Способ определения концентрации примеси и подвижности носителей в полупроводниках

 

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПРИМЕСИ И ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ В ПОЛУПРОВбДНИКАХ , основанный на измерении электропровоцности, напряжения Холла и on реаелении концентрации примеси и подвижности носителей расчетным путем, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, образец перед измерениями охлаждают до температуры где К - постоянная Больцмана; заряд электрона; Чдвысота равновесного пограничного барьера в исследуемом образце; энергия активации примеси; и возбуждают в образце неосновнью носителя . 2.Способ по п. 1, о т л. и ч а ю - щ И и с я тем, что неосновные носители возбуждают электромагнитным изi лучением. 3.Способ по п., 1, о т л и ч а ю (Л Ш и и с я тем, что неосновные носители возбуждают кортускулярным излучением. 4.Способ по п. 1, отличающий с я тем, что неосновные носители возбуждают электрическим полем. ч1 со

„„SU„„791124

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

jyg Я, Ol 1 21.166

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

IlO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНЯТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ р к а т <с а Ч /К, (21) 2810410/18M5 (22) 23.08.79 (46) 23.09.83. Бюл. М 35 (72) В. В. Батавия, И. Б. Гуляев, Н. В. Жаворонков, А. Г. Жцан, В. Б. Санцомирский и Е. В. Чейский (53) 621.382 (088.8) (56) 1. Батавии.В. B. Контроль параметров полупровоцниковых материалов и эпитаксиальных слоев. NI., "Советское ; радио, 1976, с. 23-26.

2. Там же, с. 2729. (54) (57) 1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

KOHUEHTPAUHH ПРИМЕСИ И ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ В ПОЛУПРОВдД»

НИКАХ, основанный на измерении электропровоцности, напряжения Холла и оп рецелении концентрации примеси и подвижности носителей расчетным путем, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью повышения точности, образец перец измерениями ахлажцают цо температуры гце К постоянная Больцмана;

q- заряц электрона;

Ч! высота равновесного пограничного барьера в исслецуемом образце;

E м«энергия активации примеси; и возбужцают в образце неосновные носители.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а. ю ш и и с я тем, что неосновные носктели возбужцают электромагнитным иэлучением. е

3. Способ по п. 1, о т л и ч а юш и и с я тем, что неосновные носители возбужцают корпускуля рным излучением.

4. Способ по п, 1, о т л и ч а ю» шийся тем, что неосновные носители возбужцают электрическим полем.

1l24

2 то же в состоянии неравновесного спрямления энергетических эон, уровень Ферми - E равновесные и неравновесные р! значения высоты барьеров и толщины

5 обедненных слоев соответственно - 9, 1р н " Ь н поверхностные состояния - ПС, полупроводник — I, циэлектрики ft, ф.

Пример . Исследуют пленку 5

h-типа, толщиной 4=2 мкм на сапфире с четырьмя точечными .омическими кон О тактами, расположенными на периферии. ", Образец охлаждают цо температуры 77 К.

При этом выполняется условие kT <(с Y так как КТ =43,007 эВ, q,Ìó0,1-0,5 эВ.

15 я р ggg .Образец освещают белым

КТ Т= 300 светом от лампы накаливания 100 Вт в течение 1 с. Измерения проводимости 4 и напряжения Холла Чн проводят через

1 мин после выключения света. Вычисления концентрации примеси и поцвижности носителей производят по формулам

3 Ad и «5 ДЯ ррах 5 11 а

1 79

Изобретение относится к полупровоцниковой технике и может быть использовано цля контроля параметров полупроводниковых материалов, ппенок, слоев иструктур.

Известен способ опрецеления концентрации легирующей примеси и подвижности носителей заряда, основанный на измерении проводимости, напряжения Холла и опрецелении концентрации примеси и подвижности носителей расчетным путем 1 )

Нецостатком этого способа является низкая точность, обусловленная погрешностями, вызванными электрическими неоцнороцностями в образце.

Известен способ для определения концентрации примеси и подвижности носителей в полупровоцниках, основанный на измерении электропровоцности, на» пряжения .Холла и опрецелении концент рации примеси и поцвижности носителей расчетным путем 2 J .

Нецостатком этого способа является низкая точность, обусловленная большой погрешностью при йзмерении параметров. тонких слоев полупроводника с развитыми поверхностями или межгранульными барьерами.

Е1елью, изобретения является повышение точности.

11ель цостигается тем, что по cnocoi бу, оановчнному на изменении электропровоцности, напряжения Холла и опрецелении концентрации примеси и подвижности носителей расчетным путем, образец охлаждают go температуры е к

q, - заряд электрона; - высота равновесного погранично.О го барьера в исслецуемом образце; — энергия активации примеси, возбуждают в образце неосновные носители тока.

Неосновные носители возбуждают электромагнитным излучением.

Неосновные носители возбуждают корпускулярным излучением.

Неосновные носители воэбужцают . электрическим полем.

На чертеже прецставлена зонная диаь рамма исследуемого полупровоцника, где 1 — дно эоны проводимости и потолок валентной эоны в равновесии, 2аВс2 8cah кесЭ у е.2 2 я „,А гце р - подвижность носителей;

N - концентрация примеси; явсв cDl AB

Ъм

К = - сопротивления, измеренные по методу Ван-дер

4 Пауэ, U и 0 - напряжения, измеренные между контактами С5 и DA соответственно

AÜÑÝ

- функция, определяемая

A С BA геометрией образца.

После вычисления по этим формулам получена концентрация легируюшей примеси М =2 10 "5 см - .

Оценки погрешности показывают, что она составляет 6%, Таким образом, измерения по предла-, гаемому способу провецены со значительно меньшей погрешностью, чем по и вес тн омуе

Предлагаемый способ измерения параметров полупроводниковых слоев может

55 быть использован при производстве слоев полупроводниковых материалов с развитыми поверхностными и межгранульными барьерами, в частности при производстве тонких эпитаксиальных слоев крем

791124

3 ния на сапфире и кремния на кремнии, сло- ев поликристаллического кремния. Повышение точности измерения позволяет повы

4 сить процент выхода годной продукпии, изготовляемой на основе этих материалов, и улучшить ее качество.

У

Редактор О. Юркова Техред ВЯалекорей Корректор А. Фереип

Заказ 8180/6 Тираж 703 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035; Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород ул. Проектная, 4

Способ определения концентрации примеси и подвижности носителей в полупроводниках Способ определения концентрации примеси и подвижности носителей в полупроводниках Способ определения концентрации примеси и подвижности носителей в полупроводниках 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх