Способ определения времени экспозиции в электронно-лучевых приборах

Авторы патента:

Сушкин Н.Г.

H01J37/26 - электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов

Ж 117115

Класс 21g, 37

СССР

1;. f:, N31ih и !

И:" т НТНО 1 ХНИЧЕО(АЛ

ЬИЬ,ДИОТЕКА

Н. Г. Сушкин

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЭКСПОЗИЦИИ

В ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫХ ПРИБОРАХ

Заявлено 25 ноября !(!50 г. за М 438893, 26 н Гоотехнвку СССР

Изобретение относится к способам определения времени экспозиции в электронно-лучевых приборах при фотограф !poecil;HH изобретения.

Определение времени экспозиции в электронных микроскопах производится либо визуально по яркости свечения экрана, либо методом проб. Как тот, так и друтой способ приводит к непроизводительному расходованию фотоматериалов.

Цель изобретения вЂ” сократить расходование фотоматериала и упростить процесс определения времени экспозиции. Предлагаемый способ о, нован на визуальном сравнении яркости флюоресцирующего э,pa!Ia с яркостью контрольного участка того же экрана, облучаемого вспомог»тельным уг1ьтраф!!Олетозы)! Излучением, интенсивность которого предварительно проградуированя в единицах врсмс:ill экспозиции.

На че!)те>не схема: H IHo 1130бра>кенО ст1)ОЙство для засветк1, кон-..вЂ” рольного участка флюоресцирующего экрана.

В электрошюм микроскопе монтируется;сточник 1 уль-.рафиолето-!

)oI 0 HHoi)"10!IHH, .IPHH OT !(01ОРого с HO:il0!(!(10;:OРкала 2 НЯНРЯг.IIHIQTOH IQ

ЗащнщЕННЫй уЧЯСтОК 4 фЛЮОрЕСцнруЮщЕГО ЭКраНа о, На КОтсрЬШ ÏðÎIIцируется электронное изобра>кение !).

Флюоресцирующий экран светится под влиянием ультрафполетового све-.,а и это скс !е!»с зяв1!сит от и!!теис!1;Ioc H излучателя, которое р(.гулируется реостатом i; цепи накала источника. Для определения време!1и экспОзиции реостято)! накала исто. пп1кя подбирается таl(ОЙ накал, при котором яркость свечения от электронного излучения будет равна яркости свечения под влиянием ультрафиолетового света. Прибор, определяющий ток накала источника или напряжения накала, градупрустся

Iгепосредствснно в секундях экспозиции. Ъ чет 1увствите !ьпост11 (l;0 i 0», !я0TH!KB може;- производиться кяк с псмоlцью пс1)сходных коэффициентов, так и с помощью специально рассчитанных шкал.

Способ позволяет определить время экспозиции как по наиболее яр«ому участку электронного изображения, та.: и по любому другому.

Предмет изобретения

ОПЕЧАТКА

Стр.

Напечатано

Следует читать

Строка изобрагкенил

2 сверху изобретения

Комитет и >, сиам изобретений и открытий при Совете Л1ипистров СССР

Редактор Н. С. Кутафина

Гр. 97

Поди. к печ. 5.1-59 г.

Тираж 2175 Цена 25 коп, Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 п. л. Зак. 310

Т:.:пографпя Комитета по делам изобретений и открьггпп прп Совете Министров ССС1Москва Петровка, 14

Способ определения времени экспозиции в электронно-лучевых приборах, например в электронном микроскопе, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения, яркость требуемого участка электронного изображения, полученного на флюоресцирующем экране прибора, визуально сравнивают с яркостью контрольного участка того же экрана, облучаемого вспомогательным ультрафиолетовым излучением, интенсивность которого регулируют прибором, предварительно проградуированным в единицах времени экспозиции.

Линза для электронно-оптической системы // 109277

Патент 94235 // 94235

Патент 93435 // 93435

Магнитная линза для фокусировки корпускулярных лучей, преимущественно электронных и протонных микроскопов, с перемещающимися полюсными наконечниками // 93227

Патент 91280 // 91280

Объектив магнитного электронного микроскопа // 91046

Устройство для ввода и удаления объектов из вакуумного пространства // 89385

Электростатический электронный микроскоп // 79645

Электростатическая линза для электронных микроскопов // 74547

Зондирующий эмиттер для сканирующего туннельного микроскопа // 2117359

Способ и устройство для анализа состава дна углублений // 2123178

Сверхвысоковакуумная транспортная система для сканирующих зондовых микроскопов // 2158454

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия

Способ и устройство контроля и исследования поверхности внутри ядерных и термоядерных установок // 2169954

Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации

Способ получения панорамного изображения в растровом электронном микроскопе // 2181515

Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии

Устройство управления скоростью сканирования туннельного микроскопа // 2269803

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе

Наконечник держателя и сетка для электронной томографии // 2300822

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Нанотехнологический комплекс // 2308782

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники

Электронный микроскоп // 2313850

Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней

Сверхвысоковакуумная транспортная система // 2380785

Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем