Оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности

 

óифтЕет c - -

1-, ° опыйЛжк

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

1ееспубпик

11!! 69628 6 (61) Дополнительное к авт. свид-By— (22) Заявлено 11.08.77 (2!) 2515567/25-28 (51) М К! с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет—

G 01 В 11/30

Государствеииый комитет

СССР оо делам изооретений и открытий

Опубликовано 05.11.79. Бюллетень № 41

Дата опубликования описания 15.11.79 (53) УДК 531.715..27 (088.8) (72) А втор изобретения

Б. М. Левин (71) Заывытель (54) ОПТИЧЕСКАЯ ЛИНЕЙКА ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности и устройствам для контрсля прямолинейности поверхности.

Известна оптическая линейкт для контроля прямолинейности поверхности, содержащая одноосную автоколлимационну!о афокальную систему, ооразованну!о двумя во.— нутыми зеркалами, и измерительну!о каретку, несущую кубик с маркой I! l.

Данная линейка проста по конструкции, но весьма чувствительна к механическим и температурным деформациям и совершенно непригодна для работы в цеховых условиях.

Наиболее близкой к изобретению по своей технической сущности и решаемой задаче является оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности, содержа

Ili3H афокальную систему, образованную дву мя одинаковыми зеркально-линзовыми объек тивами, измерительную каретку и расположенный на сей НОизменный! блок с маркой (Ц

Призменный блок состоит из двух прямоугольных призм с воздушным промежутком между ними, причем на одной из призм на катетной его гp2HII. обращенной в стороН > OДНОГО ИЗ 00 ЬЕКТИВОВ с1фОКЫ. 1ЬНОЙ СИСТЕ

М Ы. > СТа НОВЛ Н! >1!.

ИЗВсстная линейка IIp l>, Вствительна к прогибам и !ем!!Орат рным изменениям, Об,т!!дает ocT!!To -llio и! 1 с окой TО« носT!>I« ко нтРОЛЯ.

Однако требования современной техники к то>i;locTli кон Г1>О. ;! Н1>ямолинеиности непр1:. рывно растут. !

В

Це.!! ю li".oáðñòcíèë является повышение точности контроля.

Поставленная цел! достигается тем, что оптическая линейка снабжена второй маркой, призмснный блок выполнен в ниде двуx !lap прямоугольных призм, расположенных по !

5 обе стороны оптической оси афокальной системы так, что катетные грани призм перпендикулярны этой оси. гипотенузные грани призм в каждой паре взаимно перпендикулярны, а на катетны : гранях одной из пар призм на уровне оптической ос«системы

VCTаН0ВЛЕНl>i >!àÐÊ!!.

На фиг. 1 представлена оптическая схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 —— призменный блок в аксонометрии.

696286

О!!! иче i(ii>1 ли ис и к>! >1>и . i 0;I P }) >к и!

Яфок(lл ьну 10 cисг(> у 1, 0>) pft30 !1(! !!1! > „ ми Иди н(1 ко!>!>! ми:ic pHß,!1 bli()-, .t i!3;);! HI >1!i (>бъе! TOP() ПОСЛ(I()H;I <> il. К Р:>Г ., ".:. I!I I ОГЧЕТИТ(Л Ь!! О(> УСТPOH(1 ВО, 1> К, 110>. <1:0!И((, 13 > У }> и 0 и 1 и ((. к H (> э. (. >1(I I T bl 1> - -: ! p H 3 м (- f i н >! и блок 10, с<гстоя}ций из )Bvx нар нрямоуго,ibных призм 11, 12 и 13 14 !фиг. 2},:>13pt(H

1 5 H 1 6, VC I 3!IOI!;i Ill!i>l(> H3 Ка гCTHH!)< !>3 нях призм 1! и 12 ИЯ )>ровне (:!г< и !0<кOÉ стси 0-(}

ЯфОКЯ IbHOH C HCT(>! Ы 1 И ВЫ ПО."fIPIlfl t>IC В ВИде штрихов, отсчетно-наблюдат .}ьное устройство, включа}ощее оптический комп !Ic3тор 17 (плоскопараллельг!Яя пластина), оптическии блок, состо>1<ций Н3 cf(3ppHOH ll()H3Mhl-p0M03 18 H ftpB 10> А!. tf>!10É 11!)измы 19 с полупрозрачной !поскос!.1.!О клеивания, микрооо b(. ктив -О, проекционныи 00 1>ектив

21, экран 22. »ItfpOHиит 23.

;»cTpoHcTLo pcl00ò3cT (лc,!, К)I!it!>! ОбряЗОМ.

I1PH H3(. Яльно Ровной Ко flTPoли>)) емой Iloверхности свет от осветительного устройства, вкл}очающего элементы 5--9, ll3.)3 T ИЯ призмы 11 и 12 lip>H331p!l! IOt блока 10 и, отразившись от их ги}}отенузных гря!!ей, лучи освегцактг соответственно марки !5 и 16.

Затем, пройдя афокальную систему 1, образованную объективс}ми 2 и 3, лучи падЯюч соответственно ИЯ призмы !3 и 14 призменного блока 10, далее оба .Ió÷à направляк>тся на отсчетно-наблюдательное устройство, которое формирует совмещенные и3îáð3æåния марок 15 и 16 8 увсличеги<ом виде Hd экране 22. В слу !()с отк,toнсния п<)I)pp);II<)cl » от пря мол и нс и иост и прÎисходит с vlp LL!Cние щупа 24 каретки, обусловливающее смещение с оп.гическои оси марок 15 и 16. Измерение величины отступления поверхности OT прямолинейности осу!цегтв.>!яется вра fc!!Hev оптического компенсатора 17 и микронинта 23.

Если марки 5 и 16 расположены Hd уровне оси 0-0 афокальной системы, То каждая

4<}} из марок 15 и 16 после прохождения лучей через афокальиу(о систему 1, призмы 13 и !4, !8 и 19 изображается с увеличением,3 =- -1 ня оптической оси в предметной плоскости микрообъектива 20 и накладывается

li3 ДМ гУЮ.

Е-;сли на испытуемой поверхности имеютг>! Отсту<}ленин 0Т прямолинейности, равные й, то произойдет смещение всей измеритель-! юй каретки нормально оси афокальной системы, а следовательно, и смегцение марок 15 и 16 на величину Ь .

Вследствие свойств афокальной систеv

20 на величину 2 ) от его оптической оси в разные стороны, т. е. расстояние между изображениями марок окажется разнесенным на величину 4 >, что вдвое больше, «ем в устройстве, в котором имеется только одна марка. Следовательно, точность контроля с помошью предлагаемой линейки увеличивается вдвое по сравнению с известными устройствами.

Формула изобретения

Оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности, содержащая афокальную систему, образованную двумя одна ковыми зеркально-линзовыми объективами, измерительную каретку и расположенный на ней призменный блок с маркой, отличающаяся тем, что, с целью повьш!ения точности контроля, она снабжена второй маркой, призменный блок выполнен в виде двух пар прямоугольных призм, расположенных по обе стороны оптической оси афокальной системы так, что катетные грани призм перпендикулярны этой оси, гипотенузные грани призм в каждой паре взаимноперпендикулярны, а на катетных гранях одной из пар призм на уровне оптической оси системы установлены марки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Иатен.г Великобритании № 870461, кл. G 2 .1, 1961.

2. Авторское свидетельство СССР

¹ 148912, кл. G 01! В 11/30, 1961 (прототип).

696286 Рог. f

Составитель Л. Лобзова

Техред О. Луговая Корректор H. Степ

Тираж 844 Подписное

Редактор А. Семенова

Заказ 6751 i40

ЦН ИИ ПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий! 13035, 5!осква, )К вЂ” 35, Раушская наб., д. 4, 5

Филиал ППП «Патент>, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности Оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности Оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх