Способ определения деформаций образца

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 06.1276 (21) 2427899/25-28

Союз Советских

Социалистических

Республик (1Ц669183 (51)м. Кл.2 с присоединением заявки ¹ (.* 01 В 11/16

Государственный комитет

СССР по делам изобретений н открытий (23) Приоритет (53} УДК 5З9. 4.: 620. 1 (088. 8) Опубликовано 2506.79, Бюллетень ¹ 2З

Дата опубликования описания 25D6.79 (72) Авторы. изобретения

Г.В, Ларин и A.Ì. Буйновский (71} Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБРАЗЦА

Изобретение касается определения деформаций с применением муаровых полос.

Известен способ определения деформаций, который заключается в том, что

5 на исследуемую поверхность образца наносят эталонный растр, образец деформируют. Растры до и после деформации фотографируют. Совмещая деформиро-О

10 ванный растр с эталонным, получают картину муаровых полос, по которой строят график перемещения точек деформируемого тела. Дифференцируя. этот график, определяют значения деформаций точек тела (1). 15

Однако из-эа низкой точности этого способа при небольших значениях деформации образуется малое количество муаровых полос.

Известен способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что на образец наносят растр с заданным шагом, деформируют образец, изго-25 тавливают две копии деформированного растра, накладывают их одну на другую, сдвигают в направлении координатных осей, и фиксируют картину муаровых полос, по которой определяют деформации (2) . Трудоемкость указанного способа связана с тем, что при сдвиге необходимо постоянно определять порядок муаровых полос по номеру линий деформированного растра.

Целью изобретения является снижение трудоемкости и повышение точности определения деформаций.

Это достигается тем, что после фиксации картины муаровых полос измеряют расстояния между ними, затем дополнительно сдвигают деформированные растры, измеряют сдвиг муаровой полосы, по которым определяют деформацию образца.

Сущность способа заключается в том, что на поверхность образца, например диаметром 50 мм наносят растр шагом

0,4 мм. Образец обжимают на величину

6Ъ. Полученный растр фотографируют после деформации, затем путем фотографирования изготовляют копии деформированного растра, накладывают их одну на другую и сдвигают одну копию относительно другой на 0,05 мм. В результате сдвига появляются муаровые полосы. Фиксируют положение этих полос и измеряют между ними расстояние.

Затем дополнительно сдвигают одну копию относительно другой на величи669183

Составитель В. Евстратов

Реиекто и. Мероииек техред м. Кетко корректор м. Кемиик.Заказ 3645/31 Тираж 86 5 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Ра шская наб.

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ну 0 2 мм и определяют отношение ве-

I личины перемещения растра к величине перемещения муаровой полосы. Зная это отношение и расстояние между муаровыми полосами, определяют шаг растра как произведение этих величин, Деформацию в точке на поверхности образца определяют делением разности значений шага растра до и после деформации на шаг растра до деформации.

Использование предлагаемого chocoба позволит повысить точность опреде-l0 ления величины деформации образца тогда, когда неизвестными являются параметры растра (шаг и геометрия растра), а также снизит трудоемкость способа эа счет исключения операции определе-15 ния номера линии растра.

Формула изобретения

Способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что на образец наносят растр с заданным шагом, деформируют образец, изготавливают две копии деформированного растра, накладывают их одн1 на другую, сдвигают в направлении координатных осей и фиксируют картину муаровых полос, по которой определяют деформации, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью снижения трудоемкости и повышения точности определения деформаций, после фиксации картины муаровых полос измеряют расстояния между ними, затем дополнительно сдвигают деформированные растры, измеряют сдвиг муаровой полосы, по которым определяют деформацию образца.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе .

1. Паркс А. и Дюрелли В. Анализ деформаций с использованием муара, М., Мир, 1974, с. 175-183.

2. Паркс A., Дюрелли В. Анализ деформаций с использованием муара, М., Мир, 1974, с. 184-192.

Способ определения деформаций образца Способ определения деформаций образца 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх