Сферометр для измерения радиуса кривизны сферической поверхности и способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности

 

(72) Автор изобретения

А.В.Шалагин °, ° ° °

Специальное конструкторское бюро научного-. "" ": - .! приборостроения "Оптика" Сибирского отделения АЙ ГСР--=:-- (71) Заявитель (54) СФЕРОИЕТР ДЛЯ ИЗИЕРЕНИЯ РАДИУСА КРИВИЗНЫ

СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ И СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ

РАДИУСА:КРИВИЗНЫ. СФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к измери-тельной технике и может быть использовано при измерении. радиуса кри+ визны сферических поверхностей, Наиболее близким к изобретений техническим решением является аферометр для измерения радиуса кривизны сферической поверхности, содержащий базовую опору с контактной поверхностью, измерительный стержень со шкалой и контактной поверхностью, размещенный в центре базовой опоры, а контактные поверхности базовой опоры и стержня расположены с одной стороны, и отсчетное устройство tÖ .

Наиболее близким техническим решением к предложенному способу является способ измерения радиуса кри-. визны сферической поверхности, заключающийся в том, что последовательно накладывают сферометр на эталонную поверхность и на контро.ируемую одними контактными поверхностями базовой опоры и стержня и затем. вычисляют радиус кривизны по разности отсчетов.

° Недостатками известного сферометра являются сложность измерения и низкая производительность.

Недостатками известного .способа являются сложность измерения и низкая производительность из-за необходимости применения эталонной поверхности.

Цель изобретения - упрощение и повышение производительности измерения.

Указанная цель достигается тем, что на базовой опоре и измерительном стержне с противоположной стороны выполнены идентичные контактные поверхности, а расстояние между контактнымй поверхностями базовой опо. ры и измерительного стержня в осе20 вом направлении одинаково.

Цель согласно способу достигается тем, что сначала сферометр накладывают на контролируемую поверхность

920351

Формула изобретения принимая ее за эталонную, а затем накладывают сферометр,на эту же контролируемую поверхность, но противоположными контактными поверхностями.

На чертеже изображен сферометр, общий вид.

Сферометр содержит базовую опору

1 с контактными поверхностями

2 и 3, измерительный стержень 4 с контактными поверхностями 5 и 6 и отсчетное устройство 7.

Измерение радиуса кривизны с помощью сферометра осуществляется следующим образом.

На контролируемую сферическую. поверхность накладывают сферометр контактной поверхностье 2 базовой опоры 1. Измерительный стержень. 4 доводят его контактной поверхностью . до контролируеМой поверхности.

С отсчетного устройства 7 снимают показания. Затем накладывают сферометр на эту же контролируемую поверхность, но уже контактной поверхностью 3 базовой опоры 1. Иэмери. тельный стержень 4 доводят его контактной поверхностью 6 до контролируемой поверхности, и с отсчетного устройства 7 снимают показания.

Разность отсчетов является удвоенным значением высоты сферического сегмента контролируемой поверхности.

Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности, в котором использовано предлагаемое устройство, характеризуется следущей совокупностью действий.

Последовательно накладывают сферометр на контролируемую поверхность принимая ее за .эталонную, а затем накладывают сферометр на эту же контролируемую поверхность, но про" тивоположными контактными поверхностями,, и по разности отсчетов определяют удвоенное значение высоты сферического сегмента контролируемой поверхности.

Изобретение позволяет упростить и повысить производительность измерения;

Сферометр для измерения радиуса кривизны сферической поверхности, 1о содержащий базовую опору с контактной поверхностью, измерительный стержень со шкалой и контактной поверхностью, размещенный в центре ба. вовой опоры, а контактные поверхнос.

1 ти базовой опоры стержня расположеI ны с одной стороны; и отсчетное устройство, отличающийся тем, что, с целью упрощения и повышения производительности измерения, рв на базовой опоре и измерительном стержне с противоположной стороны выполнены идентичные контактные поверхности, а расстояние между контактными поверхностями базовой опо2S ры и измерительного стержня в осевом направлении одинаково.

2. Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности, заключающийся в том, что последовательно на;.Е кладывают сферометр на эталонную, поверхность и на контролируемую од ними контактными повеохностями базовой опоры и стержня и затем вйчисляют радиус кривизны по разности отсчетов, отличающийся тем, что сначала сферометр накладывают на контролируемую поверхность, приНимая ее за эталонную, а затем накладывают сферометр на эту же контролируемую поверхность, но противоположными контактными поверхностями.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Коломийцев Ю.В. и др. Оптические приборы для измерения линейных и угловых величин в машиностроении °

М., "Машиностроение", 1964, с. 227, фиг. 199 (прототип).

920351

Составитель В.Кравчук

Редактор О.Персиянцева Техред Т.Маточка Корректор Н.йвыдкая

Заказ 2312/37 Тираж 614 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

11303, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал Illlll "Патент", r.. Ужгород, ул. Проектная, 4