Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических изделий

 

(, 1 !) 1 (« ч с и

- =-.=-- т :Ф

Союз Советских

Социалистических

Республик iii 727987

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву (5 I ) М. Кл. (22) Заявлено 04.09.78 (21) 2658777/25-28с присоединением заявки Ж

G 01 В 11/30

Государственный комитет (28 } Приоритет по делам изобретений и открытий

Опубликовано 15.04.80. Бюллетень ¹ 14 г

Дата опубликования описания 15.04.80 (53) УДК 531.715,,27 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. И. Васильев, А. В. Кобяков, А. H. Майоров и А. В. Грачев (7l ) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ПОВЕРХНОСТИ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а более конкретно — к средствам неразрушающего контроля качества повеохности цилиндрических, изделий фотоэлектрическим способом, и может быть использовано для выявления поверхностных дефектов различного рода — сколов, трещин, раковин, вмятин. с

Известно устройство для контроля качества поверхности цилиндрических изделий, содержащее осветительную систему с кольцевой диафраг- О мой, отражатель, съемную кольцевую диафрагму и анализатор изображения (1).

Недостатком устройства является невозможность контроля качества наружной поверхности цилиндрических изделий.

Наиболее близким по своей технической сущности и решаемой задаче к изобретению является устройство для контроля качества внутренней поверхности цилиндрических изделий, содержащее осветительную систему с плоским зеркалом, отражатель и анализатор изображения (2).

Целью изобретения является контроль качества наружной поверхности цилиндрических изделий.

Для достижения цели в устройстве отражатель выполнен в виде параболоида вращения, ось которого удалена относительно осей каждой иэ ветвей параболы на расстояние, равное радиусу контролируемого цилиндрического изделия, а плоское зеркало установлено так, что поток излучения направлен в центральную часть отражателя.

На чертежа представлена о(ттическая схема устройства для контроля качества наружной по. верхности цилиндрических иэде,mA.

Устройство для контроля качества наружной. поверхности цилиндрических изделий содержит осветитель 1, источник 2 света, конденсор 3 и плоское зеркало 4. Отражатель 5, имеющий форму параболоэтда вращения, ось которого уда= лена от осей каждой из ветвей параболы на расстояние, равное радиусу контролируемого цилиндрического изделия 6, направляющие трубки 7 и 8,установленные на оптическок оси устройства с зазором 9 для создания кольцевой осве3

7279 щенной зоны иа поверхйости контролируемого цилиндрического изделия 6. Анализатор 10 изображения, состоящий из плоского отклоняющего зеркала 11, объектива 12 и фотоумножителя 13

Устройство работает следующим образом, Контролируемое цилиндрическое изделие 6 перемещают по направляющим трубкам 7 и 8 через зазор 9, который освещается лучами све. та осветителя 1, отраженными центральной частью отражателя 5. Отраженный от поверхности цилиндрического изделия 6 свет воспринимается периферийной частью отражателя 5 и направляется с помощью зеркала 11 и объектива 12 на фотоумножитель 13. Дефектные участки наружной йоверхности контролируемого цилицдри- g ческого изделия 6 регистрйруются в анализаторе 10 изображения по изменению интенсивнос ти отраженного светового потока.

Таким образом, исполнение отражателя 5 в форме параболоида вращения, ось которого удалена от осей каждой из ветвей параболы на расстояние, равное радиусу контролируемого изделия, позволяет контролировать наружную

87 поверхность цилиндрических изделий с достаточно высокой чувствительностью.

Формула изобретения

Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических иэделий, содержащее осветительную систему с плоским зеркалом, стражатель и анализатор изображения, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью контроля качества наружной поверхности цилиндрических изделий, отражатель выполнен в виде параболоида вращения, ось которого удалена относительно осей каждой из ветвей параболы на расстояние, равное радиусу контролируемого цилиндрического изделия, а плоское зеркало установлено так, что поток излучения направлен в центральную часть отражателя, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР N 577399, кл. G 01 В 11/30, 1977.

2. Патент США N : 3551061, кл. 356 — 241, 1970 (прототип) .

ЦНИИПИ Заказ 1120/41 - Тираж 801 Подписное

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических изделий Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх