Способ определения пространственного распределения потенциала в плоскопараллельном диэлектрике

 

Способ определения пространственного распределения потенциала в плоскопараллельном диэлектрике, заключающийся в облучении его через прозрачный для радиации заземленный электрод тяжелыми заряженными частицами с последовательно увеличивающимся пробегом R1, R2, ..., Ri, меньшим толщины образца h, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, последовательно фиксируют индуцированный в результате облучения заряд Q'1, Q'2 ... Q'i на противоположном электроде площадью S, при идентичных условиях облучения фиксируют индуцированный заряд Q1, Q2, ..., Qi на электроде незаряженного образца, а величину потенциала на глубине R1 определяют по формуле где o - электрическая постоянная; - относительная диэлектрическая проницаемость вещества.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использ.овано в репрографии, дефектоскопии

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к текстильной -промышленности, а именно к области физико-химических измерений

Изобретение относится к области электроизмерений, является дополнительным изобретением к авт.св

Изобретение относится к технике измерения электрических характеристик поляризованных диэлектриков

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для измерения напряженности импульсных электрических полей и является дополнительным к авт

Изобретение относится к технике измерения электростатических и квазистатических полей атмосферы

Изобретение относится к области электрических измерений и может быть использовано для измерения величины напряженности и определения знака направления атмосферного электрического поля, производимых с помощью флюксметров

Изобретение относится к измерениям потен1щалов и напряженности электростатических и квазистатических , полей

Изобретение относится к приборам, измеряющим электрические и электромагнитные поля
Наверх