Ренгтгеновский спектрометр

 

ОПИ

ИЗОБ

Х ABTOPCK

Союз Советскыз

Социалистических

Республик

) 579567 (61) Дополнитель (22) Заявлено 080 с присоединением (И) Приоритет— (43) Онубликован (45) Дата опубли

3) М. Кл.

q 01 К 23/22

1ввФРРв1ввввив IIвтвт

6вввтв Иввввтввв 666Р вв 6ваа ввв66втввв6 в втввитвй

) УДК 543.53 (088. 8) (72) Авторы изобретения

К.И. Нарбутт (73) ЗанннтЕЛЬ Институт минералогии, геохимии и кристаллохимии редких элементов (54) РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРОИЕТР

Изобретение относится к приборам для рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. Оно может быть использовано при анализе руд, минералов и кбнцентратов на содержание редкоземельных элементов по спектрам

Ь -серии преимущественно в лабораторных условиях.

Известны вакуумные рентгеновские спектрометры с флуоресцентным возбуждением характеристического излучения пробы(1, содержащие источник первичного рентгеновского излучения, вторичный излучатель, кристалл-анализатор и приемную щель с детектором рентгеновского излучения, спектрометрическое устройство рычажно-ленточного типа. Сканирование спектра осуществляется угловыми перемещениями кристалла-анализатора и приемной щели с детектором. Спектрометрическое устройство помещено в вакуумный бак большим размеров.

В рентгеновском спектрометре Сандстрема12)используется рычажное спектрометрическое устройство с прямолинейным перемещением приемной щели с детектором, обеспечивающим вариацию только угла отражения пучка рентгеновских лучей от кристалла-анализатора при сканировании узкого участка спектра. Угол падения лучей на кристалл-анализатор устанавливается вручную. Вся подвижная система помещена в большой вакуумный объем(2), Известен рентгеновский спектрометр(3), содержащий источник рентгеновского излучения, прободержатель, кристалл-анализатор и детектор, приор чем кристалл-анализатор и детектор установлены с воэможностью перемещения друг относительно друга вдоль прямолинейной направляющей с помощью двухэвенного рычага, длина звеньев

)6 которого равна радиусу окружности

Роуланда и которые соединены с кристаллом-анализатором н детектором таким образом, что обеспечивается отношение углов поворота кристалла-анаЯ лиэатора и детектора по отношению к пучку флуоресцентного излучения пробы 1:2.,В этом спектрометре линия центр кристалла-анализатора — центр пробы остается неподвижной и точная

Яб фокусировка при иэмененин длины волны регистрируемого излучения обеспечивается разворотом направляющей с детектором излучения. В результате устройство усложняется, габариты

80 его увеличиваются.

579567

Цель изобретения — упрощение спектрометра и уменьшение его габаритов.

Согласно изобретению, поставленная цель достигается благодаря тому, чтО кристалл-анализатор соединен с

f шарнирным параллелограммом, одна вершина которого установлена на оси соединения кристалла-анализатора со звеном двухэвенного рычага. Одно звено

Пар елогра а ф ксировано в направ- 10 ленин относительного перемещения кристалла"анализатор и детектора, а звено параллелограмма, смежное с упоминутым звеном и кристаллом-анализатором, установлено с воэможностью поворота и линейного перемещения относительно оси, проходящей через прободержатель.

Кроме. того, между прободержателем и кристаллом-анализатором установлена диафрагма,. подвижная в направлений, @ параллельйом направлению относительного перемещения кристалла-анализато. ра и детектора.

На Фиг. 1 схематически показан пред- 25 ложенный рентгеновский спектрометр) на Фиг. 2 — кинематическая схема спектрометра.

Вакуумный рентгеновский спектромвтр (Фиг. 1) содержит станину 1, под- 30 вижную плаТформу 2, подвижную каретку Э, рукоятку 4 для смещения платформы 2, сильфоны 5 и б, подвижную диафрагму 7, диафрагмы 8 и 9, поворотный диск 10 с гнездами для вторичных иэлу-др чателей (в рабочем положении находится вторичный излучатель Q ), источник первичного рентгеновского излУчения (ие показан).

На подвижной платформе 2 установ- 4р ланы кристалл-анализатор 11 и отсчетиый микроскоп 12. На каретке 3 укреплена приемная щель 13 с расположенным позади нее детектором рентгеновского излучения 14. Кроме того, на каретке 345 выполнена отсчетная шкала 15.

Каретка 3 "вязана с платформой 2 и станиной 1 системой рычаговг, образованной (фиг. 2) звеньями ОК и 05 двухэвенного рычага, и рычагами KGi 6О

С Н,,Hp . Подвижная диафрагма 7 связана с осью кристалла-анализатора рычагом переменной длины KQ.

Платформа 2 может перемещаться по станине 1 в направлении оптической оси KS прибора. В том же направлеыии может перемещаться каретка 3 по платформе 2.

Вертикаль(ые оси кристалла-анализатора 11 и приемной щели 13 связаны звеньямй GK и 08 (ОК -" 08 ). ®

При этом радиальное звено КО жестко скреплено с кристаллом-анализатором (перпендикулярно к последнему), звено ЯО может поворачиваться вокруг вертикальной оси щели 13, так чтО 65 плоскость щели всегда перпендикуляРна оси К8, Устройство работает следующим образом.

Под действием первичного рентгеновского излучения вторичный излучатель испускает характеристическое излучение, которое, пройдя через диафрагму 7, широким пучком падает на кристалл анализатор 11 под углом 8 . Отраженный сфокуснрованный кристалломанализатором пучок рентгеновских лучей попадает в приемную щель 13 и регистрируется детектором излучения 14 и блоками измерения интенсивности рентгеновского излучения (не показаны).

Отсчет рабочего положения спектрометрического устройства осуществляется с помощью микроскопа 12 и шкалы 15.

Переход на другое рабочее положение (другую длину волны) или непрерывное сканирование спектра осуществляется смещением платформы 2 с помощью рукоятки 4 (или механического привода), сопРовождающимися через систему рычагов KQ ЯН, Кф и звенья ОК, OS соответствующими движениями кристалла-анализатора, приемной рели и шибера.

Таким образом, в предложенном спектрометре для точной фокусировки используется только прямолинейное перемещение кристалла-анализатора и детектора, что обеспечивает уменьшение габаритов устройства.

Формула изобретения

Рентгеновский спектрометр, содержащий источник рентгеновского излучения, прободержатель, кристалл-анализатор и детектор, причем кристалланализатор н детектор установлены с воэможностью перемещения друг относительно друга вдоль прямолинейной направляющей с помощью двухзвенного рычага, длина звеньев которого равна радиусу окружности Роуланда и которые соединены с кристаллом-анализа-. тором и детектором таким образом, что обеспечивается отношение углов поворота кристалла-анализатора и детектора по отношению к пучку флуоресцентного излучения пробы 1:2, о тл и ч а ю шийся тем, что,с целью упрощения и снижения габаритов спектрометра,кристалл-анализатор соединен с шарнирным параллелограммом, одна вершина которого шарнирно установлена на оси соединения кристалла-ана-лизатора со звеном двухзвенного рычага, одно звено параллелограмма фиксировано в направлении относительного перемещения кристалла-анализатора и детектора, а звено параллелограмма, смежное с упомянутым звеном и крис579567 к

Рие Р

ЦИИИПИ Заказ 4388/42 Тираж 1101 Подписное

Ф илиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4 таллом-анализатором, установлено с возможностью поворота и линейного перемещения относительно оси, про" ходящей через прободержатель.

2. Спектрометр. по п.1, о т л ич а ю шийся тем, что между прободержателем и кристаллом-анализатором установлена диафрагма, подвижная в направлении, параллельном на.правлению относительного перемещения кристалла-анализатора и детектор.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Блохин М.A. Методы рентгеноспектральных исследований. Л., 1959, c . .293.

Ъ.Saadstvam А.Е. At kiv for Гуа 4, 1954, 8, 10, 129.

3. Патент CBR В 27833В5, кл. 250-51.5, 1957.

У f3 1ф

Ренгтгеновский спектрометр Ренгтгеновский спектрометр Ренгтгеновский спектрометр 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к методам анализа материалов радиационными способами и может быть использовано для определения тяжелых элементов, в том числе и благородных металлов при низких субфоновых их содержаниях в горных породах, рудах и минеральных при поиске, разведке и отработке рудных месторождений

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области исследований и анализа материалов путем определения их физических свойств, а именно для исследования параметров каналов нанометрических размеров в трековых мембранах, и может быть использовано при изготовлении объектов из трековых мембран для анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к области инструментального химического анализа, в частности к области аналитической химии

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к исследованию конструкций, содержащих делящееся вещество, например подкритических сборок и ТВЭЛов
Наверх