Способ магнитной дефектоскопии

 

v э кмис нР R па еч нс те .v,c ная

ОП И

Союз Советскик

Социалистических

Республик

««697905

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 1 0577 (21) 2484679/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет (51) М. Кл.

G N 27/82

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) ÓÄÊ620.179,14 (088. 8) Опубликовано 15.11.79. Бюллетень М42

Дата опубликования описания 1511.79 (72) Автор изобретения

В. В. Чеканов (71) Заявитель

Ставропольский государственный педагогический институт (54) СПОСОБ МАГНИТНОИ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Изобретение относится к методам нераэрушающего контроля и может быть использовано в различных отраслях машиностроения для обнаружения дефектов в изделиях из ферромагнитных материалов.

Ближайшим по технической сущности к изобретению является способ магнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают жидкостную магниточувствительную линзу и по распределению ферромагнитной жидкости в поляризованном луче света судят о наличии дефекта (1). 15

Недостатком способа является то, что контролируемая поверхность иэделия должна быть строго горизонтальна,,это усложняет процесс контроля, не позволяет контролировать нак- 20 лонные поверхности изделия.

Цель изобретения — упрощение процесса контроля и повышение достоверности контроля.

Цель достигается тем, что по прецлагаемому способу используют линзу в виде двух плоскопараллельных пластин, по крайней мере одна из которых является оптически прозрачной, с размещенной между пластинами ферромаг- 3() нитной жидкостью, а луч света направляют на линзу параллельно контролируемой поверхности изделия.

Поляризованный луч пропускают через линзу в прямом и обратном направлениях, а линзу и иэделие одновременно поворачивают относительно плоскости поляризации луча.

На фиг. 1 и 2 приведены соответственно первый и второй варианты схем для осуществления способа.

На поверхности контролируемого изделия 1 размещают магниточувствительную линзу в виде двух плоскопараллельных пластин 2 и 3, между ними размещена ферромагнитная жидкость 4, которая может удерживаться за счет сил молекулярного сцепления.

Луч света от источника 5 света поляризуется поляризатором 6. Прошедший линзу луч попадает на анализатор 7 и фотоприемник 8.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч света от источника 5 пропускают через поляризатор 6 параллельно контролируемой поверхности 9 иэделия 1, пластины 2 и 3 линзы и заключенную между ними ферромагнитную жидкость 4. Прошедший линзу

69795S

Формула изобретения

ôèà. 2

Тираж 1073 Подписное

ЦНИИПИ Заказ 6919/31

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 луч попадает на анализатор 7, который в отсутствии линзы устанавливается на гашение света. Луч проектируется на установленный эа анализатором 7 фотоприемник 8, При размещении линзы на контролируемой поверхности поле рассеяния дефекта изменит поляризацию луча, изменится его интенсивность и положение иэоклин.

Для более надежной индикации дефекта линзу и изделие одновременно поворачивают относительно луча света, а также поворачивают линзу относительно иэделия, обеспечивая контрастное иэображение.

По положению изоклин судят о наличии дефекта, его величине и расположении.

Для случая контроля иэделия сложной конфигурации пластина 3 (фиг.2) выполнена в виде зеркала. Луч света, 20 пройдя поляризатор 6, падает на полупрозрачную пластину 10.

Отразившись частично от пластины

10, луч попадает на жидкостную магниточувствительную линзу и, отразив- 25 шись от ее зеркала, вновь проходит полупрозрачную пластину 10, попадает на анализатор 7 и фотоприемник 8.

Предлагаемый способ позволяет значительно упростить процесс контро- 30 ля, не снижая его точности и надежности

1. Способ магнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают жидкостную магниточувствительную линзу и по распределению ферромагнитной жидкости в поляризованном луче света судят о наличии дефекта, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса контроля, используют линзу в виде двух плоскопараллельных пластин, по крайней мере одна иэ которых является оптически прозрачной, с размещенной между пластинами ферромагнитной жидкостью, а луч света направляют на линзу параллельно контролируемой поверхности изделия.

2 ° Способ по п.l, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, поляризованный луч пропускают через линзу в прямом и обратном направлениях.

3. Способ по пп.l и 2, о т л ич а ю шийся тем, что линзу и изделие одновременно поворачивают относительно плоскости поляризации луча, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 393665, кл. G 01 N 27/82, 1971 (прототип).

Способ магнитной дефектоскопии Способ магнитной дефектоскопии 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для внутритрубных обследований трубопроводов, рассчитанным на перемещение по обследуемому трубопроводу потоком транспортируемого по нему продукта, и может быть использовано для контроля технического состояния трубопроводов, предназначенных преимущественно для дальней транспортировки нефтепродуктов и природного газа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопическом контроле ферромагнитных материалов и изделий

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля структуры металла протяженных ферромагнитных и неферромагнитных изделий, в частности насосных штанг, используемых при механизированной нефтедобыче, и предназначено для экспресс-индикации структурной неоднородности материала изделий, связанной с нарушением режима при объемной термообработке в процессе изготовления, а также структурной неоднородности, возникшей в процессе эксплуатации изделия

Изобретение относится к техническому диагностированию магистральных трубопроводов и может быть использовано для диагностирования уложенных магистральных нефтепроводов и газопроводов

Изобретение относится к области прикладной магнитооптики, в частности к методам неразрушающего контроля материалов на наличие дефектов, и может быть использовано при выявлении дефектов в изделиях, которые содержат ферромагнитные материалы, а также в криминалистике
Наверх