечение также и контроля нагретых оболочек при механических нагрузках, . 20

Это достигается тем, что устройство снабжено нагревателем, охватывающим контролируемый профиль оболочки и электроды, и источником избыточного давления; сообщающимся с оболочкой. 25

На чертеже представлена схема устройства для контроля цилиндрической оболочки.

1Еилиндрическая оболочка 1, изготовленная из вольфрама, молибдена, ниобия или тантала, установлена на технологическом переходнике 2 и нагружена внутриполостным давлением инертного газа. Нагреватель 3, изготовленный из вольфрамовых прутков> обеспечивает необходимую температуру испытываемой оболочки. Для уменьшения потерь тепла в окружаюшее пространство нагреватель и оболочка обнесены многослойным тепловым экраном 4. Эмиссионный ток измеряют между испытываемой оболочкой— катодом и собираюшим электродом-анодом

5, который имеет форму кольца и выполнен из тугоплавкого материала и укреплен на изоляторах 6, изготовленных, например, из окиси бериллия. Для измерения тока эмиссии служит измерительная схема 7, Предлагаемое устройство работает следующим образом.

Ненагруженная обол очка разогревается до рабочей температуры, а установившийся между электродами измерительной схе559103

Составитель А. Духанин

Редактор М. Рогова Техред А. Демьянова корректор П. Макаревич

Заказ 1483/93 Тираж 907 П одписное

lIHHHl IH Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4 мы эмиссионный ток фиксируется как нулевая точка. После подачи газа в полость оболочки ее диаметр псйучает приращение, обусловленное деформациями ползучести конструкйионнаго материала, Зазор между оболочкой - катодом и электродом-анодом уменьшаетСа, что приводит к увеличению эмиссионного тока.

По функции его от времени можно судить о качестве, например о папзучести, оболочки.

Если деталь имеет сложную конфигурацию и постановка одного анода не дает возможность судить о деформации всей поверхности, то используются несколько элек. тродов, отслеживающих форму детали.

Формула изобретения

Устройство для контроля профиля нагретых изделий по авт, св. Ж 318804, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью контроля также и оболочек при механических нагрузках, оно снабжено нагревателем, охватывающим контролируемый профиль. оболочки и электроды, и источником избыточного давления, сообщающимся с оболоч кой

Устройство для контроля профиля нагретых изделий Устройство для контроля профиля нагретых изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх