Способ подготовки образца для исследования

 

1. СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ, включающий разрушение матрицы и удаление исследуемых частиц, отличающийся тем, что, с целью получения неразрушенных образцов высокой чистоты с размерами до 2-3 мкм, разрушение осуществляют отдельными участками по спирали с помощью алмазного индентора , при этом его грань, обращенную, к выделяемой частице, наклоняют по отношению к направлению врезания под углом 5-7°. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что удаление частиц осуществляют с помощью стеклянной нити , выполненной диаметром, соизмеримым , с размером исследуемой частицы. с SS

СОЮЗ СОВЕТСНИХ.

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

3(5D G 01 N 1 28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ASTOPCHOIVIV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

121) 3433686/12-26 (22) 05.05. 82 (46) 07.04.84. Бюл. 9 13 (72) Я.В.Гришин, И.В.Паули . и 3.Г.Файн (711 Волжский филиал Всесоюзного научно-исследовательского института абразивов и шлифования (53) 543.053(088.8) (56) 1 ° Авторское свидетельство СССР

М 142472, кл. G 01 N 1/28, 1961.

2. Авторское свидетельство СССР

М 832399, кл. G 01 N 1/28, 1979. (54 1 (5 7 1 1. СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ, включающий раэÄÄSuÄÄ108465 I рушение матрицы и удаление исследуемых частиц, отличающийся тем, что, с целью получения неразрушенных образцов .высокой чистоты с размерами до 2-3 мкм, разрушение осуществляют отдельными участками по

-спирали с помощью алмазного индентора, при этом его грань, обращенную . к выделяемой частице, наклоняют по отношению к направлению вреэания под углом 5-7.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а юшийся тем, что удаление частиц осуществляют с помощью стеклянной нити, выполненной диаметром, соизмеримым, с размером исследуемой частицы.

С2

1084651

Изобретение относится к физическим методам контроля материалов и предназначено для практического проведения химического микроаналиэа, микрорейтгеноспектрального и микрорентгеноструктурного анализов в ис- 5 следовательских лабораториях.

Известен способ отбора микрообъектов вещества путем создания импульсного разряда между электродом-пробоотборником и поверхностью образца, )О предусматривающий для повышения локальности отбора пробы с размером частиц.10-20 мкм применение пробоотборника с заостренным концом с использованием единичного разряда конденсатора малой емкости !13.

Однако такой отбор проб приводит к разрушению образца, что изменяет физико-химические свойстна исследуемого объекта.

Известен способ подготовки образца для исследования, включающий скол исследуемых частиц с полированной поверхности твердого тела и сбор этих частиц. Для повышения эффективности и точности анализа используется локальный участок поверхности, обраба-. тываемый эмульсией, скол исследуемых частиц проводят ультразвуком иод углом 43-45О (23.

Известный способ характеризуется Ç() малой локальностью выделяемых частиц, в процессе скола исследуемых частиц не контролируется тоЧность их выделения, т.е. выделяемая частица может содержать примеси окружающей ее мат- 35 рицы, что в конечном итоге влияет на результат микроаналиэа, скол исследуемых частиц ультразвуком разрушает их, что .затрудняет исследование строения (структуры 1. 40

Цель изобретения — получение неразрушенных образцов высокой чистоты с размерами до 2-3 мкм.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу подготовки образца для исследования, включающему разрушение матрицы и удаление исследуемых частиц, разрушение осуществляют отдельными участками по спирали с помощью алмазного индентора, при этом его грань, обращенную к выделяе-5О мой частице, наклоняют по отношению к направлению врезания под углом

5-7О.

Удаление частиц осуществляют с помощью стеклянной нити, выполненной диаметром, соизмеримым с размером исследуемой частицы.

Четырехгранный алмазный индентор марки НПМ затачивается путем сечения его плоскостью до образования при 60 вершине режущего ребра, параллельного основанию, длиною 15-20 мкм. Сечение производится так, чтобы двухгранный угол при режущем ребре состао вил 60-62. Заточенным индентором производится обкол матрицы вокруг выделяемой частицы (фазы) так, чтобы перпендикулярная грань индентора была обращена к выделяемой частице (фазе ). Приготовленный, таким образом, алмазный индентор обеспечивает разрушение матрицы и ее удаление беэ нарушения целостности выделяемой частицы (фазы ) потому, что грань, направленная к частице, составляет с направлением врезания угол 5-7О, что исключает возникновение тангенциальных напряжений в направлении выделяемой частицы (фазы ). При увеличении угла выше 7 нозникают значительные о тангенциальные напряжения в направлении выделяемой частицы, что может привести к ее разрушению.

При уменьшении угла врезания до нуля, возрастают тангенциальные напряжения на инденторе, что может привести к его разрушению, и н направлении матрицы, затрудняя. процесс скалывания. Операции по выделению частиц (фаз 1 на выбранном участке исследования осуществляются на микротвердомере ПМТ-3 или подобном ему оптическом приборе, позволяющем размещать образец и с ним выделяемую частицу (фазу) н различных направлениях с заданным шагом„" устанавливать алмазный индентор для обкалывания с различным нагружением в зависимости от физико-механических свойств тела.

Обкол частицы (фазы ) производится по спирали, начиная с 50-70 мкм от частицы, Радиус обкола определяется величиной допустимой эоны разрушения.

Если начальный радиус меньше 50 мкм, то при обкалывании происходит разрушение выделяемой частицы. При начальном радиусе больше 70 мкм частица загрязняется остатками материала матрицы. После полного удаления матрицы выделенная частица (фаза 1 закрепляется на конце стеклянной нити и используется для дальнейших исследований.

Предлагаемый способ подготовки образца опробован в процессе исследонания минералов и корундовых материалов.

Процесс выделения частиц (фаз) производится следующим образом.

Существующим способом приготавли-. вается полированная поверхность образца. Образец устанавливается .на прибор ПМТ-3, при увеличении 400Х выбирается участок для проведения исследований с расположенной на нем выделяемой частицей (фазой ). Нагрузка на индентор выбирается в пределах

80-150 гс, в зависимости от хрупких свойств матрицы. Обкол частицы (фазы l производится по спирали, начиная с расстояния 50-70 мкм от нее, постепечно приближаясь к частице. Операции продолжаются до полного удаления матрицы вокруг фазы. Лля изъятия час1084651

Составитель О.Поляков

Редактор Ю.Середа Техред О.Неце Корректор А.Зимокосов

Заказ 1987/37 Тираж 823 Подписное

ВНИИПИ ГосударственногО комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб. д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r.Óæãîðîä, ул.Проектная, 4 тицы (фазыt используется стеклянная нить,.толщина которой соизмерима с размерами выделямой частицы (фазы).

Легким боковым нажатием частица (фаза) выталкивается из своего ложа и закрепляется на конце нити. В таком виде частица (фаза)используется для . исследований. Крупность выделенных частиц (фаз)электрокорунда лежит в пределах от 40 мкм до 2-3 мкм.

Таким образом, выделение частиц (фаэ) обкалыванием под микроскопом с удалением сколов матрицы алмазным индентором с рабочим режущим ребром длиной 15-20 мкм обеспечивает получение неразрушенных и в чистом виде . 15 (без примесей матрицы) частиц (фаз) крупностью до 2-3 мкм, т..е. достигается поставленная цель изобретения.

Предлагаемый способ подготовки образца для исследования в отличие от известных имеет возможность однозначного выделения частицы (фазы I, так как процесс выделения производится поэтапно с постоянным контролем этого процесса под прибором ПМТ-З, позволяющим корректировать места скалывания матрицы с точностью до

1 мкм, кроме того, имеет возможность выделения частиц (фаз 1 крупностью до 2-3 мкм, что обеспечивается с одной стороны точностью прибора IINT-3 а с другой — формой специально заточенного индентора, получение выде- ленных частиц(фаз) .в неразрушенном и чистом виде (без примеси матрицы).

Все эти преимущества позволяют увеличить точность последующих ис следований, сократить объем параллельно проводимых исследований в

1,5-2 раза, что, в конечном итоге, повышает производительность исследовательских работ.

Предлагаемый способ подготовки образцов опробован в ВолжНИИАШ при выделении частиц (фаз) корундовых материалов крупностью 2-40 мкм и показал сЕбя с положительной стороны.

Способ подготовки образца для исследования Способ подготовки образца для исследования Способ подготовки образца для исследования 

 

Похожие патенты:

Батометр // 1083093

Изобретение относится к области химического машиностроения, а именно к устройствам для отбора проб сыпучих материалов, например, катализатора, из аппаратов, работающих под давлением

Изобретение относится к медицине, а именно к анатомии, топографической анатомии, патологической анатомии и может быть использовано для изучения лимфоидных узелков в тотальных анатомических препаратах макромикроскопическом поле видения в норме, в возрастном аспекте, в эксперименте и патологии

Изобретение относится к анализу экологического состояния и мониторинга окружающей среды, в частности воздушного бассейна

Изобретение относится к технике отбора проб сжатых газов и воздуха при контроле в них содержания примесей масла, влаги, окиси углерода, двуокиси углерода и других примесей преимущественно линейно-колористическим методом с использованием индикаторных трубок

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования
Изобретение относится к медицине, точнее к технике изготовления гистологических образцов различных тканей, и может быть использовано при дифференциальной диагностике патологических состояний организма

Изобретение относится к цитологии
Наверх