Способ тепловой дефектоскопии изделий из диэлектрических материалов

 

(„,890204

ОП ИСАНИЕ

ИЗО6РЕТЕН ИЯ

Союз Соеетскик

Социалистическик

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 28.04.80 (21) 2917667/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл.

G 01 N 25/72

Гоеудлротвенныв комитет

СССР (53) УДК 536.6 (088.8) Опубликовано 15.12.81. Бюллетень № 46

Дата опубликования описания 25.12.81 по делам изооретений и открытий (72) Автор изобретения

В. А. Дятлов (71) Заявитель (54) СПОСОБ ТЕПЛОВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ

ИЗ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано при контроле изделий из диэлектрических материалов.

Известен способ тепловой дефектоскопии, основанный на поверхностном нагреве изделия и регистрации распределения 5 температуры поверхности изделия (1).

Однако этот способ не обладает высокой чувствительностью при контроле изделий из диэлектрических материалов с низкой теплопроводностью и не позволяет достаточно точно определить размеры обнаруживаемых дефектов.

Наиболее близким к предлагаемому является способ тепловой дефектоскопии изделий из диэлектрических материалов, основанный на внутреннем нагреве изделия в электромагнитном поле и регистрации распределения температуры поверхности изделия (2) .

Недостатком этого способа является большая погрешность (до 1000/0 и более) щ определения размера дефектов, поскольку существенно разные по размерам и глубине залегания дефекты могут вызывать одинаковые распределения температуры поверхности.

Целью изобретения является повышение точности определения размеров внутренних дефектов.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу тепловой дефектоскопи и изделий из диэлектрических материалов, основанному на внутреннем нагреве изделия в электромагнитном поле и регистрации распределения температуры поверхности изделия, изменяют частоту электромагнитного поля и одновременно регистрируют ряд максимумов зависимости величины перепада температуры поверхности изделия в области дефекта от частоты электромагнитного поля и по значению наибольшей из частот электромагнитного поля, при которой определяется максимум, судят о размере дефекта.

Зависимость перепада температуры поверхности изделия в области дефекта АТ от частоты электромагнитного поля имеет вид кривой с рядом максимумов. Такой вид этой зависимости обусловлен тем, что при падении электромагнитной волны на

890204

Формула изобретения

Составитель Н. Меньшенина

Редактор С. Тимохина Техрел А. Бойкас Корректор Г. Решетник

Заказ 10958 59 Тираж 910 Поди исное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и оз крытий! 1ÇÎß5, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., a. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4 дефект в диэлектрическом материале контролируемого изделия с иным, чем у дефекта показателем преломления, вследствие резонансного поглощения электромагнитных волн дефектом (вибратором) при частотах, соответствующих основной собственной частоте Ч1 и гармоникам высшего порядка, в области дефекта выделяется избыточное количество энергии, в конечном счете превращающейся в тепло, что и обеспечивает ряд максимумов. По значению частоты V> можно по известным формулам, описывающим резонансное поглощение электромагнитных волн, определить размер дефекта.

Пример. Проводят тепловую дефектоскопию резиновых пластин с внутренними 15 дефектами типа инородных включений стружек меди. Каждур пластину помещают в электромагнитное поле, создаваемое высокочастотным генератором, изменяют частоту электромагнитного поля и одновременно регистрируют ряд максимумов зависимости величины перепада температуры поверхности изделия в области внутренних дефектов от частоты электромагнитного поля. По значению наибольшей из частот электромагнитного поля, при которой опре- г5 деляется максимум, т. е. по величине

V> — — 4,16 ГГц, с помощью известной резонансной формулы для вибратора 1=с 2V,Е,, где с — скорость света; Я вЂ” диэлектрическая проницаемость материала изделия, определяют размер медной стружки (ее длину)

1= 6 мм. При разрушающих испытаниях этих же резиновых пластин определяют с помощью микрометра размер стружек, причем данные разрушающих испытаний согласовывают с данными, полученными по предложенному способу, с точностью до 10 — 20 /о. При использовании известного способа оценка размеров дефектов является субъективной и погрешность оценки размеров превышает 100о/0.

Предлагаемый способ тепловой дефектоскопии изделий из диэлектрических материалов обеспечивает повышение точности определения размеров внутренних дефектов, что при его использовании позволяет современно определить степень критичности дефектов для контролируемых изделий и, тем самым, увеличить надежность и сроки эксплуатации устройств.

Способ тепловой дефектоскопии изделий из диэлектрических материалов, основанный на внутреннем нагреве изделия в электромагнитном поле и регистрации распределения температуры поверхности изделия, отличающийся тем, что с целью повышения точности определения размеров внутренних дефектов, изменяют частоту электромагнитного поля и одновременно регистрируют ряд максимумов зависимости величины перепада температуры поверхности изделия в области дефекта от частоты электромагнитного поля, и по назначению наибольшей из частот электромагнитного поля при которой определяется максимум, судят о размере дефекта.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

l. Авторское свидетельство СССР

Мв 565239, кл. G 01 N 25/72, 1974.

2. Неразрушающий контроль элементов и узлов радиоэлектронной аппаратуры.

Под ред. Б. Е. Бердичевского, М., «Советское радио», 1976, с. 130 (прототип).