Способ определения качества поверхности, например бумаги

 

.ив 130700

Класс 42k, 50

42К 52

ССГ.Р

Ф

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Л 172

П. В, Мелентьев и Я. М. Гриншпан

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ, НАПРИМЕР

БУМАГИ, И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА

Заявлено 21 декабря 1959 r. за No 648011/98 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене пзобрезений» М 15 за 1960 r.

Способ определения качества поверхности, например бумаги, путем освещения ее лучом света, направленным под углом к ней, и измерения интенсивности луча, отражаемого этой поверхностью, известен.

Известны устройства для определения качества поверхности, например бумаги, выполненные в виде осветителя, оптической системы для освещения направленным под углом лучом исследуемой поверхности и другой оптической системы, направляющей отражаемый от этой поверхности луч на фотоэлемент, соединенный с прибором для измере и» интенсивности луча.

По описываемому способу в отличие от известного для определения лоска и шероховатости исследуемой поверхности одновременно измеряют величину диффузной составляющей света в отражаемом луче.

Устройство для осуществления описываемого способа отличается тем, что в нем применены ирисовая диафрагма и кольцевой фотоэлемент, установленный в фокусе оптической системы позади диафрагмы; устройство снабжено соединенным с фотоэлементом измерительным прибором типа гальванометра, измеряющим шероховатость исследуемой поверхности по величине диффузной составляющей в отраженном луче света, воспринимаемом этим фотоэлементом.

На т!ЕРТЕЖЕ СХСМатн !ЕСКИ ИЗООРаЖЕНО i СТРОйСтВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕ1019 качества поверхности, например бумаги.

Лучи света от источника 1 собираются с помощтио двухлинзового конденсора 2 и проходят через ирисовую диафрагму 8, установленную в фокусе объект1ва 4. Выходящий из объектива 4 поток параллельных лучей света падает ца неподвижный плп движущийся в плоскости 5 образец бумаги, ткани или иного материала, Вследствие альбедо материала (отношение силы отраженного светг к силе света, падающего на пс№ l30700 следуемую поверхность), отличного от единицы, и наличия некоторой шероховатости отражающей исследуемой поверхности, отраженный луч, по силе интенсивности несколько меньший луча падающего, разделяется на две составляющие: зеркальную и диффузную. Если бы отражающая поверхность была абсолютно гладкой, то весь отраженный свет состоял бы из одной зеркальной составляющей; поскольку же отражающая поверхность является более или менее шероховатой, часть отраженного света получает угол отражения, не равный углу падения, и при проходе через объектив б другой оптической системы не собирается в фокусе этого объектива. Зеркальная составляющая отраженного света регистрируется фотоэлементом 7; диффузная составляющая регистрируется фотоэлементом 8, имеющим в центре отверстие для пропуска зеркальной составляющей отраженного света.

Световые потоки, падающие на оба фотоэлемента, замеряются гальванометрами 9 и 10. Ирисовая диафрагма 11, расположенная перед фотоэлементом 8, изменением своей апертуры дает возможность построения кривой рассеяния диффузной части отраженного света, Проводя исследование соотношения зеркальной и диффузной составляющих отраженного света и построив фотограммы рассеяния для эталонных сортов бумаги (или иных материалов), можно судить о качестве поверхности бумаги. Лоск поверхности бумаги определяется через ее альбсдо. За сто процентов принимается сила света, отраженного от зеркала с наружным серебрением, установленного в плоскости 5.

Шероховатость поверхности бумаги определяется долей диффузной составляющей в общем отраженном световом потоке и законом распределения рассеянного света, получаемым посредством фотограммы.

Предмет изобр етения

1. Способ определения качества поверхности, например бумаги, заключающийся в том, что исследуемую поверхность освещают направленным под углом к ней лучом света и измеряют интенсивность луча, отражаемого этой поверхностью, отличающийся тем, что, с целью определения лоска и шероховатости этой поверхности, одновременно измеряют величину диффузной составляющей света в отражаемом луче исследуемой поверхности.

2. Устройство для осуществления способа по п. 1, выполненное в виде осветителя, оптической системы для освещения направленным под углом лучом исследуемой поверхности и другой оптической системы, направляющей отражаемый от этой поверхности луч на фотоэлемент, соединенный с прибором для измерения интенсивности луча, о т л и ч а ющ ее с я тем, что в нем применены ирисовая диафрагма и кольцевой фотоэлемент, установленный в фокусе оптической системы позади диафрагмы, и оно снабжено соединенным с фотоэлементом измерительным прибором типа гальванометра, измеряющим шероховатость исследуемой поверхности по величине диффузной составляющей в отраженном луче света, воспринимаемом этим фотоэлементом.