Микроскоп для определения качества поверхности

 

№ 66974Класс 42b, 8вя

42b, 12п.

42h, 34

СССР

*;ф, 1 ф

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

3орееистритюеано в Бюро изобретений Госилана СССР

В. П. Линник

МИКРОСКОП ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ

Заявлено 15 апреля 1938 года в Наркомат Вооружения за М 44866 (308988) Опубликовано 30 свнтября 1946 года

Предмет изобретения

Микроскоп для определения качества поверхности путем сравнен. я ее с эталонной оптической поверхностью, отличающийся тем, что для возможности изучения тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра

Майкельсона.

Предметом настоящего изобретения является микроскоп для определения качества поверхности путем сравнения ее с эталонной оптической поверхностью.

Отличие предлагаемого микроскопа от ранее известных состоит в том, что для возможности изучения тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.

Устройство насадки изображено на фиг. 1. Насадка содержит два зеркала: зеркало М,, состоящее из двух склеенных плоскопараллельных пластинок, одна из которых имеет полупрозрачный слой на склейке., и зеркало М2 с наружным отражающим слоем.

Пучек лучей, вышедший из источника света S, частью отражается от разделительного зеркала М,. попадает на объект А, отражается от него обратно и попадает в микроскоп через объектив О. Часть пучка, прошедшая через зеркало

М, отражается затем от зеркала

Ме и, снова отразившись от зеркала М, тоже попадает в объектив

О и интерферирует с первым пучком.

Возможен вариант насадки с применением вместо зеркала М> стеклянного кубика P (фиг. 2) с полупрозрачной диагональной плоскостью. При применении монохроматических лучей во втором варианте зеркало М. может составлять одно целое с кубиком, что упрощает конструкцию.. № 66974

Фиг. 1

Фиг. 2

М2

Отв. редактор А. Н. Панасенко

Техн редактор В Т Крашнин

А10051. Подписано к печати 20/XI-1948 г. Тираж 400 экз. Цена 65 к. Зак. 110.

Типсграфия Госпланиздата нм. Воровского, г. Калуга

Микроскоп для определения качества поверхности Микроскоп для определения качества поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу
Наверх