Микропрофилометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности

 

_#_o j1,509;

Класс 42h, 34.:

42Ь, 12„-, ССС!) (((. Ф(. .-.ф э

- фй-,з>С>

С> П ("! " ((((Н (»>1 > Я = - >(Q P Q g f j 1/) Я

К ABTQPCHON1y СВИДЕТЕЛЬСТВУ (О. В. Коломийцов

МИК ОИ1ОЕИЛОМКтО ДЛ,1 ОЦГИКИ И ИССЛКДОВАИИЯ

ЧИС О (OE aaoÆ:4 nO81 ИОССИ

1;(> 3>5 с!(7((5>(>я i!. ::» г.:I(1 Л (1(>375,57(>. 56

?13вест? i lo микро:! p0(1)!I, )0 i(0? ) bi,, (:. КО:IT;)0, I,"i чисто l ь! 00р 300TKI?

Наружной И В(;)с>рс!П(Сй !гОВС!) .НО:-TII «бс((?за(ЮТ ??ЕЭСтатОЧНОЙ раЗрЕ1((аюп(ей(силой, Iàëüâ уве-. !ll ?спием 3 с «(5)» пс,1(ВЯ GT каче;твснпÎсо

И(r,)с -OP<,,=-i, ?ii (., (O",(!3 (И;!,3 0? I(?I

OIi .(Gû3ÿo.:,! ûé ?(!(;1)опроф?(ломст!),:bl!. î,!нс!1 (Оптпчс:Ih)п с?!Сте?1((Й, Об- с??с>!иван)п,ей !?зле>-:с!>ие !Н(: с". ()Срс:!1;ио!!111! х и.;) з«с, 1<озвол яюiiill ll ППОИ330 )и i> ТÎ -:!i?>! ИЗМС() i!i!1! 1 Л (ОНПЫ ЗКИК G i(> 1(!8 )01)(1()ОТКИ

1!Я(() > ж;(b".К > ВП)Т(!Oi! П;1 :,,i .ЯМ . I Р >,! О > Г,О 5! 1(? IGВЕI! КНОС I С П С >1;1>. ТОТой О бр абоT!r.:> gO 1 5 ., >Ясса BIr110rII" (., (bI? О, ;сртсже изображена с;.ема (икропрофилометря. ,;> > П()ibli!:!T ист;) (Зк(:. 1, От.)!!жяс (я От:1,1(.: ки.

3 pi(3,1, я зя е)(д, п>1)0. одитl предвярите,lьно через ксн,я(снсопные (инзы 4. о.::.:Скт!?Вп;к) линзу 3, щель 6, и потом ?(рез объектив ко Iа(им Я . G j) 3 > и Iv >бпк >>> !) Яззеяяю?ц?!Й и>> чок на Два !÷ê I. ()и! и из !1>>>чков -(ерс.: обз>ектиз ? Прс)скт!!р) ет н3 провсряс)(у(0 псвср.,ность 10

И30(!Раж" .IИЕ П?ЕЛ(1 Н. OTP33lIB!(?l?Cb ОТ НСЕ, ЧЕРЕЗ I;>r ОИК ":1 РЯЗТС,(l(ГС!?ЬТ и,(:(СП >ПГ(Ь -1 Ю .! ):i - >1 1 °::? ОГ!", П !)03>Р) Я:1 G 1 3.! >"1;) ;!:-! (>и !103СО .> > иостьк):!Япр l3," >(T(я В Зри (сльн\ }О 1")> бx, iioTopа Gзстоl!т 113 Объектив(! 1 ", П.">3:>. bI 1 > 1! ВИНТОВО! « llew" ." I>)3 14, (5ТОО(11 П >Ч (Ië, ОТРЯЗ ВШИСЬ «Т:(С РКЯЛ(! > ) И IIPO .! (!! Те((с l(GIIlI (e(к; и с?(Стс.,((1 . Gо:.тавленю ю из п(зл Gc . åêòi(â()II (клиновой комис:((;!; 0 1: . .".СРСЗ: ". 3 ?ЕЛ7(ТЕ. !ЬН СЮ Т1)ЯП(ЦЕННАЯ, (ЬН1 !О IIP:(3 >1) П ВЬ!КЛЮ> яюп(>,10;я ц (,lп--?я 1.?Ч(с!, Io гп(нз) 1>> с пякзоннь(,III п,lo(! и,и 3(ркя.Ямl! 1., (7 ..". Якжс !10i>(I)o>GT 3 31) ит(льнмк) I !!Y0> .

I 1ð(Вьпсл 0 !(ч!1!Ой 1;и >Ii(H3j)11 !(.Ск()1! линз(. В по,!е 3()ения Ок>лl яра

ВИДИb! 13Я Сиз )Х)ЯЖСНИH IЦЕЛИ 1 iЯGТKЯ I;РОВСРЯ(МОЙ ПОЯСP. НОСТП, ;?oI . Вк :io-; н:-". и л: нзс —.!3эб1)ажен!!с пнтсрферс:и(нонны; и . Ioc, >

>?.,Ю(Ц:К ПП.С>с И "Ь .!!)ОВС>!)ЯЕ!>!.0(i .? ВЕР Ч!С)(ТИ, № 115098

БЛаГОГьаря 1/рИМС11Е:1ИЮ раЗдСЛИтЕЛЬНОЙ тра/НЕцсндаЛЬНОй ПРИЗМЫ и телескопической системы с наклонными плоскими зеркалами достигается высокая точность измерения глубины узких следов обработки.

Предмет изобретения

Микропрофилометр для оценки и исследования чистоты обработки поверхности, снабженный оптической системой для наблюде-1ия в поле зрения окуляра интерференционных полос, о тл и ч а ю щи и с я тем, что, с целью повыгдепия точности измерения глубины узких следов обработки, он снабжен установленной перед зрительной трубой дополнительной разделительной трапецеидальной призмой и телескопической системой с наклонными плос1еими зеркалами.

/ /

Комитет но делам нзооретений и открытий н1ит Совете Министров СССР

Редактоп Л. П. Ситшвкоа

Подп. к печ. 24!1 :.1 9 г.

Тираж 1675, Цена 2/ кон.

Р1афориапвоппо-издательский отдел.

0 ) 1,, м Г17 II. l. зак. 3 I/.

Гор. Алатырь типография Ъ" 2 Министерства культуры Чувашской АССР.