Прибор для исследования качества поверхностей

 

ОПИСАНИЕ ИЗОЬ1 СТЕНИ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Е. С. Берк

ПРИБОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ

Заявлено 16 декабря 1947 года н Комитет по изобретениям и открытиям при

Совете Министров СССР за № 371965

Опубликовано 31 мая 1949 года

Предмет изобретения

Прибор для исследования качес.ва поверхностей, снабженный, призмой полного внутреннего отражения. контактирующей с исследуемой поверхностью, о т л и ч а ю щ и и с и тем, что, с целью получения места контакта исследуемой поверхности с призмой на экране, призма включен а в оптическую схему комп ар а тор а.

396

Предметом настоящего изобретения является прибор для исследования качества,поверхностей, снабженный призмой полного внутреннего отражения, контактирующей с исследуемой поверхностью.

Устройство прибора поясняется чертежом, на фиг. 1 которого изображена конструктивная схема прибора; на фиг. 2 — оптическая схема прибора.

Прибор состоит из основания 12, несущего на стержне 17 груз 18„ держателя 13 линзы 14 и прижимного устройства 5, смонтированного на угольнике 16, прикрепленном на держателе 13.

Работа прибора осуществляется следующим образом.

Лучи света от осветителя 1 с конденсором отражаются зеркалом 8 и проходят через призму 14 прибора, устанавливаемого на предметном столике 4 комп а р атор а.

Отраженные лучи от грани АВ призмы 14 проектируются на зеркало 8, которое направляет их в объектив 7 компаратора. Далее лучи, отразившись от призмы 9 и зеркала

10, проектируются на экран 11.

Исследуемое изделие 6 прижимается к грани АВ призмы 14 под некоторым постоянным давлением при помощи, прижимного устройства

5 прибора. Место контакта К фокусируется»а экран 11 при помощи перемещения предметного столика

4 компаратсра вместе с помещенными на нем прибором и испытуемым изделием относительно объектива 7.

Изображения места контакта имеют вид темных пятен на светлом фоне, характеризующих нарушение полного внутреннего отражения местах контакта.