Бесконтактные испытания (G01R31/265)

G   Физика(403185)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01R     Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)
G01R31/265                     Бесконтактные испытания(15)

Способ испытаний источников вторичного электрического питания радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию импульса гамма-излучения моделирующих установок // 2745255
Изобретение относится к области электротехники, в частности к испытаниям радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию импульсного гамма-излучения. Технический результат заключается в учете влияния на выходное напряжение источника вторичного электрического питания (ИВЭП) возрастающих токов потребления подключенных блоков радиоэлектронной аппаратуры при воздействии импульсного гамма-излучения.

Способ измерения граничной частоты электролюминесценции локальных областей светоизлучающей гетероструктуры // 2725613
Изобретение относится к технике измерения динамических характеристик светодиодов и полупроводниковых светоизлучающих структур и может быть использовано для диагностики однородности светоизлучающих гетероструктур (СГС) и их характеристики по динамическим свойствам.

Метод оценки скорости поверхностной рекомбинации носителей заряда в кристаллах типа cds по тонкой (экситонной) структуре спектров фотопроводимости // 2683145
Использование: для оценки скорости поверхностной рекомбинации неравновесных носителей заряда полупроводников. Сущность изобретения заключается в том, что метод оценки скорости поверхностной рекомбинации неравновесных носителей заряда в полупроводниках типа CdS, основанный на зависимости структуры спектра фотопроводимости от величины и знака напряженности электрического поля на поверхности полупроводника, отличается тем, что скорость поверхностной рекомбинации полупроводника определяется по форме спектральной кривой фототока в области экситонных резонансов.

Способ измерения температуры активной области светодиода // 2676246
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения температуры активной области светодиода. Способ заключается в том, что через светодиод пропускают греющий ток заданной величины, излучение светодиода подается на два фотоприемника и температуру активной области светодиода определяют по изменению центральной длины волны излучения.

Способ бесконтактного определения неравномерности температурного поля в полупроводниковых источниках света // 2538070
Изобретение относится к полупроводниковой электронике, а именно к методам измерения эксплуатационных параметров полупроводниковых источников света, и может быть использовано в их производстве, как для отбраковки потенциально ненадежных источников света, так и для контроля соблюдения режимов выполнения сборочных операций.

Устройство для измерения электрофизических параметров полупроводников бесконтактным свч методом // 2430383
Изобретение относится к измерительной технике, применяемой для измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов с использованием зондирующего электромагнитного излучения сверхвысокой частоты (СВЧ), и может быть применено для определения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниковых пластинах и слитках бесконтактным СВЧ методом.

Способ определения электрофизических параметров полупроводников // 2330300
Изобретение относится к технике контроля полупроводников. .

Устройство для определения электрофизических параметров полупроводниковых пластин // 2101721
Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней). .

Устройство бесконтактного контроля вращающегося тиристорного выпрямителя бесщеточного возбудителя // 1260878
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники. .
 
.
Наверх