Импульсный дефектоскоп

 

ИМПУЛЬСНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП по авт. св. СССР № , отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля , формирователь синхроимпульсов выполнен в виде последовательно соединенных усилителя огранимителя и делителя частоты, а ячейка запрета подключена своим входом к выходу усилителя ограничителя.

. СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК. Зс51) . G 01 и 27/90.

EC @ щр g

3 .

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ: "-;,"-":, Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ .

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

Fl0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 634189 . (21) 3361457/25-28

"(22) 08. 12. 81 (46) 23.04.83, Вюл. 1 15 (72) Н.А.Кшнякин, А.И.Иеркулов, А.В.Полулех и В.П,Князев (71) Куйбышевский ордена Трудового

Красного Знамени авиационный инсти" тут им. акад. С.П.Королева (53) 620.179.14(088.8) (56) 1, Авторское свидетельство СССР

N 634189, кл. 0 01 и 27/90, 1978.

ÄÄSUÄÄ1013839 . А (54) (57) ИМПУЛЬСНЪ|и ДЕФЕКТОСКОП по авт. св. СССР М 634189, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности контро" ля, формирователь синхроимпульсов выполнен в виде последовательно соединенных усилителя ограничителя и де" лителя частоты, а ячейка запрета подключена своим входом к. выходу усилителя ограничителя.

С: фФ

QO

Ci4

1 10138

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов.

По основному авт.св. Ю 634189 известен импульсный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные ячейку запрета, формирователь,.ждущий мультивибратор и резонансный кон тур с включенными в него вихретоко- 10 вым преобразователем, формирователь синхроимпульсов, подключенный парал лельно ждущему мультивибратору и индикатор сигналов, связанный параллельно с резонансным контуром . 15

Недостаток известного дефектоско па состоит в низкой чувствительно= сти контроля, что связано с незначительным изменением параметров сиг нала в паузе между двумя импульсами 20 генератора.

Цель изобретения - повышение чувствительности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что формирователь синхроимпульсов вы- 2S полнен в виде последовательно соединенных усилителя ограничителя и делителя частоты, а ячейка запрета под" ключена своим входом к выходу усили- . теля ограничителя. 30

На фиг, 1 изображена структурная схема дефектоскопа; на фиг, 2 - выходные напряжения функциональных звеньев дефектоскопа.

Дефектоскоп состоит из последовательно соединенных ячейки 1 запрета, формирователя 2, ждущего мультивибратора 3 и резонансного контура 4 с включенными в него вихретоковым преобразователем (не показан), формиро- 40 вателя синхроимпульсов, образованного последовательно соединенными усили- телем-ограничителем 5 и делителем 6

39 2 частоты, формирователь синхроимпудьсов подключен параллельно ждущему мультивибратору 3, а ячейка 1 запрета соединена своим входом с выходом усилителя-ограничителя 5, и индикатор 7 сигналов, подключенного параллельно резонансному контуру 4.

Дефектоскоп работает следующим образом.

В момент включения колебания в резонансном контуре 4 отсутствуют, вследствие чего ячейка 1 запрета .отключена и под действием запускающих импульсов формирователя 2, реализованного с помощью автоколебательного мультивибратора, на выходе ждущего мультивибратора 3 вырабатываются импульсы, возбуждающие колебания в резонансном контуре 4.

Эти колебания преобразуются формирователем синхроимпульсов. В результате в схеме возникают автоколебания на резонансной частоте колебательного контура 4, но частота возбуждающих переходный процесс импульсов в целое число раз меньше резонансной частоты колебательной системы и регулируется путем изменения коэффициента деления делителя 6 частоты, В этом случае в паузе между двумя импульсами напряжения ждущего мультивибратора 3 величина вносимого в резонансный контур напряжения " изменяется на большую величину, так как измеряется за больший промежуток времени, Предлагаемый импульсный дефек" тоскоп обладает повышенной чувствительностью контролц, так как при прочих равных условиях позволяет получать большую величину вносимых напряжений, 1013839

Составитель Il.Øêàòoâ

Редактор П.Коссей Техред Ж.Кастелевич Корректор.А.Дзятко

Заказ 3007/52 Тираж 871 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, N-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, .ул. Проектная, 4

Импульсный дефектоскоп Импульсный дефектоскоп Импульсный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх