Способ прогнозирования индивидуальной долговечности электровакуумных приборов

 

1. Способ прогнозирования индивидуальной долговечности электровакуумных приборов путем испытания прибора в рабочем режиме в течение времени, меньшем гарантируемой долговечности прибора, с фиксацией характера изменения прогнозирующего параметра за это время и определения ожидаемой долговечности путем пересечения экстраполяционной зависимости прогнозирующего параметра от времени с границей зоны допустимых значений прогнозирующего параметра, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и точности прогноза, в качестве прогнозирующего параметра выбирают разность между рабочей температурой катода и температурой, соответствующей переходу тока основного токоприемного электрода из режима ограничения его пространственным зарядом в режим температурного ограничения, испытания проводятся в течение времени t, равного 0,5-5% от гарантируемой долговечности прибора, а экстраполяцию прогнозирующего параметра проводят в соответствии с линейной зависимостью от lgt до его предельного значения, равного нулю.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что испытательный прогон проводят при температуре ниже рабочей, определяют долговечность при испытательной температуре, а долговечность прибора при рабочей температуре вычисляют по формуле где Dp - долговечность при рабочей температуре; Du - долговечность при испытательной температуре; = 1,2104 и = 3104 для приборов с оксидными и металлопористыми катодами соответственно, град-1; Tp - рабочая температура, К; Tи - испытательная температура, К.

MM4A - Досрочное прекращение действия патента СССР или патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Дата прекращения действия патента: 05.01.2004

Извещение опубликовано: 10.07.2008        БИ: 19/2008




 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области электротехники

Изобретение относится к производству цветных кинескопов

Изобретение относится к области электронной техники

Изобретение относится к конструкциям газоразрядных трубок для исследования параметров газоразрядных ламп

Изобретение относится к области электронной техники

Изобретение относится к телевизионной технике

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх