Магнитный дефектоскоп
Союз Советских
Социвпистичесних
Респубпик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22)Заявлено 22.02 ° 79 (21) 2728589/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет
Опубликовано 30.05. 82. Бюллетень М 20
Дата опубликования описания 30.05. 82 (Si)М. Кл .
G 01 N 27/85
Государственный квинтет
СССР по делам нзобретеннй н отнрытнй (53j УДК 620.179. .14(088.8) (72) Автор изобретения
Ю.С.Гнедич (7! ) Заявитель (54) ИАГНИТНЫй ДЕФЕКТОСКОП
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано в магнитной дефектоскопии.
Известен магнитный дефектоскоп, содержащий раму, размещенный на ней магнитопровод, установленные на последнем соленоиды с переходными -плитами и эажимными бабками, В известном дефектоскопе переходные плиты выполнены с возможностью поворота вокруг оси на 180, причем о на переходных плитах установлены зажимные бабки 1,1).
При настройке дефектоскопа на различные плиты деталей,при повороте плиты необходимо снимать зажимную .бабку и поворачивать ее, что снижает возможности дефектоскопа и повышает трудоемкость испытаний.
Цель изобретения — расширение технологических возможностей путем обеспечения также и циркулярного намагничивания.
Для достижения укаэанной цели дефектоскоп снабжен направляющими, выполненными в виде двух стержней из немагнитного-материала, параллельных магнитопроводу, а одна из бабок установлена с воможностью перемещения на направляющих.
На чертеже изображена принципиаль" ная схема дефектоскопа, Дефектоскоп содержит раму 1 с о изолирующими прокладками 2, на которых смонтирован магнитопровод 3 с соленоидом 4 и 5. На соленоиде 4 установлена неподвижно зажимная бабка б, а на соленоиде 5 — переходная t5 плита 7. На раме 1 смонтирована стоика 8 ° Подвижная зажимная бабка 9 смонтирована на направляющих 10, выполненных в виде двух стержней иэ немагнитного материала, закрепленных го одним концом на стойке 8, а другимв корпусе неподвижной бабки 6. Нижняя плоскость подвижной бабки 9 образует с верхней плоскостью переходФормула изобретения
Составитель А.Бодров
Редактор М,Голаковски Техред А. Бабинец Корректор О.Билак
Заказ 3774/64 Тираж 883 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж,35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал llllll "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
3 932 ной плиты 7 зазор, достаточный для свободного прохождения бабки 9 над плитой 7, и магнитного потока с плиты 7 на бабку 9. Между стойкой 8 и неподвижной бабкой 6 установлен поддон 11 из немагнитопроводного материала. Подвижная бабка 9 передвигается по направляющим 10 при помощи известного винтового механизма (не показан). Направляющие 10 и поддон
11 в местах крепления на стоГ(ке 8 и неподвижной бабке 6 электроизолированы.
Дефектоскоп работает следующим образом.
В начале работы устанавливают деталь в центрах зажимных бабок 6 и 9. При продольном намагничивании включают электрический ток на катушки соленоидов 4 и 5. Образующийся магнитный поток замыкается по цепи: соленоид 5, переходная плита 7, бабка 9, контролируемая деталь, бабка 6, соленоид 4, магнитопровод 3.
При этом происходит намагничивание контролируемой детали. Деталь поливают магнитной суспензией и производят контроль..При циркулярном намагничи383 4 вании подводят ток к направляющим
10 и к неподвижной бабке 6, при этом через деталь проходит электрический ток и намагничивает ее. Деталь поли% вают магнитной суспензией и производят контроль, Магнитный дефектоскоп, содержащий раму, размещенный на ней магнитопровод, установленные на последнем соленоиды с переходными плитами и за1% жимными бабками, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения технологических возможностей путем обеспечения также и циркулярного намагничивания, QH снабжен направляю?В щими, выполненными в виде двух стержней из немагнитного материала, параллельных магнитопроводу, а одна из бабок установлена с воэможностью перемещения на направляющих.
2$ Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Дефектоскоп, фирма "дп1саг", Прага, 1976 (прототип).
