Образец для определения модуля упругости покрытия

 

ОП ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (,1) 593l09

Союз Советских

Союиалистичоских

Рвсо)алии (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.05.76 (21) 2361852/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 15.02.78, Бюллетень № 6 (45) Дата опубликования описания 24.02.78 (51) М. Кл G 0)N 1/28

Государственных ксмн-.зт

Совета Министров СС."Р ло делам изобретений и открытий (53) УДК 620.1)5,8 (088.8) (72) Авторы изобретения

И. Г. Шерман и Л. А. Ярошевская (71) Заявитель Научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт эмалированного химического оборудования (54) ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ

ПОКРЫТИЯ

Изобретение относится к области механических испытаний материалов, в частности к образцам для определения модуля упругости покрытия.

Известен образец для определения модуля упругости, содержащий основу в виде металлической пластины и нанесенное на нее покрытие (1).

Указанный образец является наиболее близким к предложенному по технической сущности и достигаемому эффекту.

Кедостаток его в низкой точности определения модуля упругости вследствие неравномерной толщины покрытия.

Для повышения точности определения модуля упругости в предлагаемом образце основа выполнена с двумя симметрично расположенными на противоположных поверхностях продольными выемками в форме параллелепипеда, заполненными покрытием заподлицо с поверхностью основы.

На фиг. 1 изображен предложенный образец, вид спереди; на фиг. 2 — сечение А — А фиг. 1.

Образец выполнен в виде металлической пластины 1, на противоположных поверхностях которой вдоль всей длины образца выполнены продольные выемки 2, 3 в форме параллелепипеда, заполненные покрытием 4 заподлицо с поверхностью основы.

5 При определении модуля упругости одним из известных способов напряжения вычисляются с высокой точностью, поскольку равномерность толщины покрытия обеспечивает точный расчет геометрических характеристик сечения

10 обр азца.

Формула изобретения

Образец для определения модуля упругости покрытия, содержащий основу в виде металли15 ческой пластины и нанесенное на нее покрытие, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения модуля упругости, основа выполнена с двумя симметрично расположенными на противоположных поверх20 ностях продольными выемками в форме параллелепипеда, заполненными покрытием заподлицо с повсрхностью основы.

Источники информации, ирииягые во внимание при экспертизе

25 1. ОСТ 26-01-750-73 «Покрытия стеклоэмалевые. «Методы механических испытаний», 593)09 ! я!

Рыт i

Составитель М. Кузьмин

Редактор И. Марголис Техред А. Камышникова Корректоры: В. Дод и Л. Котова

Подписное

Заказ 49/10 Изд. № 260 Тираж 1029

НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Образец для определения модуля упругости покрытия Образец для определения модуля упругости покрытия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицине, а именно к анатомии, топографической анатомии, патологической анатомии и может быть использовано для изучения лимфоидных узелков в тотальных анатомических препаратах макромикроскопическом поле видения в норме, в возрастном аспекте, в эксперименте и патологии

Изобретение относится к анализу экологического состояния и мониторинга окружающей среды, в частности воздушного бассейна

Изобретение относится к технике отбора проб сжатых газов и воздуха при контроле в них содержания примесей масла, влаги, окиси углерода, двуокиси углерода и других примесей преимущественно линейно-колористическим методом с использованием индикаторных трубок

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования
Изобретение относится к медицине, точнее к технике изготовления гистологических образцов различных тканей, и может быть использовано при дифференциальной диагностике патологических состояний организма

Изобретение относится к цитологии
Наверх