Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

 

Союз Советсиии

Социапистичесиии рес ублии

ОП ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

G 01 и 27/90 (22) Заявлено 15 ° 09.80 (2I ) 2982757/25-28 с присоединением заявки М Ъоударстееиный комитет

CCCP ло делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 07.05.82, Бюллетень Ю 17

Дата опубликования описания 07.05.82 (5Ç) УЛК 620.179..14(088. 8) В.Г. Вяхорев, В.С.Никульшин и П..0лейников

1

1 :

1 (72} Авторы изобретения (7l ) Заявитель (54) ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ

ДЕФЕКТОСКОПОВ

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии материалов и иэделий методом вихревых токов.

Известен имитатор для настройки дефектоскопов, выполненный в виде электропроводящего цилиндра, состоящего из нескольких концентрических цилиндрических слоев, а искусственный де о фект выполнен в виде сквозной прорези по крайней мере в одном из слоев (1).

Этот имитатор сложен при изготовлении искусственных дефектов с переменной глубиной залегания, поскольку имитатор необходимо изготавливать из большого числа слоев с искусственным дефектом постоянных размеров в каждом слое, что снижает точность и увеличивает трудоемкость изготовления имитатора °

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, содержащий две втулки с равным эксцентриситетом, установленных одна в другой, причем внутренняя поверхность внутренней втулки концентрична наружной поверхности наружной .втулки, а искусственные дефекты нанесены на наружную поверхность внутренней втулки (2 J.

Недостатком устройства является то, что для каждого типоразмера дефекта требуется отдельный имитатор.

Кроме того, сложно выполнить ряд идентичных углублений в тело втулки с заданной точностью, особенно при изготовлении дефектов малых размеров, что снижает точность изготовления дефектов с разной глубиной залегания, вследствие чего имитатор обладает низкой воспроизводимостью.

Цель изобретения — снижение трудоемкости изготовления в имитаторе искусственных дефектов различных типоразмеров с переменной глубиной залегания.

926586 б за Вращая втулку 3. по шкале 6 с помоой- щью указателя 7, устанавливают требуемую толщину стенки втулки 1 над искусственным дефектом 4, после чего фиксатором 9 фиксируют положение втулок. Для настройки дефектоскопа электромагнитный преобразователь !3 устанавливается над дефектом 4. ис- Предлагаемый имитатор легко реарй tO:ëèçóåòñÿ при современном уровне раэста- вития техники, прост в изготовлении, настройке и эксплуатации, обладает хорошей воспроизводимостью.

Ф 1

Формула изобретения свидетельство СССР

01 М 27/86, 1978. свидетельство СССР

01 М 29/04, 1974

1. Авторское и 739391, кл. G

2. Авторское

N 502313, кл. С (прототип) .

Поставленная цель достигается счет того, что имитатор для настр ки электромагнитных дефектоскопов содержащий две втулки с равным эк центриситетом, установленных одна в другой, а внутрення поверхность внутренней втулки концентрична на ружной поверхности наружной втулк снабжен цилиндрической втулкой с кусственными дефектами, размещенн между эксцентричными втулками и .у новленный с возможностью фиксиров ного. поворота вокруг своей оси, и указателем положения циЛиндрической втулки. 15

Для имитации дефектов в трубчатых изделиях цилиндрическая втулка вы-,. полнена электропроводной, а искусст ве нные дефекты выполнены в виде сквозных отверстий,и выемок на од- 2в ной из ее поверхностей.

На фиг. 1 показан имитатор; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг, 1.

Имитатор содержит эксцентричные втулки 1 и 2, цилиндрическую втул- уз ку 3, расположенную между эксцентричными втулками 1 и 2, искусственные дефекты 4 и 5 в виде сквозных отверстий и выемок, выполненные на цилиндрической втулке 3, шкалу 6, указате- 3в ли 7 и 8 положения цилиндрической втулки, фиксатор 9, элементы 10,и

ll крепления, винты 12.

Имитатор изготавливают следующим образом.

Во втулке 3 изготавливают искусственные дефекты требуемых типораз- меров и измеряют их. Затем устанавливают указатели дефектов по числу дефектов. Измеряют толщину втулки, . о например 1 и градуируют шкалу 6 в соответствующих единицах. Производят сборку имитатора, собирая из втулок 1-3 равнотолщинную трубку и обеспечивая при этом жесткое крепление втулок 1 и 2 между собой и возможность вращения втулки 3 относительно втулок 1 и 2.

Работают с имитатором следующим образом.

1. Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, содержащий две втулки с равным эксцентриситетом, установленные одна в другой, причем внутрення поверхность внутренней втулки концентрична наружной поверхности наружной втулки, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью снижения трудоемоксти изготовления в имитаторе искусственных дефектов различных типоразмеров с переменной глубиной их залегания, он снабжен цилиндрическои втулкой с искусственными дефектами, размещенной между эксцент ричными втулками и установленной с воэможностью фиксированного поворота .вокруг своей оси, и указателем положения цилиндрической втулки.

2. Имитатор по и. 1, о т л и ч аю шийся тем, что цилиндрическая втулка выполнена электропроводной, а искусственные дефекты выполнены в виде сквозных отверстий и выемок на одной из ее поверхностей.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

926586

Составитель А.Жигарев

Редактор А.Власенко Техред М. Надь, КорректорО.Билак

Заказ 2976/38 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх