Устройство для группового испытания мощных полупроводниковых приборов

 

"«С

««A h

Й вЂ” и

Союз Соавтсних Социалистических.- Реслублин (61) Дополнительное к авт, саид-ву

1 (22) Заявлено 03.12.75 (21) 2195507/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23} Приоритет (51) М. Кл.

Н 05 К 13/08

Гааударствевиый «аиетет

СССР аа делам иэебретеией и атхрмтей

Опубликовано05.05.79.Бюллетень ph17 (53) УЙ1< 621. 315.

684 (088 8) Дата опубликования описания 08. 05.79 (72) Автор изобретения

К. Ф. Шамардин (71) Заявитель (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ГРУППОВОГО ИСПЫТАНИЯ

МОЩНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к области радиотехники, а точнее к оборудованию для группового испытания на надежность и токовой тренировки мошных полупроводниковых приборов.

Известны устройства для испытания мошных попупроводниковых приборов, содержащие не менее двух теплоотводов на каждый йрибор, приспособления для. прижима каждого прибора к теплоотводам и контактные узлы (1) .

Приспособления для прижима приборов к теплоотводам сложны и громоздки, а большое число разъемов для подвода. хладагента к теплоотводам снижает надежность устройства при испытаниях и эксплуатации.

Наиболее близким по конструктивному исполнению к предложенному является устройство для испытания полупроводниковых приборов, содержащее два теплоотвода с каналами для охлаждающей жидкости, между которыми с помошью зажимного устройства в посадочных гнездах зажимают полупроводниковые приборы Д, Недостаток устройства заключается в том, что нескопько полупроводниковых приборов нельзя зажимать между двумя теплоотводами с равными усилиями, поэтому некоторые приборы перегреваются, при этом обязательно параллельное соединение всех приборов или нужна установка дополнительных диэлектрических прокладок.

Сборка и разборка устройства при подготовке его к испытаниям сложны и занимают много времени, кроме того, надежность устройства невысока из-за большого числа. разъемов для входа и выхода жидкого хладагента, а при зажиме транзисторов необходимы дополнительные приспособления длч трех электродов.

11ель изобретения — повышение надежности и сокрашение времени испытания приборов.

Поставленная цель достигается тем, что устройство для группового испыта661881 ния мошных полупроводниковых приборов, содержашее теплоотвод с посадочными гнездами, охлаждаюшими каналами и контактный узел, снабжено алектронэоляционйым кольцом, размещенным на теплоотво- 5

"tfe; и" упругими захватами, расположенны»

= мй в паЪаХ алектроизоляционного кольца с =расстоянием между ними, превышаюшим

" ширину электродов полупроводниковых приборов. В корпусе контактного узла 16 расположены подпружиненные контакты, смеФенные относительно захватов на угол

45 .

На фиг. 1 показано предложенное устройство с однйм контактным узлом, сечение вертикальной плоскостью; на фиг. 2часть"теплоотвода с посадочным гнездом и испытуемым прибором.

Устройство содержит теплоотвод 1 с резьбовыми посадочными гнездами 2, в

" которые устанавливают полупроводниковые приборы 3 с алектродами 4. Для протока хладагента в теплоотводе выполнены охлаждаюшие каналы 5. На теплоотводе 1 соосно с гнездами 2 жестко закреплено алектроизоляционное кольцо 6, имеюшее восемь прямоугольных пазов 7 для четырех упругих захватов 8, расположенных на о цилиндрической втулке 9 под углом 90 друг к другу. С подошью втулки 9 и винтов 10 соединены верхняя 11 и нижняя

12 части корпуса контактного узла, в который вмонтированы контакты 13 с пружинами 14 и штырями 15. В корпусе

" контактного узла также выполнено отверстие для монтажа жгута 16 электропроводов, закрепленного винтом 17. Йля поджв.тия упругих захватов 8 на корпусе уста40 . новлена втулка 18.

Установка прибора на испытания и под- ключение к контактному узлу осушест° вляются следующим образом.

Испытуемый прибор 3 с помошью резь- бовог6 хвостовика закрепляют на теплоо1

45 воде 1, при атом электроды 4 %Ж ут за-" нимать на плоскости кольца 6, произвольное по. отношению к пазам 7 положедиэ.,:

Ширина каждого алектрода 4 такова, что если они окажутся между пазами 7, то

50 все, восемь пазов будут открыты (cM. пунктир на фиг. 2). Если же электроды перекроют полностью или частично четы ре из восьми пазов 7, то четыре других паза будут свободны.

Подключение, контактного узла к электродам 4 прибора 3 производят следующим образом. Берут контактный узел и, передвигая втулку 18, отжимают упругие захваты 8 к центру. После атого контактный узел нижней частью 12 корпуса прижимают к кольцу 6 так, чтобы коллекторный алектрод транзистора и маркировка на торце верхней части 11 корпуса совпали по направлению, а захваты 8 вошли в свободные пазы кольца 6. При этом контакты 13 за счет сил сжатия пружин 14 прижимаются к электродам 4 прибора 3.

Затем втулку 18 перемешают вверх, вдоль оси, тем самым освобождая захваты 8, которые входят в контакт с наружной стенкой пазов 7, обеспечивая надежное крепление контактного узла на кольце 6.

После установки испытуемого прибора 3 и контактного узла на теплоотводе через каналы 5 пропускают хладагент и ведут испытания.

Форму и размеры торцов контактов 13 выбирают такими, чтобы даже при расположении алектродов 4 прибора 3 между пазами 7 (наименьшая плошадь контактирования) обеспечивался надежный контакт.

Для отсоединения контактного узла втулку 18 перемешают вниз вдоль оси, при атом захваты 8 сдвигаются к центру и под действием пружин 14 контактный узел отходит от кольца 6.

Формула изобретения

Устройство для группового испытания мошных полупроводниковых приборов, содержатЬее теплоотвод с посадочными гнездами, охлаждаюшими каналами и контактный узел, о т л и ч а ю ш е е с я тем, что, с целью повышения надежности и сокрашения времени испытания приборов, оно снабжено алектроизоляционным кольцом, размещенным на теплоотводе, и упругими захватами, расположенными в па- зах алектроизоляционного кольца, расстоянйе между которыми превышает ширину электродов полупроводниковых приборов, причем в-корпусе контактного узла расположены подпружиненные контакты, сме щенные "относительно захватов на угол

45 .

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США № 3715632, кл. 317-234, 1973.

2. Заявка Франции ¹ 2086334, кл. Н 01 l 1/00, 1971.

661881

Фиг.f

4 иг,2

Составитель Л. Прокопенко

Редактор Т. Орловская Техред О. Андрейко Корректор A. Гриценко

Заказ 2778/70 Тираж 943 Подписное

11НИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4