Способ атомно-абсорционного анализа вещества

 

ОЙЙСАНИЕ

И ЗОБ РЕ 7 Е Н ИЯ

iiii 643758 (61) Дополнительное к авт. свнд.ву (22) Заявлеио04.08. 77 (2t ) 2514745118-25

С присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано25,01.79.Ьвллетень № 3

Пата опубликования опн ання 28.01,79 (Я) М. Кл.

5 01 Т 3/42

regyAlpeYseHHMg еиятат

СССР

В ДЕЛВМ N396PHT6HNii и аткрм7яя

Д) gay 5З5.Ç4Ç.

1 (088.8) (72} Автор изобретения

E. j1. Пру д1п1к Ов

f i;.

> e,.

I (Ленинградский ордена Ленина и ордена Трудовогg Красного с

;замени государственный университет им. A. A. Ефанова

% (71} Заявитель (54) СПОСОБ ATONHO-ë БСОРБЦИОННОГО ДНА ЛИЗА

БЕ1ЦЕСТБА

Изобретение относится к атомно-"6сорбционному спектральному анализу и может быть использовано при разработ ке простых и дешевых атомнс -абсорбUHoHHhix спектрофотометров, предназначенных для анализа микросодержаний элементов в сложных Объектах.

Известен способ атомно-абсОрбциОНного спектрального анализа ве пества, при котором для учета неселективного поглощения пары вещества поочередно просвечивают излучением с узкой резонансной линией и с самообращенпой пинией (1).

Недостатком такого способа является трудность его реализации, так как при этом необходимо иметь два источника света, Наиболее близким к предложенному по технической сущности является способ атомно-абсорбционного анализа вещества,-включающ .й просвечивание паров вещества излучением импульсно питаемой газоразрядной Iaìaû с линейчатым спектром (2).

Lro HegocraTxov является низкая точность измерений, поскольку неселектив= ное поглощение измеряется на далеко

5 отстоящих длинах вопн, соответствующпх разным элементам.

1 ель изобретения — повышение точности измерений.

Это достигается тем, что в извест ном способе в пространство между парами вещества и газоразрядной лампой периодически вводят пары атомов определяемых элементов синхронно с импульсами питания; газоразрядной лампы.

На фиг. 1 графически изображен профиль линии излучения при импульс ном испускании лампой только узкой резонансной линии элемента с максимальной интенсивностью в центре линии; на фиг. 2 — профшть линии излучения, испускаемого лампой и прошедшего через облако паров определяемого элемента.

Во втором случае происходит снижение интенсивности пинии за счет поглощения ее центральной части атомами, введенными между источником и парами вещества. Пропуская излучение; имевшее приведенные на уиг. 1 и фиг. 2 профили1 можно добиться одинаковых ве пичин погпощения, вызываемых несепективными помехами.

Импульсное введение паров onpegenae мого эаемента можно осуществлять с помощью различных средств: дуги, искры, памп с полым катодом, безэпектродных пампе

Способ обладает высокой эффективностью снижения интенсивности излучения в центре пинии, позвопяет существ венно снизить влияние несепективного погпощения парами вещества на ошибку измерения атомного поглощения и повысить точность измерения.

3758 4

Формула изобретения

Способ атомно-абсорбционного анапи- за вещества,включаищий просвечивание йаров вещества излучением импульсно питае5 мой газоразрядной пампы с пинейча— тым спектром, о r л и ч а ю m и и с я тем„что, с цепью повышения точности измерений, в пространство между парами вещества и газоразрядной пампой перио 0 дически вводят пары атомов опредепяемых элементов синхронно с импульсами питания газоразрядиой пампы.

Источи ки информации, принятые во внимание при экспертизе.

1. Авторское свидетельство СССР

34481043, кп. O 01 Х 3/42, 1973.

2.Т.Aroi and аИ "Advent ъогебеп р а<ов с аЬьогЫ1ол spectvofotometev

u sing с1 pu0s4 НОЕВО% ссАЬОЬ щтцР.

2О Appt. Spect r os@,. 197 7) 31 4 2,p.450

Составитель А. Субочев

Редактор Н. Разумова Техред 3. Фанта Корректор С. Шекмар

Заказ 80 10/38 Тираж Рб " Подписное

БНИИПИ Государственного комитета СССР по дедам изобретений и открытий

113035, Москва, K-35, Раущская наб., д, 4/5

Фипиап ППИ Пм@нт, г. Ужгород, уп. Проектная, 4

Способ атомно-абсорционного анализа вещества Способ атомно-абсорционного анализа вещества 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх