Устройство для классификации полупроводниковых диодов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советсиии

Социалистические

Республик

< >960672 (61) Дополнительное к авт. свид-ву l4 443340 (22) Заявлено 20. 10. 80 (2I ) 3215892/18-21 (51) М. Кл.

G O1 и 31/26 с нрисоединением заявки №

Ркударстеенньй конитет

СССР ао делам изобретений и отеритий (23) Приоритет (53) УДК 621.382.

-2 (oee.8) Опубликовано 23.09.82. Бюллетень № 35

Дата опубликования описания 25.09.82

А. П. Баринов, Г. П. Романов и В. Е. Щепет в P<; (;QfQ3БЛЯ

I !

r(r Й:

1 (72) Авторы изобретения

БИьЛБОТБЕЛ (7I) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КЛАССИФИКАЦИИ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВ

Изобретение относится к электронной технике.

По основному авт. св. % 443340 известно устройство, содержащее схему управления, схему ориентации, схему раз5 грузки, измерительные схемы, дешифратор, триггеры и электромагниты блока сортировки, в котором схема ориентации с подключенным к ее входу резистором соединена через клеммы для подключения испытуемого диода на первой измерительной позиции с выходом генератора импульсов, вход которого подключен к схеме управления, другой вход схемы ориентации соединен с входом схемы разгрузки н со схемой управления, а выходы схемы ориентации через схемы переключения соединены с ключевыми элементами, вы-, ход которых подключен к измерительным о схемам, обеспечивает на первой позиции контроля определение положения диода относительно клемм, к которым он подключается.

Информация о положении диода подается на схему ориентации, которая с помощью схемы переключения и ключевых элементов обеспечивает подключение испытуемого диода на последующих позициях измерения к измерительным схемам в нужной полярности. Каждая иэмерительная схема контролирует определенный параметр испытуемого диода н информация с нее через схему разтрузки, дешифратор и триггеры поступает на электромагниты блока сортировки, в результате чего производится классификация испытуемых диодов, перемещак щихся с одной измерительной позиции на другую в непрерывном потоке, на грутг пы по каждому из параметров и их сортировки 1).

Недостатком известного устройства является низкая разбраковка надежности, так как не исключена возможность получения ложных результатов контроля за счет того, что схема ориентации одинаково работает как прн неконтактнровании

Э МОД диода ла позкцик ориентации, так и в сиучае ввлючения диода в обратном направлении, потому, что в обоих случаях импульс с генератора не проходит на схему ориентации. В результате этого . прк неконтактировании годного диода последний попадает в группу брака.

Белью изобретения является повышение надежности разбраковки полупроводниковых диодов. 10

Поставленная цель достигается тем, . что в устройство для классификации пролупроводниковых диодов, содержащее вхему управления, схему ориентации, схему разгрузки, измерительные схемы, 1В дешифратор, триггеры н электромагниты блока сортировки, в котором схема ориен тацик с подключенным к ее входу peaseтором соединена через клеммы для подключения испытуемого диода на первой 20 измерктельной позиции с выходом генератора импульсов, вход .которого подключен в схеме управления, другой вход схемы ориентации соединен с входом схемы разгрузки и со схемой управления, 2S а выходы схемы ориентации через схемы переключения соединены с ключевымк элементами, выход которых подключен к измерительным схемам,. введены дополнительные клеммы на первой измерительной позиции по одной на каждый вывод испытуемого диода и четырехвходовая логическая схема И, а генератор .импульсов снабжен дополнительным выхо, дом,. причем о6а выхода генератора подключены к двум основным клеммам на первой измерительной позиции, с которыми соединены также два входа четырехвходовой схемы И, два других входа которой подключены к двум дополнительным клеммам, а ее выход соединен с входом схемы ориентации.

На чертеже представлена блок-схема устройства;. на которой изображены, генератор 1 импульсов,. схема 2 управления, четырехвходовая логическая схема И 3, схема 4 с риентацик, схема 5 переключе ния, схема разгрузки, состоящая из нескольких групп регистров сдвига 6-16-Ю, измерительные схемы 7, дешифра- тор 8, триггеры 9, электромагниты блока 10 сортировки, ключевые элементы

11-14, кспытуемые диоды 15-16, клеммы для подключения испытуемого диода (измерительные позиции) 17-22.

Устройство работает следующим обЯ разом.

Диоды, подлежащие контролю, последовательно проходят измерктельные пой ф акции в непрерывном потоке с кратковременной останоэкой, необходимой для кзмереюи парамечрок, Количество иэмерительных позиций равно количеству кощролируемых параметров диодов.

Кроме того, устройство содержит дополнительно еще одну (первую) измерительную позицию, которая служит для получения информации о положении диода»

С приходом диоца 15 на первую измерительную позицию (клеммы 17 - 20) по команде, идущей. от схем 2 управле-.. ния, с выхода генератора 1 импульсов на

ai клемму 17 поступает первый положительный импульс опроса, который при наличии контактирования диода 15 с клеммами 17 - 20 проходит на все 4 входа логической схемы И 3 и выделяется на ее входных сопротивлениях (не показаны). Это вызывает появление на выходе логической схемы И 3 импульса, управляющего работой схемы 4 ориентации и схемы 5 переключения.

В случае, когда диод оказывается включенным в обратном направлении (диод. 6), то при наличии контактирования диода 16, с клеммами 17 - 20 второй положительный импульс спроса с выхода генератора 1, начинающийся после окончания первого импульса опроса, проходит на все 4 входа логической схемы

И 3. При этом на выходе схемы И,появляется соответствуюшкй управляющий импульс

В случае неконтактирования диода 15 (илк 16) с любой из клемм 17 - 20 сигнал с выхода логической схемы И отсутствует.

Информация о положении диода и налкчии контактирования на первой группе измерительных контактов подается на вход схемы 4 ориентации.

Количество, триггеров (не показано) в регистре сдвига схемы ориентации равно числу измерительных позиций плюс триггер, входы которого соединены с выходом схемы И 3 и который стоит первым в регистре. В момент передвижения диода от.одной измерительной позиции к другой на другой вход схемы 4 сриентации со схемы 2 управления поступает импульс сдвига, который переносит информацию о йоложении диода от одного триггера регистра к другому.

Каждый трютер регистра, кроме первого, управляет соответствующей схемой

5 переключенкя, которая управляет ключевыми элементами 11-14, обеспечиваюшими ориентацию диода к моменту его прихода на очередную, измерительную по-. зицию. Ориентация осуществляется в момент движения диодов в непрерывном потоке.

Информация о том, что диод не имеет контакта с клвммами на первой измерительной позиции, также переходит от одной измерительной позиции к другой с помощью регистров сдвига, и выдается на схему управления, при этом измерительные схемы 7 не производят измерения (не запускаются схемой 2 управления).

С последней. измерительной позиции (клеммы 21 и 22) диод подлежит раз= грузке. Схема 6 разгрузки состоит из нескольких групп регистров сдвига 6-1, . 6-2, их количество равно количеству измерительных схем 7, а количество регистров в каждой группе определяется количеством подгрупп на которое разбивается диапазон каждого в отдельности контролируемого параметра. На входы регистров каждой. группы поступает информация с одной из измерительных,схем 7.

Первая группа регистров содержит столько триггеров (не показано), сколько имеется измерителей, входы которых

1 соединены с соответствующими ключевыми элементами.

Каждая последующая группа регистров содержит на один триггер меньше предыдущей. Такое сочетание групп регистров сдвига необходимо для того; чтобы вместе с движением диода от одной измерительной позиции к другой двигалесь информация о каждом контролируемом параметре диодов, и при поступлении диода на последнюю измерительную позицию на выходах последних триггеров будет информация по всем контролируемым параметрам диода. Эта информация подается на вход дешифратора 8, где производктся классификация диодов по груп-пам и запоминание с помощью триггеров 9, управляющих электромагнитами блока 10 сортировки.

B случае отсутствия контакта между клеммами 17-20 и диодом, последний проходит все измерительные позиции и по команде со схемы управления выгруВ жается в отдельную группу неразбраковки.

Таким образом, использование в устройстве для классификации полупроводниковых диодов новых элементов - двух дополнительных клемм и четырехвходовой логической схемы И, а также снабжение генератора импульсов дополнительным выходом, исключает возможность попарания годных диодов в брак при неконтак > тировании диода на позиции ориентации, что значительно повышает надежность (качество) разбраковки в ycIIoaasx массового автоматизированного производства, когда наиболее реальны случаи не20 надежного контактирования.

Фор мула изобретения

Устройство для классификации полупроводниковых диодов Ilo авт. св.

М 443340, о т л к ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежности разбраковки, в него введены допол30 нительные клеммы на первой измерительной позицик по одной на каждый вывод испытуемого диода к четырехвходовая логическая схема И, а генератор импульсов снабжен дополнительным выл ходом, причем,оба выхода. генератора подключены к двум основным клеммам на первой измерительной позиции, с которыми соединены также два входа четырехвходовой схемы И, два других

40 входа которой подключены к двум дополнительным клеммам, à ее выход соединен с входом схемы ориентации.

Источники информации, 4% принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Я 443340, кл. 5 01 R 31/26, 1974.

060675

Составитель Ю. Брызгалов

Редактор H. Пушненкова - Техред К,Мыпьо Корректор Е. Рошко

Заказ 7256/52 Тираж 717 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для классификации полупроводниковых диодов Устройство для классификации полупроводниковых диодов Устройство для классификации полупроводниковых диодов Устройство для классификации полупроводниковых диодов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх