Способ радиационной дефектоскопии

 

(19)SU(11)650427(13)A1(51)  МПК ⁵    _G01N23/04(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.12.2012 - прекратил действиеПошлина:

(54) СПОСОБ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Изобретение относится к радиационной дефектоскопии, в частности, может быть использовано в рентгенотелевидении, рентгено-(гамма)-графии, нейтронографии и других методах радиационной дефектоскопии. Известен способ радиационной дефектоскопии, по которому контролируемую деталь облучают источником излучения и регистрируют ее изображение на экране преобразователя с использованием многосетчатых масок, устанавливаемых перед детектором излучения. Известен также способ радиационной дефектоскопии, по которому контролируемую деталь облучают источником излучения и регистрируют ее изображение на экране преобразователя, причем между источником излучения и экраном преобразователя помещают сетчатую маску со сквозными прорезями. Наиболее существенным недостатком известных способов является малая чувствительность, что не позволяет обнаружить дефекты с контрастной чувствительностью ниже порога контрастной чувствительности преобразователя. Целью изобретения является повышение чувствительности способа. С этой целью между источником излучения и экраном преобразователя помещают маску с прорезями, соответствующими по размерам ожидаемым дефектам, причем толщину маски выбирают так, чтобы контраст ее теневого изображения был не выше порога контрастной чувствительности преобразователя, а контраст суммарного теневого изображения маски и ожидаемого дефекта был выше порога контрастной чувствительности преобразователя. Способ поясняется чертежом. Между источником 1 проникающего излучения и экраном преобразователя 2 помещают контролируемый объект 3 с дефектами 4 и 5 (утолщениями) и 6 и 7 (газовыми включениями). Вблизи поверхности объекта 3 размещают маску 8 с прорезями 9 и промежутками 10 между ними. Толщину маски 8 выбирают так, чтобы контраст ее теневого изображения был не выше порога контрастной чувствительности преобразователя 2, а контраст суммарного теневого изображения маски и ожидаемого дефекта был выше порога контрастной чувствительности преобразователя 2. Размеры прорезей выбирают равными размерам ожидаемых дефектов. При совмещении на экране 2 изображения дефекта 4, 5, 6 или 7 с изображением прорезей 9 маски 8 получают увеличение контраста изображения дефекта, если размеры изображения дефекта и прорези в плоскости экрана одинаковы. Предлагаемый способ позволяет обнаруживать дефекты в материалах, лежащие за пределами контрастной чувствительности преобразователя, и может быть использован при любой геометрии просвечивания и применим при других методах дефектоскопии, в особенности в рентгенотелевидении, а также в нейтронографии, электронографии, ксерорентгенографии и др. (56) В. В. Третьяков и др. Прикладная рентгенотехника. М. : Медицина, 1967, с. 27. Патент ФРГ N 1066413, кл. 57 а 7/13, 1959.

Формула изобретения

СПОСОБ РАДИАЦИОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ, по которому контролируемую деталь облучают источником излучения и регистрируют ее теневое изображение на экране преобразователя, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности, между источником излучения и экраном преобразователя помещают маску с прорезями, соответствующими по размерам ожидаемым дефектам, причем толщину маски выбирают из условия, чтобы контраст ее теневого изображения был не выше порога контрастной чувствительности преобразователя, а контраст суммарного теневого изображения маски и ожидаемого дефекта был выше порога контрастной чквствительности преобразователя.

РИСУНКИ

Рисунок 1