Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛ ИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН () 9) (11) 169 А (я) G 01 В 21/08

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

AO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСЯОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

I: (89) 159850 DD (21) 7772166/24-28 (22) 24,11.81 (31) И Р G 01 В/227097 (32) 20.01,81. (33) 1)Р (46) 30,08.85;Бюл.М 32.(72) Дитрих Малц (DD) . (71) ФЕБ Карл Цейсс-Йена (DD) (53) 531,7 (088.8) (54) (57) 1. УСТРОЙСТВО ОБРАБОТКИ СКАНИРУЕМЫХ ОПТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ ДЛЯ

КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ, в котором имеется оптическая система для отображения сканируемых сигналов от поверхности в строку плоскости изображения, о т л и ч а ю щ е е с я. тем, что в плоскости изображения оптичес. кого сигнала находится поглощающий элемент с поглощением, возрастающим вертикально к строке,. фокусирующая оптика и фотоэлектронный принимающий элемент, на пути луча перед элементом поглощения предусмотрен свето,делитель, в плоскости изображенная разделенного луча предусмотрено фотоэлектронное приемное устройство, а для соединения принимающего элемента и сигнала, выработанного приемным устройством, и для выравнивания колебания интенсивности в плоскости изоб I ражения имеется оценивающая электроника.

1) 76169

2. Устройство по п.1, о т sr ич а ю щ е е с я тем, что в качестве..элемента поглощения имеется плата„ клинообразная в поперечном сечении с постоянным коэффициентом поглощения при одной и той же толщине .,ма териала °

3. Устройство по п.1,. о т л и— ч а ю щ е е с я тем,- что в качестве. поглощающего элемента, имеется двойной клин в форме тела с параллель- . ными боковыми сторонами„ причем пер вый клин имеет постоянный коэффициент поглощения.и второй клин .не имеет дополнительного коэффициента пог" лощения..

4. Устройство по п.1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что в качестве поглощающего элемента имеется плоскопараллельная плата.. с возрастающим коэффициентом поглощения, 5. Устройство по пп.1-4 о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что в качестве поглощающего элемента с возрастающим коэффициентом поглощения име ется поглощающий элемент со ступенчатым изменением коэффициента поглощения.

6. Устройство по пп,)-5 о т л и— чающее с я тем, что в качестве оптоэлектронного приемного устройства применяется компенсирующий элемент в плоскости изображения разделенного луча с последующей фокусирующей оптикой и фотоэлектронным принимающим устройством.

Изобретение относится K обработке оптических сканируемых сигналов, дискретно считываемых вдоль строки при непрерывном измерении перемещения фотопринимающими элементами линейки, расположенной в плоскости изображения оптических. контрольно измерительных установок, B особен ности при применении способа сечения светового луча в режиме самых различных модифякаций, для определения геометрических образцов, измерения глубин и высоты дефектных мест, для определения профиля поверхностей и допуска отклонений.

7, Устройство по п.б, о т л ич а ю щ е е с я тем, что. в качестве компенсирующего элемента имеется эквивалент поглощающего элемента, размеры, качество материала и положение которого идентичны поглощающему элементу, но при этом не имеющего дополнительного коэффициента поглощения.

8. Устройство по пп. 1 "7, о т— личающееся тем, чтовкачестве оптической системы применяются собирательная линза, последующая рассеивающая линза и вторая собирательная линза .причем задний мнимый фокус. рассеивающей линзы находится в плоскости изображения первой собирательной линзы в переднем мнимом фокусе рассеивающей линзы,, и в плоскости изображения первой собирательной линзы, передний фокус второй собирательной линзы— в переднем мнимом фокусе рассеивающей линзы и в плоскости изображения второй собирательной линзы поглощающего элемента.

9. Устройство по пп.1-8, о т л ич а ю щ е е с я тем, что для выравнивания колебаний интенсивности в оценивающей электронике имеется делительное звено, причем первый вход соединен с принимающим элементом, а второй вход — с приемным устройством 2

Устройство применяется преимущественно для дешифрации оптических дискретно считываемых сигналов в контрольно-измерительных приборах, работающих автоматически и при высокой продуктивности и надежности измерения с преимущественно аналоговыми выходными сигналами.!

О Известен способ обработки оптических сканируемых сигналов :с помощью соответствующего измерительного оку ляра, с помощью телевизионной каме., ры; ПЗС- или других детекторных мат15 риц или с помощью щелевой системы

1176169

3 совместно с фотоэлектронными приемниками.

Известно устройство для оптического измерения профиля поверхности (Акцептованная заявка М 2607800, 5 кл.Н 01 Н 35/20, 1977).. Световое пятно создается на поверхности прове ряемого объекта и через светоде литель направляется на два светочувствительных детектора.

Между одним из детекторов и линзой объекта находится экран с щелью .для экранирования той части света, которая вследствие неровности поверхности отражается косо. Оценка осуществляется с помощью частотного от суммы и разности сигналов, поступающих с детекторов, Известно устройство для оценки сканируемых оптических сигналов (Ак- 2б цептованная заявка ФРГ М 260369, кл,G 01 В 11/30, 1977 ). Световое. пятно, которое проектируется на предмет, постоянно передвигающийся вперед, отображается на фотопленку. В зависимости от профиля поверхности предмета световое пятно отклоняется и оставляет на фотопленке след, по которому можно сделать заключение о поверхности.i 30

В патенте США (Ю 4013367, кл. 356-200, 1977 ) описано устройство, в котором с помощью лазерного луча, многогранного зеркала, различных зеркал и детекторов сканируются полосками с последующей оцен.кой поверхности предметов, постоянно передвигающихся вперед. Детекторы при этом регистрируют только ту интенсивность света отраженного лазер- 40 ного луча, которая поступает с данной полосы. Однако устройства не приспособлены с высокой точностью и скоростью измерения дать .оценку .проверяемой поверхности. 45

При всех этих способах затраты на техническое исполнение и настройку относительно высоки.

Цель изобретения -состоит в том, чтобы с наименьшими затратами и вы- 5О сокой скоростью контролировать изменения положения или структуры по- верхностей, независимо от их рефлексионных и рассеивающих способностей, а такж для надежного распоз- 55 навания рода и величины отклонения.

При этом возможно применение автоматически работающих измерительных, испытательных и контрольных устройств с преимущественно аналоговой выдачей сигналов.

В основу изобретения положена задача создать устройство для обработки оптических сканируемых сигналов, причем обработка осуществляется с большой надежностью измерения. В устройстве для обработки оптических сигналов, дискретно считываемых при проверке поверхностей вдоль строки при наличии оптической системы для-отображения сканируемых сигналов поверхности в строку плоскости изображения, -в плоскости изображения оптической системы расположены поглощающий элемент с поглощением, возрастающим вертикально к строке, последующая фокусирующая оптика и фотоэлектронный принимающий элемент, при этом предусмотрено, что на пути луча перед поглощающим элементом находится светоделитель, в плоскости изображения разделенного луча— фотоэлектронное приемное устройство, а для связи принимающего элемента и сигналов, выработанных приемным устройством, и для выравнивания интенсивности в плокости изображения имеется оценивающая электроникй.

В качестве элемента поглощения применяется плата, клинообразная в поперечной сечении с постоянным коэффициентом поглощения при однойи той же толщине материала, или двойной клин, имеющий форму тела с параллельными боковыми сторонами, первый клин которого имеет постоянный коэффициент поглощения, а второй клин не имеет дополнительного коэффициента поглощения, или плоскопараллельная плата с возрастающим коэффициентом поглощения., Поглощающий элемент с возрастающим коэффициентом поглощения может бить выполнен как поглощающий элемент со ступенчатым изменением ко« эффициента поглощения.

В плоскости изображения разделенного луча с последующей фокусирующей оптикой, а также фотоэлектронном приемном устройстве в качестве фотоэлектронного приемного устройства применяют элемент компенсации.

Элемент компенсации — это эквивалент поглощающего элемента, размеры, качество материала и положение которого идентичны элементу погло1) 76) 69 щения, но не имеет дополнительного, Ф коэффициента поглощения.

В качестве оптической системы .пржменяются первая собирательная линза, последующая рассеивающая линза и вторая собирательная линза, причем задний мнимый фокус линзы рассеивания находится в плоскости изображения первой собирательной линзы в t0 переднем мнимом фокусе рассеивающей линзы, и в плоскости иэображения первой собирательной линзы, передний фокус второй собирательной лиизы - в переднем мнимом фокусе рассеивающей линзы и в плоскости изображения второй собирательной линзы поглощающего элемента.

Для выравнивания колебаний интенсивности в электронике оценки имеется звено деления, причем первый вход соединен с принимающим элементом, а второй вход — с приемным устройством.

Имеется также возможность, что строка обеспечивает пространственное и временное нанизывание светових точек.

Преимущество изобретения в том, что с помощью простых средств с боль- З0 шой точностью измерения и скоростью проверки производится измерительно технический сбор и обработка сканируемых оптических сигналов, которые несут информацию о изменении поло- 35 жения отображения строки в плоскость изображения. Применение устройства особенно целесообразно в автоматически работающих измерительно-испытательно-контрольных комплексах 40 . для обработки измерений геометрии, дефектов и поверхностных профилей.

Затраты для настройки и профилактических работ невисоки.

На фиг. 1 изображено устройство 45 обработки, оптических сканируемых сигналов в соответствии с изображением; на фиг, 2 — пример выполнения одной отображающей оптической систем, 50

Предлагаемое устройство состоит из оптической системы 1, светоделителя 2, элемента поглощения 3, фокусирующей оптики 4, фотоэлектронного принимающего элемента 5, фотоэлектрон15 ного приемного устройства 6 с элементом компенсации 7, фокусирующей оптики 8 и фотоэлектронного принимающего элемента 9, а также оценивающей электроники 10. Последняя имеет усилитель 11, один регулируемый усилитель 12 и звено деления 13. Элемент поглощения 3 расположен так что его передняя поверхность лежит в плоскости изображения оптической системы 1, На него построчно отображается сканируемый сигнал 14. Этот сигнал 14 может быть представлен:в виде световой точки или световой строки. Вследст вие изменения положения или профиля исследуемой поверхности проверяемого тела изменяется положение сигнала )4 и вместе с тем положение отображения 15 этого сигнала 14 на поглощающем элементе 3 вертикально к строке. В зависимости от величины и направления изменения положения отображения 15 сигнала 14 из-за возрастающего элемента вертикально к строке применяется интенсивность света, которая проходит через поглощающий элемент 3 и с помощью фокусирующей оптики 4 регистрируется через фотоэлектронный принимающий элемент 5, Величина выходного сигнала этого фотоэлектронного принимающего элемента 5 находится в пропорциональной зависимости от изменения положения сигнала 14, т.е. находится в функциональной связи с поглощением поглощающего элемента 3 и изменением положения сигнала 14. Если в качестве сигнала 14 применяется световая строка, то :в :таком случае регистрируется изменение положения всей световой строки, что означает регистрацию изменения геометрии проверяемого тела. При пространственном и временном нанизывании световых точек в качестве сигнала 14 воз1 можно, что будут опознаны отклоне- ния от идеальной поверхностной структуры на величину, равную диаметру световой точки. Для вырабатывания световых точек выгодно применять лазерный свет. В принципе это устройство применяется для оценки интенсивности света в форме строки или точки, информация о которой содержится в изменении положения.

В качестве элемента поглощения 3 может применяться клиновидная плата с постоянным коэффициентом поглощения при одной и той же толщине материала, двойной клин, имеющий фор11,76169 му тела с плоскопараллельными боко- . фиг.l . При этом возрастает разревыми сторонами, причем только один шающая способность устройства. Друклин имеет постоянный коэффициент, гое преимущество в том, что опти" поглощения, или плоскопараллельная 5 ческая ось одного отклоненного луплата с возрастающим коэффициентом ча лежит всегда вертикально к плопоглощения. Изменение коэффициента щади поглощающего элемента 3. поглощения может осуществляться лиОбработка сигналов осуществлясвободно выбранному функциональному . 10 ется оценивающей электроникой 10, закону. Чтобы выравнить искажение которая содержит усилитель 11 ре,выходного сигнала из-за колебаний гулируемый усили 12

1 гулируемый усилитель и делительинтенсивности сигнала 14 и получить сигнал сравнения для связи с выход- динены с выходами фотоэлектронных ным сигналом оценивающей электрони- I5 элементов 5 и 9 и с входом делительки 10, между оптической системой 1 ного звена 13. Усиленный выходной и поглощающим элементом 3 располо- сигнал фотоэлектронного принимающе жен светоделитель 2, Он рефлекти- го элемента 5 в делительном звене рует часть света на фотоэлектрон- делится на усиленный выходной сигнал фотоэлектронного принимающего элемента 9. Вследствие деления ком-, у разделенного луча а также постав- . пенсируютея колебания интенсивности. ляет сигнал сравнения; Чтобы иметь сигнала, которые вызываются колеодинаковые. оптические и электронные баниями интенсивности источ нтенсивности источника в разделенном и нераз- света или различными рефлексионныделенном луче, элементы выгодно скок" :ми или рассеивающими отношениями струировать одинаково. Исключение -исследуемой поверхности объекта. при этом представляет собой погло- : В принципе возможен также способ разщающий элемент 3, эквивалент которо- ности выходных сигналов. Но при этом а го — компенсационный элемент 7, имею-З0 "предполагается, что интенсивность щий те же размеры, качество мате- света остается постоянной. Выходриала и положение, в том же время ной сигнал делительного звена 13

1 ие имеет дополнительного коэффици- - который выдается для дальнейшей ента поглощения. обработки и регистрации, пропорциоПредставляется возможным в качест-35; нален поглощению поглощающего элеве оптической системы 1 применять мента 3 в том месте, где представле, комбинацию линз (фиг.2 ), Комбинация но отображение 15 сканируемого сигналинз состоит из первой собиратель- ла 14, и вместе с тем пропорцнона- . ной линзы 16, рассеивающей линзы 17 лен величине изменения положения, и второй собирательной линзы 18, 40 i Имеется также возможность выходной причем задний мнимый фокус рассеиваю- сигнал регулируемого усилителя 12 щей линзы 17 находится в плоскости "через сравнение с определенным посизображения первой собирательной тоянным сигналом привлечь прямо к линзы 16, передний фокус второй со- 1 регулировке коэффициента усиления бирательной линзы 18 — в переднем 45 усилителя ll, в результате чего промнимом фокусе рассеивающей линзы 17 изводится компенсация колебаний ини в плоскости иэображения второй со- тенсиЬности, а последующим делением бирательной линзы находится ногло- пренебрегают. Дпя проверки и выравщающий элемент 3. Это устройство нивания колебания параметров сигналь" имеет то преимущество, что измене- 50 ных ответвлений и ответвлений сигнание положения отображения 15 сигна- лов сравнения служит регулируемый ла 14 больше, чем в первом варианте усилитель 12.

1176169

Жив. Я

Составитель Е.Гладкова

Редактор В.Ковтун ТехредС,Мигунова Корректор Е.Рошкб

Ю

Заказ 5333/40 Тиран 651 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретеннй и открытий

113035, Москва, %-35, Раушская наб., д.4/5

М ° @ М

Филиал ППП "Патент", r.Óèrîðîä, ул.Проектная, 4

Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности Устройство обработки сканируемых оптических сигналов для контроля поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к испытательной технике для определения толщины наклепанного поверхностного слоя металлических деталей и может быть применено в процессах дробеструйного упрочнения

Изобретение относится к способу измерения толщины слоя пастообразного или тестообразного помола на движущейся поверхности и к устройству для измерения толщины слоя для реализации этого способа

Изобретение относится к области анализа металлических покрытий путем растворения микроучастка поверхности образца и может быть использовано для определения толщины и состава покрытия

Изобретение относится к средствам измерения и может быть использовано на вагоноремонтных предприятиях при комплектации колесных пар тележек грузовых вагонов

Изобретение относится к деревообрабатывающей промышленности

Изобретение относится к устройству и способу измерения толщины, в частности, для использования в установках для разливки полосы или профильной заготовки с измерительным устройством

Изобретение относится к неразрушающему контролю изолирующего покрытия и предназначено для определения его толщины и удельной теплопроводности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для дефектометрических исследований
Наверх