Способ регистрации слоистой структуры листового стекла

 

.(72} Автор изобретения

Ь.й.Снегирев (7E) Заявитель

{S4} СПОСОВ ЩГжт АЦИИ СИОИСТОй СТ УКтя Ы

ЛИСТОВОГО СТЕКЛА

Изобретение относится,к контрольно-измерительной технике,, а именно к способам регистрации.слоис той структуры листового стекла.

Наиболее близким к изобрвтейию .по технической сущности .и достигае-.: мому результату является способ регистрации слоистой структуры ле:-. тового стекла, заключаецийся в том,": что проецируют структуру, помещенную; в кювету с иммерсионной жидкостье, на экран и регистрируют ее изображе ние на экране (1 ).

Недостаток способа - отсутствие возможности получать одновременно полную картину слоистой структуры по всей ширине ленты стекла, а. так". же невысокая точность регистрации малых нарушений непараллельности слоев.

Цель изобретения - повышение точности регистрации измерений.

Поставленная цель достигается тем, что при регистрации слоистой струк2 туры стекла кювету с структурой и .экран одновременно перемещают в плоскости, перпендикулярной световому потоку, оптически трансформируют изображение структуры на экра не, а освещение ее производят кратковременными световыми импульсами.

На чертеже изображена схема реа" лизации предлагаемого способа. Для этого используется источник

1 света:, оптяческая система 2, образец, например, слоистая структура

3, кювета .Й с иммерсионной жидкостью, трансформирующая оптическая система 5 и подвижны экран 6.

13

Способ осуществляется следующим образом.

Кювету ч с образцом, помещенным

s èèèeðñèîíHóo жидкость, располагают перпендикулярно оптической оси, импульсно, в аиде световой вспышки включают источник 1 света и регистрируют изображение структуры 3 на экра» ве k. формула изобретения

Составитель О Строганое

Текред А. Бабинец Корректор Е.Рошко о .„.Редактор О.Юрковецкая

«« «

Заказ 2119/23 Тираж 614 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

«««««««

Филиал AAA "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 91878

8 промежутках между вспышками с различными линейными скоростями кювету 4 с структурой 3 и экран б одновременно перемещают в плоскости, перпендикулярной световому лотоку. При очередной вспышке фиксируют соседний участок ленты стекла и т.д., пока не зарегистрируется полная картина слоистости всего образца.

Интервалы между вспышками подби.- щ раются таким образом, чтобы отдельйые иэображения участков структуры

3 тесно примыкали друг к другу и структура 3 регистрировалась без пропусков. Слоистая структура 3 стекла с помощью трансформирующей оптической системы 5 увеличивается при этом s направлении по толщине . ленты, т.е. поперек слоев и уменьшается по ширине ленты (едоль слоев .

Таким образом, предлагаемый способ предусматривает последовательное построение шзображвиия слоистой структуры.листовочке атекюе по всей ширине из отЮльныя изображений 5 малых ермлегаещшх друг к другу участков при обязательной трансформации картины сжатости, что обеспечивает возможность за. короткое время

4 получить полную картину слоистой структуры для листового стекла шири" ной в несколько метров и четко регистрировать нарушение параллельности слоев.

Способ регистрации слоистой струк туры листового стекла, заключающий ся в том, что проецируют структуру, ,помещенную в кювету с иммерсионной жидкостью, на экран и регистрируют ее иэображение на экране, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения точности регистрации,кювету с структурой и экран одновременно перемещают в плоскости, перпендикулярной световому потоку, оптически трансформируют изображение структуры .на экране, а освещение ее производят кратковременными световыми импульсами.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. 8.1.оегК, 61astechn. Вег. 1971, 44 N 2, р. 49.

Способ регистрации слоистой структуры листового стекла Способ регистрации слоистой структуры листового стекла 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх