Устройство для измерения толщины металлических покрытий

 

727980

Сотоз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6 l ) Допол и и тел ьиое к а вт. с вид-ву (22) Заявлено 09. 10.78(2l ) 2672519/1Я 28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.04.80. Бюллетень ¹ 14 (51)М. Кл.

С; 01 В 7/06

Гасударственный квинтет

СССР

IIo делам нзввретеннй н втхрытнй (53) УДК, 531. ,7 17 (088. 8) Дата опубликования описания 15.04.80

Н. И. Давыдов, А. А. Капитонов, С. Н . Балюкова и. Н. И. Чернышев

Й вЂ” М Ф ° & АМ& » Г В Ф (72) Авторы изобретения

Пензенский филиал Всесоюзного научно-исследовательского технологического института приборостроения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

МЕТАЛЛ ИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЙ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении и машиностроении.

Известно устройство для измерения толщины покрытий, основанное на. кулоно метрическом методе, содержащее электро

5 литический зонд, стабилизированный источник тока, пороговый элемент, электронный ключ, генератор импульсов и счетчик.

Недостатком данного устройства являто ется низкая точность измерения.

Наиболее близким по техьической сущности к изобретению является устройство для измерения толщины.металлических покрытий, содержащее электрол итический зонд, стабилизированный источник тока, подключенный к зонду, блок памяти, входом соединенный с зондом, пороговый элемент, вход которого подключен к зонду, усилитель, входом соединенный с выходом блока памяти, а выходом - с управлятсшим входом порогового элемента, реле времени, выхо- дом подключенное х управляющему входу блока памяти, и т регистратор.

Недостатком известного устройства является невысокая точность измерения, вызванная уменьшением тока растворения покрытия за счет заряда емкости

l ,цвойного электрического, слоя анода электромагнитного зонда на начальной стадии измерения.

Целью изобретения является повышение точности измерения °

Это достигается тем, что устройство снабжено эталонным резистором, включаемым между стабилизирова источником тока и основой, на которую нанесено измеряемое покрытие, фильтром нижних частот, вход которого подключен к эталонному резистору, интегратором, информационный вход которого подключен к выходу фильтра нижних частот„ управляющий вход — к выходу порогового элемента, а выход — ко входу регистратора.

На чертеже приведена структурная схе ма устройства, Оно содержит электролитический зонд

1, стабилизированный источник 2 тока, 727Р80 блок 3 памяти, усилитель 4, пороговый

/ элемент 5, реле 6времени, регистратор

7, эталонный резистор 8, фильтр Э нижних частот, интегратор 10.

Устройство работает следующим образом.

При подключении стабилизированного источника 2 тока к электролитическому зонду 1 через него начинает протекать ток, который создает на эталонном резисторе 8 падение напряжения.,Этот сигнал через фильтр 9 нижних частот поступает на интегратор 10, По окончании переходного процесса в электролитическом зонде 1 реле 6 вре- мени выдает сигнал на блок 3 памяти, по приходу которого он запоминает напряжение на зонде 1 в этот момент времени, С выхода блока 3 напряжение через усилитель 4 с коэффициентом передачи К

1,1-1,5 поступает на управляющий вход порогового элемента 5, на сигнальный, вход которого поступает напряжение с электролитического зонда 1.

При перфорации покрытия напряжение на электролитическом .зонде l начинает увеличиваться.

При достижении порога срабатывания пороговый элемент 5 срабатывает и выдает сигнал на управляющий вход интегра- тора 10, который по приходу этого сигнала переводится в режим запоминания показаний. Сигнал c:выхода интегратора.

10 преобразуется и. индицируется регистратором 7.

Параметры фильтра нижних частот выбираются таким образом, что напряжение на его выходе будет изменяться по такому же эахону, что и ток растворения покрытия, При этом интегратор будет интегрировать сигнал, пропорциональный току растворения покрытия, чго повышает точность измерения.

Формула изобретения

Устройство для измерения толщины металлических покрытий, содержащее электролитический зонд, стабилизированный источник тока, подключенный к зонду, блок памяти„ входом соединенный с зондом, пороговый элемент, вход которого подключен к зонду, усилитель, входом соединенный с выходом блока памяти, а .выходом — с управляющим входом порогового элемента, реле времени, выходом подключенное к управляющему входу блока памяти, и регистратор, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено эталонным резистором, включаемым между стабилизированным источником тока и осно вой, на которую нанесено измеряемое покрытие, фильтром нижних частот, вход которого подключен к эталонному резистору, интегратором, информационный вход которого подключен к выходу фильтра нижних частот, управляющий вход - к вы1 ходу порогового элемента, а выход — ко входу регистратора.

ШМИИПИ

Тираж 801

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения толщины металлических покрытий Устройство для измерения толщины металлических покрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх