Способ измерения световых характеристик фотоэлектронных приборов

 

е

ОПИСАНИЕ ИЗОБР ЕТЕН И 1

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

О. Г. Храбан

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ CBETOBblX ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОЗЛЕКТРОНКЫХ ПРИБОРОВ

За»»л< (к> "1 окт><бр» 1()51 г. аа Л> "026/451(153 и а1><»»ст< ротко культуры СССР

Нзисстныс сиосооы olipc;\cлеиия световы (характеристик Фотоэлектронных приборов, согласно кoT<>j)l l)1 световой ноток, иод;)))<>ем((» )>а <1к>ток )To;(>tc(;;tcZgci(oro ириоо>и, рсгулиру Tc>I с помощью гр(цуированного c(рого кл п>а или изз>еиястся

;(!Обык иным иутсз((н<>пример, негр;>дувров»и)>)ям и;>I>)Io1t,;(>t»par)toit и. т. 11.), а и:ntcj)>toòñÿ !)т >;10)t)>i ()t (lкгго:>лемгит<>м, имс>от ряд недостатков и lic всегда да!от достаточную степень точности измерений.

С ц<. tl)IO Iti)tib>)t)(!)I)()(ТО и ll 1 tip» щения процесса измерения, предлагается использовать для измерений не эталонный фотоэлемент, а, сам исследуемый фото;->лсктроннь)й прибор. Измерение светоВЫХ IIOTOI:013 НРОИ »30;()ITCЯ ПРИ ЭТОМ ИЗмер(и и м 1:> (xo.(ного гока Фотоэлсктриче;к<>гv приоор», »;i»)i<;>i)>0<. ь которог0 от

ОС>)< II(< lili<>< .Tlt )>)>(() llj)И Г00T)3(. IС!>)ЕННО ослаб(>синим световом потоке линейный

>t;tи почти линейный характ< р.

Нри таком методе нет необходимости

t> гj) öj >!I)λí><0)I 1(липс, светово!(Пото)( мол:ио из)!си)гг! любым путем, а измере)l)f!l ))o;I;»0 производить стре;(о пп.(ми нри<>0j», Ill(т»кого 1()иl(са 70 t>(ocти, )((I!;0)( требует;я ио у< ловиям из)!грсиия.

lli> Фиг. 1 —,r показа>пя и<>риаиты схем устiil(<>8<>i; для измерения световых характеристик;ппи»Т>н(,(х или и)(г>он(их иезначит<.;п,нос отклонение от:f >f>) å »>oc T>f.

Световой поток от игто пп>ка U ((1>иг. 1) через «гиомогатс.п иый фильтр

Ф и сгрыи клип (l>, иои:ца<(т на исследу<>)п,>)! Фотоэлектронный прибор <1)ЭП, гок и нсии которого измеряется прибором I. 1><>ли пп>а систовогo лоток» и:oi()»IcT<.я в необходимых пределах псрем<.щеи>им c(j>uro клина 1 li. Число поло)кений клlп(а <к>у< .л<иь>ll>)i><тcя Il<<>i>).<).(il)»,111 количеством точек для по TpocHI исследуемой(характери тики. Нри ка;;дом no.I<>)(< HI>lf ccp0i к; ин» и > при<юру 1 л»ется д>>а от(.чета — один ири светогом потоке, ocлаоленном введением всиомогатсльног0 <1>ильтр» <1>, другой — при по> оке без «в<>де>llf)4 <1>ил(с! р». Увс.п >с;и>0 светового ноток» при отсутствии )>своз>огательного фильтра сопровождают соотв(тствснным уменыиснпем чув "ëòâltòcëü):ocò>1

ttp)>(>op» для чего к ° >)01(1). Вк.зlоч)пот . шунт 1П. (огз но ) торм(м в»ри>нту сх(м) из меренпй останется прежней, однако, кратные световые потоки получают вкл)очением сопротивления R в цепь источника света.

На <1)иг. 3 )1oI;»0;»(схема и:>мсрений в слу!а<. когда. 0»стовая zap»((Tcp)>CT;t);a фото,электрического прибора имеет в начальной части запн>. В этом случае. с целью смещения используемог0 участка в лппейну)о или почти лингйну)0 чагть характеристики, применяют дополнительный )<г го п))(к света Ul и одповр(мсино с вкл)о)а емый дополнительным < )3<;товь1м потоком.

Предмет.изобретения

1. Способ измерения световых х»рактерпстик фотоэлектронных приборов, ирп котором световой поток, пщ>адающий па

Фотокатод ис< лгдуемого прибора„регулируется с помощью градуиров»нного и< йтрал>. ного серого клин(), о т л и 1 а ющ н и с я тел(, что, с целью повьписпия точности ll упрощения процесса изм(рсK 102(53 пил, Г))адуи))ооеу у)c„l. :;á))1)0Ã)) );,чина 1ц)о" из)и|лот при ослаблен)п)х значениях светового потока и и качестве прибора с эталонной световой х))рактсристикой, )If пользуют сам исси)дусмый <1)отоалектроиный прибор, у которого ",àâèåèìîñòü выходного тока от освещенности ири атих значсtt)U)x светового потока имеет линейный или почти линейный характер.

2. Прием осуществления способа по п. 1, о т л и ч à ю шийся тем, что, с целеио смещения используемого для градуировки клипа участка световой характеристики исследуемого Фотоэлектрическогоо ириб)ор5, ))меющсй за)иб иа своем иача. и,ном участке, в линсйиу)о или почти линейную область, примеия)от дополнительный источник света, одновременно с вкгиочением готорого в измерительный прибор вводят ток, компенсирующий Фототог, вызываемый дополнительным световым потовом.

34 1027.">,", Фиг. 1

LVf

Фиг. 2 ск юп

Фиг. 3 юп

Способ измерения световых характеристик фотоэлектронных приборов Способ измерения световых характеристик фотоэлектронных приборов Способ измерения световых характеристик фотоэлектронных приборов 

 

Похожие патенты:

 // 410264

Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использовано в метрологии для поверки люксметров

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения расстояния до места повреждения оптического кабеля и, в частности, для определения расстояния до места повреждения оболочки оптического волокна, для оценки зоны повреждения кабельной линии, длины кабельной вставки
Наверх