Способ стабилизации контрастностиэлектрооптического модулятора напироэлектрическом кристалле
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДИТИЛЬСТВУ
Сюю» Советских
Социалистических
Республик
<и 830278 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(51)М. Клз (22) Заявлено 090779 (21) 2792272/18-25 с присоединением заявки й9 (23) ПриоритетС 02 F 1/03
Государственный комитет
СССР но делам изобретений и открытий
Опубликовано 15.05.81. Бюллетень H9. 18
Дата опубликования описания 1505 81 (53) УДК 535.8 (088 ° 8) А.В.Малков, A ß,Ôèëåâ, Т.А. Говорухин (72) Авторы изобретения ров (71) Заявитель (54) СПОСОБ СТАБИЛИЗАЦИИ КОНТРАСТНОСТИ
ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКОГО МОДУЛЯТОРА
HA ПИРОЭЛЕКТРИЧЕСКОМ КРИСТАЛЛЕ
Изобретение относится к квантовой электронике и может быть использовано для стабилизации характеристик электрооптических поляризационных модуляторов на пироэлектрических кристаллах.
Известны способы компенсации пространственного заряда 11) .
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является способ стабилизации контрастности электрооптического модулятора на пироэлектрическом кристалле, заключанхяийся в повышении скорости экранирования пи- 15 роэлектрических зарядов (2).
Однако этот способ характеризуется большими оптическими потерями в модуляторе и узким диапазоном рабочих температур. 20
Цель изобретения — уменьшение опти-. ческих потерь в модуляторе на пироэлектрическом кристалле, например ниобате лития, и расширение диапазона рабочих температур. 25
Цель достигается тем, что при осуществлении способа стабилизации кон трастности электрооптического модулятора на пироэлектрическом кристалле, заключакщемся в повышении скорости 30 экранирования пироэлектрических зарядов, производят ионизацию газовой среды, окружакщей электрооптический элемент,<со скоростью генерации не менее 10 пар ионов в секунду.
Кроме того ионизацию производят электрическим разрядом.
Пример . При исследовании кон трастности электрооптического модулятора на кристалле ниобата лития в диапазоне температур 213-333 К с ионизацией окружающего кристалл воздуха и без ионизации в исходном состоянии — при комнатной температуре — койтрастность модулятора равняется 1000 (на чертеже точка A). Оптические потери в модуляторе (без учета френелевских потерь) определяются-поглощением в кристалле и контрастностью, и составляли не более
0,5%. Скорость изменения температуры кристалла поддерживается 4 К/мин.
На чертеже приведены типичные зависимости контрастности модулятора в зависимости от температуры при двух режимах - с ионизацией (кривая, проведенная сплошной линией) и без иониз;щий (кривая, проведенная пунктирной линией). Ионизация воздуха производится коронным разрядом, при.|
830278
Формула изобретения
218 ИЛ РИ 893 РЫ ЖЛ РО Z83 ЩЗ ЛИ 3/8 383 358
ТИХ В)>О )>й У
Соотавитель Н. Назарова
Редактор М.Погориляк Техред H. Майорош Корректор М.Демчик
Эаказ 3704/78 Тираж 539
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж«35, Раушская наб., д. 4/5
Подписное
Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 чем скорость образования ионов обеспечивается не менее 10" пар ионов в секунду. Иэ графика видно, что если беэ ионизации контрастность модулятора меняется 1000-30 (соответствен- но оптические потери увеличиваются до 3-4%), то при ионизации она изме- 5 няется 1000-900 (т.е. оптические noLcepm в модуляторе не превыаают 0,3%).
Таким образом, способ позволяет эффективно стабилизировать контрастность моудулятора в интервале <13- !О
333 К и снизить оптические потери в нем не менее чем в. 10 раз по сравне нию с известным, 1. Способ стабилизации контрастности электрооптического модулятора на пироэлектрическом кристалле, эаъ1ИИ
1 ь дЮ о ив
1 (и
1
,w ключающийся в повышении скорости экранирования пироэлектрнческих зарядов, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью уменьшения оптических потерь и расширения диапазона рабочих температур, производят ионизацию газовой среды, окружаншей пироэлектрический кристалл, со скоростью генерации не менее 10 пар ионов в секун-. дуэ
2, Способ по п. 1, о т л и ч а ю шийся тем, что ионизацию производят электрическим разрядом.
Источники информации принятые во внимание при экспертизе
1. Патент США Р 3900247, кл. G 02 F 1/03, 1975.
2. Белабаев К.Г. Экспериментальное исследование природы наведенных оптических неоднородностей .в ниобате лития. Диссертация. M. 1976 (Институт кристаллографии AH CCCP).
